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液晶ビームシャッタ / 可変減衰器


  • Vibration Free with Fast Shutter Switching Speeds: ≤5 ms
  • High Transmission and High Contrast Ratio
    of Visible Wavelengths (420 - 700 nm)
  • Optical Shutter and Variable Attenuator Modes

LCC1620

Liquid Crystal Optical Shutter

Application Idea

LCC1620 Optical Shutter Mounted to a
1500M-GE-TE 1.4 Megapixel Scientific
CCD Camera with an SM1A39 Adapter

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LCTF Spectrum
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シャッターヘッドLCC1620(/M)の前面。 シャッタの前面と背面には透過軸が刻印されており、SM1内ネジが付いています。
Transmission and Contrast Ratio
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上のグラフは、シャッタの透過率とコントラスト比の測定値を波長の関数として示しています。 青い領域は「仕様」タブに記載された仕様値を満たす波長範囲です。 この領域以外の性能についてはロット毎に異なり、保証はされません。 生データのファイルやその他のプロット図については、「グラフ」タブをご覧ください。
LCTF Spectrum
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液晶シャッタLCC1620(/M)の側面。シャッタの状態(STATUS)を知らせるLEDランプと電源接続部が付いています。

特長

  • 420~700 nm用液晶光シャッタならびに可変減衰器
  • 可動部の無い無振動のデバイス
  • 動作波長範囲内で平均して高い透過率(>60%)とコントラスト比(8000:1)を実現
  • シャッターモードと減衰モード
  • 高速シャッタ切替速度(シャッターモード時):
    • 開時間: 5 ms
    • 閉時間: 1 ms
  • ポストならびに30 mmケージシステムに取付可能
  • SM1ネジ加工によりレンズチューブに取付け可能

当社の液晶(LC)光シャッタ/可変減衰器には、偏光素子の間に液晶セルが組み込まれており、これにより素早く透過率を変化させ、デバイス内を伝搬する光をブロックしたり減衰したりします。 動作波長範囲は、420~700 nmです。 光シャッタLCC1620/Mは、デバイス内の光強度を高速かつ無振動(可動部がないため)で制御します。 高速な切替性能により、イメージングや精密照明の用途に適しています。 光シャッタとしてビーム光をブロック・透過するほか、可変減衰器としてもご使用になれます。 シャッターモードでは5 msで開き、1 msで閉じます(詳細は「仕様」タブをご覧ください)。 減衰モードでは、シャッタ上部のポテンショメータを使用して減衰レベルを設定します。

モードの選択はシャッタ上部のスイッチで行います。 LCC1620/Mは、シャッターモード時、機械式シャッタと同様に光を通すか完全にブロックします。 減衰モードではシャッタ上部のノブで減衰レベルを調整することにより、可変減衰器として機能します。 シャッタは、どちらのモードにおいても、上部のノブを手動で調整する方法でも、SMCコネクタを介した外部信号による方法でも制御することができます。 シャッターモードにおける外部信号は0~5 V TTL信号、減衰モードにおける外部信号は0~5 V DC信号です。 シャッタ側面にあるLEDランプ(「STATUS」と表示)は、シャッタが光を透過している間は緑色、光を完全にブロックしている間は赤色に点灯します。

この液晶シャッタは、当社のシングルブレードダイヤフラムシャッタよりも著しく速い切替速度を実現します。 また、機械式シャッタよりも高い周波数での変調が可能です。 しかし液晶セルにより波長に制限があるため、700 nm以上、または420 nm以下の波長では機械式シャッタをお使いください。 また液晶シャッタは、偏光子を使用する設計となっているため、無偏光を必要とする用途においては機械式シャッタの使用をご検討ください。

透過と偏光
液晶シャッタは、液晶セルと偏光子で構成されていることから伝搬方向の影響を受けないため、どちらの向きからでも入射可能です。 両面にはデバイスの偏光軸を示す白い線が刻印されています(上の写真をご覧ください)。 透過率を最大にするためには、入射ビームを直線偏光とし、シャッタの偏光軸にアライメントする必要があります。 なお、このシャッタから出力される光の偏光軸は、入力に対して90°回転しています。 シャッタは無偏光にも対応しますが、デバイス内に偏光子があるため、全透過率は著しく低くなります(光量の半分が最初の偏光子によってブロックされるため)。

取付けオプション
筐体の前面ならびに背面にはSM1ネジが付いており、フィルタØ25 mm~Ø25.4 mm(Ø1インチ)レンズチューブの取付けに適しています。 また、筐体の前面ならびに背面には4つのケージロッド用のタップ穴が付いており、当社の30 mmケージシステムに対応します。 シャッタは、筐体側面に2つ付いているM4タップ穴の1つを利用してポストにも取付けられます。

Item #LCC1620(/M)
Operating Wavelength Range420 - 700 nm
Transmissiona (Shutter Mode, Avg.)>60%
Contrast Ratiob (Avg.)>8000:1
Laser Damage ThresholdCWc1 W/cm (532 nm, Ø0.471 mm)
Pulsed (ns)0.1 J/cm2
Pulsed (fs)0.02 J/cm2 (532 nm, 76 Hz, 100 fs, Ø162 µm)
Clear ApertureØ20 mm
Surface Quality40-20 Scratch-Dig
Max Incidence Angle±5°
Switching Speed (in Shutter Mode)dOpