セレン化亜鉛(ZnSe)負メニスカスレンズ、ARコーティング:8~12 µm


  • AR Coating Optimized for the 8 - 12 µm Range
  • Ideal for CO2 Laser Applications Due to Low Absorption Coefficient
  • Decreases the NA of an Optical System

LF7601-F

(Ø1")

LF7185-F

(Ø1/2")

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Please Wait
Specifications
Substrate MaterialLaser-Grade Zinc Selenidea
AR Coating Range8 - 12 μm
Reflectance over Coating
Range (Avg.)
< 1.5%
Damage Thresholdb5 J/cm2
(10.6 µm, 100 ns, 1 Hz, Ø0.478 mm)
Diameter Tolerance+0.00/-0.10
Thickness Tolerance±0.2 mm
Focal Length Tolerance±1%
Surface Quality60-40 Scratch-Dig
Spherical Surface Powerc3λ/2
Spherical Surface Irregularity
(Peak to Valley)
λ/2
Centration≤3 arcmin
Clear Aperture80% of Diameter
Design Wavelength10.6 μm
  • リンクをクリックすると基板の仕様をご覧いただけます。
  • ARコーティングによって制限。
  • Spherical Surface Power (球面度)は、平面光学素子に対する表面の平面度(Surface Flatness)と同様で、曲率を有する光学素子の表面と校正された基準面との間の偏差の指標です(特に明記しない限りは、633 nmの光源を使用)。この仕様は一般的に「surface fit」とも表記されます。

特長

  • セレン化亜鉛(ZnSe)基板
  • 8~12 μm範囲の広帯域ARコーティング
  • 焦点距離:-40 mm~-1000 mm

当社のØ12.7 mm(Ø1/2インチ)およびØ25.4 mm(Ø1インチ)セレン化亜鉛(ZnSe)負メニスカスレンズは、両面に8~12 μmスペクトル範囲に最適化された広帯域ARコーティングが施されています。このコーティングにより基板表面の反射が減少し、ARコーティング全域にわたり97%を超える透過率が得られています。詳細は、「グラフ」タブをご参照ください。

負メニスカス(凹凸)レンズは、中央が端よりも薄くなっていて光線を拡散する機能を持ち、3次の球面収差を最小限に抑える設計となっています。光の分岐に使用する場合は、球面収差を最小にするため、レンズの凸面をビームに向けてください。このレンズは別のレンズと組み合わせて焦点距離を長くし、光学アセンブリのNA(開口数)を小さくする用途によく使われます。セレン化亜鉛(ZnSe)レンズは特に高出力CO2レーザでのご使用に適しています。

光学素子を取り扱う際には、必ず手袋を着用ください。特にセレン化亜鉛(ZnSe)基板の場合は、危険な材料ですので、取り扱いの際には必ずご使用ください。お客様の安全のため、手袋の着用、取り扱い後の適切な手洗いなど、すべての安全上のご注意をお守りください。セレン化亜鉛(ZnSe)の製品安全データシート(MSDS)はこちらからPDF形式でダウンロードいただけます。

使用済みのセレン化亜鉛(ZnSe)レンズを廃棄される場合には、自治体の規則に従って廃棄してください。

Selection Guide
Zinc Selenide Lenses
Other MIR Lenses
Other Spherical Singlets

Reflectance of BBAR F-CoatingClick to Enlarge
生データはこちらからご覧ください。
上のグラフは、-F反射防止コーティングの反射率の波長依存性を示しています。8~12 μmの波長範囲における平均反射率は1.5%未満です。青い網掛け領域は、ARコーティングが最適化されている波長範囲を示しています。なお、ARコーティングが対応する波長範囲以外における反射率は参考値であり、コーティングのロットによって大きく異なる場合がございますのでご了承ください。

Total Transmission of ZnSeClick to Enlarge
生データはこちらからご覧ください。
上のグラフは、ARコーティング付きセレン化亜鉛(ZnSe)両凸レンズの透過率の測定値です。青い網掛け領域は、ARコーティングが最適化されている波長範囲8~12 μmを示しています。この波長範囲における透過率は97%以上です。なお、ARコーティングが対応する波長範囲以外における透過率は参考値であり、コーティングのロットによって大きく異なる場合がございますのでご了承ください。

Damage Threshold Specifications
Coating Designation
(Item # Suffix)
Damage Threshold
-F5 J/cm2 (10.6 µm, 100 ns, 1 Hz, Ø0.478 mm)

当社のFコーティング付きZnSeレンズの損傷閾値データ

右の仕様は、当社のFコーティング付きZnSeレンズの損傷閾値の測定データです。損傷閾値の仕様はレンズのサイズや焦点距離にかかわらず全てのFコーティング付きZnSeレンズで同じです。

 

レーザによる損傷閾値について

このチュートリアルでは、レーザ損傷閾値がどのように測定され、使用する用途に適切な光学素子の決定にその値をどのようにご利用いただけるかを総括しています。お客様のアプリケーションにおいて、光学素子を選択する際、光学素子のレーザによる損傷閾値(Laser Induced Damage Threshold :LIDT)を知ることが重要です。光学素子のLIDTはお客様が使用するレーザの種類に大きく依存します。連続(CW)レーザは、通常、吸収(コーティングまたは基板における)によって発生する熱によって損傷を引き起こします。一方、パルスレーザは熱的損傷が起こる前に、光学素子の格子構造から電子が引き剥がされることによって損傷を受けます。ここで示すガイドラインは、室温で新品の光学素子を前提としています(つまり、スクラッチ&ディグ仕様内、表面の汚染がないなど)。光学素子の表面に塵などの粒子が付くと、低い閾値で損傷を受ける可能性があります。そのため、光学素子の表面をきれいで埃のない状態に保つことをお勧めします。光学素子のクリーニングについては「光学素子クリーニングチュートリアル」をご参照ください。

テスト方法

当社のLIDTテストは、ISO/DIS 11254およびISO 21254に準拠しています。

初めに、低パワー/エネルギのビームを光学素子に入射します。その光学素子の10ヶ所に1回ずつ、設定した時間(CW)またはパルス数(決められたprf)、レーザを照射します。レーザを照射した後、倍率約100倍の顕微鏡を用いた検査で確認し、すべての確認できる損傷を調べます。特定のパワー/エネルギで損傷のあった場所の数を記録します。次に、そのパワー/エネルギを増やすか減らすかして、光学素子にさらに10ヶ所レーザを照射します。このプロセスを損傷が観測されるまで繰返します。損傷閾値は、光学素子が損傷に耐える、損傷が起こらない最大のパワー/エネルギになります。1つのミラーBB1-E02の試験結果は以下のようなヒストグラムになります。

LIDT metallic mirror
上の写真はアルミニウムをコーティングしたミラーでLIDTテストを終えたものです。このテストは、損傷を受ける前のレーザのエネルギは0.43 J/cm2 (1064 nm、10 ns pulse、 10 Hz、Ø1.000 mm)でした。
LIDT BB1-E02
Example Test Data
Fluence# of Tested LocationsLocations with DamageLocations Without Damage
1.50 J/cm210010
1.75 J/cm210010
2.00 J/cm210010
2.25 J/cm21019
3.00 J/cm21019
5.00 J/cm21091

試験結果によれば、ミラーの損傷閾値は 2.00 J/cm2 (532 nm、10 ns pulse、10 Hz、 Ø0.803 mm)でした。尚、汚れや汚染によって光学素子の損傷閾値は大幅に低減されるため、こちらの試験はクリーンな光学素子で行っています。また、特定のロットのコーティングに対してのみ試験を行った結果ではありますが、当社の損傷閾値の仕様は様々な因子を考慮して、実測した値よりも低めに設定されており、全てのコーティングロットに対して適用されています。

CWレーザと長パルスレーザ

光学素子がCWレーザによって損傷を受けるのは、通常バルク材料がレーザのエネルギを吸収することによって引き起こされる溶解、あるいはAR(反射防止)コーティングのダメージによるものです[1]。1 µsを超える長いパルスレーザについてLIDTを論じる時は、CWレーザと同様に扱うことができます。

パルス長が1 nsと1 µs の間のときは、損傷は吸収、もしくは絶縁破壊のどちらかで発生していると考えることができます(CWとパルスのLIDT両方を調べなければなりません)。吸収は光学素子の固有特性によるものか、表面の不均一性によるものかのどちらかによって起こります。従って、LIDTは製造元の仕様以上の表面の質を有する光学素子にのみ有効です。多くの光学素子は、ハイパワーCWレーザで扱うことができる一方、アクロマティック複レンズのような接合レンズやNDフィルタのような高吸収光学素子は低いCWレーザ損傷閾値になる傾向にあります。このような低い損傷閾値は接着剤や金属コーティングにおける吸収や散乱によるものです。

Linear Power Density Scaling

線形パワー密度におけるLIDTに対するパルス長とスポットサイズ。長パルス~CWでは線形パワー密度はスポットサイズにかかわらず一定です。 このグラフの出典は[1]です。

Intensity Distribution

繰返し周波数(prf)の高いパルスレーザは、光学素子に熱的損傷も引き起こします。この場合は吸収や熱拡散率のような因子が深く関係しており、残念ながらprfの高いレーザが熱的影響によって光学素子に損傷を引き起こす場合の信頼性のあるLIDTを求める方法は確立されておりません。prfの大きいビームでは、平均出力およびピークパワーの両方を等しいCW出力と比較する必要があります。また、非常に透過率の高い材料では、prfが上昇してもLIDTの減少は皆無かそれに近くなります。

ある光学素子の固有のCWレーザの損傷閾値を使う場合には、以下のことを知る必要があります。

  1. レーザの波長
  2. ビーム径(1/e2)
  3. ビームのおおよその強度プロファイル(ガウシアン型など)
  4. レーザのパワー密度(トータルパワーをビームの強度が1/e2の範囲の面積で割ったもの)

ビームのパワー密度はW/cmの単位で計算します。この条件下では、出力密度はスポットサイズとは無関係になります。つまり、スポットサイズの変化に合わせてLIDTを計算し直す必要がありません(右グラフ参照)。平均線形パワー密度は、下の計算式で算出できます。

ここでは、ビーム強度プロファイルは一定であると仮定しています。次に、ビームがホットスポット、または他の不均一な強度プロファイルの場合を考慮して、おおよその最大パワー密度を計算する必要があります。ご参考までに、ガウシアンビームのときはビームの強度が1/e2の2倍のパワー密度を有します(右下図参照)。

次に、光学素子のLIDTの仕様の最大パワー密度を比較しましょう。損傷閾値の測定波長が光学素子に使用する波長と異なっている場合には、その損傷閾値は適宜補正が必要です。おおよその目安として参考にできるのは、損傷閾値は波長に対して比例関係であるということです。短い波長で使う場合、損傷閾値は低下します(つまり、1310 nmで10 W/cmのLIDTならば、655 nmでは5 W/cmと見積もります)。

CW Wavelength Scaling

この目安は一般的な傾向ですが、LIDTと波長の関係を定量的に示すものではありません。例えば、CW用途では、損傷はコーティングや基板の吸収によってより大きく変化し、必ずしも一般的な傾向通りとはなりません。上記の傾向はLIDT値の目安として参考にしていただけますが、LIDTの仕様波長と異なる場合には当社までお問い合わせください。パワー密度が光学素子の補正済みLIDTよりも小さい場合、この光学素子は目的の用途にご使用いただけます。

当社のウェブ上の損傷閾値の仕様と我々が行った実際の実験の値の間にはある程度の差があります。これはロット間の違いによって発生する誤差を許容するためです。ご要求に応じて、当社は個別の情報やテスト結果の証明書を発行することもできます。損傷解析は、類似した光学素子を用いて行います(お客様の光学素子には損傷は与えません)。試験の費用や所要時間などの詳細は、当社までお問い合わせください。

パルスレーザ

先に述べたように、通常、パルスレーザはCWレーザとは異なるタイプの損傷を光学素子に引き起こします。パルスレーザは損傷を与えるほど光学素子を加熱しませんが、光学素子から電子をひきはがします。残念ながら、お客様のレーザに対して光学素子のLIDTの仕様を照らし合わせることは非常に困難です。パルスレーザのパルス幅に起因する光学素子の損傷には、複数の形態があります。以下の表中のハイライトされた列は当社の仕様のLIDT値が当てはまるパルス幅に対する概要です。

パルス幅が10-9 sより短いパルスについては、当社の仕様のLIDT値と比較することは困難です。この超短パルスでは、多光子アバランシェ電離などのさまざまなメカニクスが損傷機構の主流になります[2]。対照的に、パルス幅が10-7 sと10-4 sの間のパルスは絶縁破壊、または熱的影響により光学素子の損傷を引き起こすと考えられます。これは、光学素子がお客様の用途に適しているかどうかを決定するために、レーザービームに対してCWとパルス両方による損傷閾値を参照しなくてはならないということです。

Pulse Durationt < 10-9 s10-9 < t < 10-7 s10-7 < t < 10-4 st > 10-4 s
Damage MechanismAvalanche IonizationDielectric BreakdownDielectric Breakdown or ThermalThermal
Relevant Damage SpecificationNo Comparison (See Above)PulsedPulsed and CWCW

お客様のパルスレーザに対してLIDTを比較する際は、以下のことを確認いただくことが重要です。

Energy Density Scaling

エネルギ密度におけるLIDTに対するパルス長&スポットサイズ。短パルスでは、エネルギ密度はスポットサイズにかかわらず一定です。このグラフの出典は[1]です。

  1. レーザの波長
  2. ビームのエネルギ密度(トータルエネルギをビームの強度が1/e2の範囲の面積で割ったもの)
  3. レーザのパルス幅
  4. パルスの繰返周波数(prf)
  5. 実際に使用するビーム径(1/e2 )
  6. ビームのおおよその強度プロファイル(ガウシアン型など)

ビームのエネルギ密度はJ/cm2の単位で計算します。右のグラフは、短パルス光源には、エネルギ密度が適した測定量であることを示しています。この条件下では、エネルギ密度はスポットサイズとは無関係になります。つまり、スポットサイズの変化に合わせてLIDTを計算し直す必要がありません。ここでは、ビーム強度プロファイルは一定であると仮定しています。ここで、ビームがホットスポット、または他の不均一な強度プロファイルの場合を考慮して、おおよその最大パワー密度を計算する必要があります。ご参考までに、ガウシアンビームのときは一般にビームの強度が1/e2のときの2倍のパワー密度を有します。

次に、光学素子のLIDTの仕様と最大エネルギ密度を比較しましょう。損傷閾値の測定波長が光学素子に使用する波長と異なっている場合には、その損傷閾値は適宜補正が必要です[3]。経験則から、損傷閾値は波長に対して以下のような平方根の関係であるということです。短い波長で使う場合、損傷閾値は低下します(例えば、1064 nmで 1 J/cm2のLIDTならば、532 nmでは0.7 J/cm2と計算されます)。

Pulse Wavelength Scaling

 

波長を補正したエネルギ密度を得ました。これを以下のステップで使用します。

ビーム径は損傷閾値を比較する時にも重要です。LIDTがJ/cm2の単位で表される場合、スポットサイズとは無関係になりますが、ビームサイズが大きい場合、LIDTの不一致を引き起こす原因でもある不具合が、より明らかになる傾向があります[4]。ここで示されているデータでは、LIDTの測定には<1 mmのビーム径が用いられています。ビーム径が5 mmよりも大きい場合、前述のようにビームのサイズが大きいほど不具合の影響が大きくなるため、LIDT (J/cm2)はビーム径とは無関係にはなりません。

次に、パルス幅について補正します。パルス幅が長くなるほど、より大きなエネルギに光学素子は耐えることができます。パルス幅が1~100 nsの場合の近似式は以下のようになります。

Pulse Length Scaling

お客様のレーザのパルス幅をもとに、光学素子の補正されたLIDTを計算するのにこの計算式を使います。お客様の最大エネルギ密度が、この補正したエネルギ密度よりも小さい場合、その光学素子はお客様の用途でご使用いただけます。ご注意いただきたい点は、10-9 s と10-7 sの間のパルスにのみこの計算が使えることです。パルス幅が10-7 sと10-4 sの間の場合には、CWのLIDTも調べなければなりません。

当社のウェブ上の損傷閾値の仕様と我々が行った実際の実験の値の間にはある程度の差があります。これはロット間の違いによって発生する誤差を許容するためです。ご要求に応じて、当社では個別のテスト情報やテスト結果の証明書を発行することも可能です。詳細は、当社までお問い合わせください。


[1] R. M. Wood, Optics and Laser Tech. 29, 517 (1997).
[2] Roger M. Wood, Laser-Induced Damage of Optical Materials (Institute of Physics Publishing, Philadelphia, PA, 2003).
[3] C. W. Carr et al., Phys. Rev. Lett. 91, 127402 (2003).
[4] N. Bloembergen, Appl. Opt. 12, 661 (1973).

CXY1A in 30 mm Cage System
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30 mmケージシステムに取付けられた移動マウントCXY1Aおよび
SM1レンズチューブ
Threaded Mounting Adapter
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XY移動マウントST1XY-S(/M)に取付けられたØ25.4 mm光学素子

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固定式レンズマウントLMR1(/M)に取付けられたØ25.4 mmレンズ

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移動レンズマウントLM2XY(/M)に取付けられたØ50.8 mmレンズ
Recommended Mounting Options for Thorlabs Lenses
Item #Mounts for Ø2 mm to Ø10 mm Optics
ImperialMetric
(Various)Fixed Lens Mounts and Mini-Series Fixed Lens Mounts for Small Optics, Ø5 mm to Ø10 mm
(Various)Small Optic Adapters for Use with Standard Fixed Lens Mounts, Ø2 mm to Ø10 mm
Item #Mounts for Ø1/2" (Ø12.7 mm) Optics
ImperialMetric
LMR05LMR05/MFixed Lens Mount for Ø1/2" Optics
MLH05MLH05/MMini-Series Fixed Lens Mount for Ø1/2" Optics
LM05XYLM05XY/MTranslating Lens Mount for Ø1/2" Optics
SCP0516 mm Cage System, XY Translation Mount for Ø1/2" Optics
(Various)Ø1/2" Lens Tubes,
Optional SM05RRC Retaining Ring for High-Curvature Lenses (See Below)
Item #Mounts for Ø1" (Ø25.4 mm) Optics
ImperialMetric
LMR1LMR1/MFixed Lens Mount for Ø1" Optics
LM1XYLM1XY/MTranslating Lens Mount for Ø1" Optics
ST1XY-SST1XY-S/MTranslating Lens Mount with Micrometer Drives (Other Drives Available)
CXY1A30 mm Cage System, XY Translation Mount for Ø1" Optics
(Various)Ø1" Lens Tubes,
Optional SM1RRC Retaining Ring for High-Curvature Lenses (See Below)
Item #Mount for Ø1.5" Optics
ImperialMetric
LMR1.5LMR1.5/MFixed Lens Mount for Ø1.5" Optics
(Various)Ø1.5" Lens Tubes,
Optional SM1.5RR Retaining Ring for Ø1.5" Lens Tubes and Mounts
Item #Mounts for Ø2" (Ø50.8 mm) Optics
ImperialMetric
LMR2LMR2/MFixed Lens Mount for Ø2" Optics
LM2XYLM2XY/MTranslating Lens Mount for Ø2" Optics
CXY260 mm Cage System, XY Translation Mount for Ø2" Optics
(Various)Ø2" Lens Tubes,
Optional SM2RRC Retaining Ring for High-Curvature Lenses (See Below)
Item #Adjustable Optic Mounts
ImperialMetric
LH1LH1/MAdjustable Mount for Ø0.28" (Ø7.1 mm) to Ø1.80" (Ø45.7 mm) Optics
LH2LH2/MAdjustable Mount for Ø0.77" (Ø19.6 mm) to Ø2.28" (Ø57.9 mm) Optics
VG100VG100/MAdjustable Clamp for Ø0.5" (Ø13 mm) to Ø3.5" (Ø89 mm) Optics
SCL03SCL03/MSelf-Centering Mount for Ø0.15" (Ø3.8 mm) to Ø1.77" (Ø45.0 mm) Optics
SCL04SCL04/MSelf-Centering Mount for Ø0.15" (Ø3.8 mm) to Ø3.00" (Ø76.2 mm) Optics
LH160CLH160C/MAdjustable Mount for 60 mm Cage Systems,
Ø0.50" (Ø13 mm) to Ø2.00" (Ø50.8 mm) Optics
SCL60CSCL60C/MSelf-Centering Mount for 60 mm Cage Systems,
Ø0.15" (Ø3.8 mm) to Ø1.77" (Ø45.0 mm) Optics

 

曲率が高い光学素子の取付け

当社の固定リングはマウント無しの光学素子をレンズチューブまたは光学マウント内に固定します。リングの位置固定には対応するスパナレンチを使用します。平面光学素子や曲率が低い光学素子用には黒アルマイト製の固定リングをØ5 mm~Ø101.6 mm(Ø4インチ)まで標準品としてご用意しております。曲率が高い光学素子用には、厚みのある固定リングをØ12.7 mm(Ø1/2インチ)Ø25.4 mm(Ø1インチ)Ø50.8 mm(Ø2インチ)でご用意しております。

厚みのある固定リングは非球面レンズ、短焦点距離の平凸レンズコンデンサーレンズなど、曲率が高い光学素子の取り付けに使用します。右の動画のように通常の固定リングを曲率が高い光学素子に使用した場合、スパナレンチのガイドフランジが光学素子の表面に接触し、光学素子を傷つける可能性があります。また、スパナレンチと固定リングの間に隙間ができるため、固定リングが正しく締め付けられません。厚みのある固定リングは、スパナレンチが光学素子の表面に接触することなくレンズを固定させることができます。


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セレン化亜鉛(ZnSe)負メニスカスレンズ、Ø12.7 mm(Ø1/2インチ)

Limited Stock Icon

こちらの製品は在庫がなくなり次第、販売終了となり代替品はございません。こちらの製品をライン生産でお使いの場合は当社までお問い合わせください。

Item #DiameterFocal
Length
DiopteraRadius of
Curvature 1
Radius of
Curvature 2
Center
Thickness
Edge
Thicknessb
Back Focal
Lengthc
Reference
Drawing
LF7185-F1/2"-40.0 mm-25.010.9 mm7.6 mm3.0 mm4.3 mm-33.6 mmNegative Meniscus Lens Drawing

推奨固定マウント:LMR05/M

  • 焦点距離をメートル単位で表した時の逆数
  • エッジ厚は、面取り角(典型値45o)の起点から内側に0.2 mmの位置で測定
  • 設計波長10.6 μmで測定
+1 数量 資料 型番 - ユニバーサル規格 定価(税抜) 出荷予定日
LF7185-F Support Documentation
LF7185-FØ1/2" ZnSe Negative Meniscus Lens, f = -40.0 mm, ARC: 8-12 µm
¥58,100
7-10 Days
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セレン化亜鉛(ZnSe)負メニスカスレンズ、Ø25.4 mm(Ø1インチ)

Limited Stock Icon

こちらの製品は在庫がなくなり次第、販売終了となり代替品はございません。こちらの製品をライン生産でお使いの場合は当社までお問い合わせください。

Item #DiameterFocal
Length
DiopteraRadius of
Curvature 1
Radius of
Curvature 2
Center
Thickness
Edge
Thicknessb
Back Focal
Lengthc
Reference
Drawing
LF7601-Fd1"-50.0 mm-20.023.0 mm15.6 mm4.0 mm6.7 mm-44.9 mmNegative Meniscus Lens Drawing
LF7053-Fd1"-75.0 mm-13.321.0 mm15.5 mm4.0 mm6.3 mm-66.6 mm
LF7321-Fd1"-200.0 mm-5.057.7 mm45.9 mm4.0 mm4.4 mm-191.9 mm
LF7639-Fd1"-500.0 mm-2.0146.1 mm119.0 mm4.0 mm4.1 mm-492.0 mm
LF7589-Fd1"-750.0 mm-1.3219.6 mm179.7 mm4.0 mm4.1 mm-742.0 mm
LF7573-Fd1"-1000.0 mm-1.0293.0 mm240.5 mm4.0 mm4.1 mm-992.0 mm
  • 焦点距離をメートル単位で表した時の逆数
  • エッジ厚は、面取り角(典型値45o)の起点から内側に0.2 mmの位置で測定
  • 設計波長10.6 µmで測定
  • 推奨固定マウント: LMR1/M
+1 数量 資料 型番 - ユニバーサル規格 定価(税抜) 出荷予定日
LF7601-F Support Documentation
LF7601-FØ1" ZnSe Negative Meniscus Lens, f = -50.0 mm, ARC: 8-12 µm
¥83,977
7-10 Days
LF7053-F Support Documentation
LF7053-FØ1" ZnSe Negative Meniscus Lens, f = -75.0 mm, ARC: 8-12 µm
¥83,977
7-10 Days
LF7321-F Support Documentation
LF7321-FØ1" ZnSe Negative Meniscus Lens, f = -200.0 mm, ARC: 8-12 µm
¥83,977
7-10 Days
LF7639-F Support Documentation
LF7639-FØ1" ZnSe Negative Meniscus Lens, f = -500.0 mm, ARC: 8-12 µm
¥83,977
7-10 Days
LF7589-F Support Documentation
LF7589-FØ1"" ZnSe Negative Meniscus Lens, f = -750.0 mm, ARC: 8-12 µm
¥83,977
7-10 Days
LF7573-F Support Documentation
LF7573-FØ1" ZnSe Negative Meniscus Lens, f = -1000.0 mm, ARC: 8-12 µm
¥83,977
7-10 Days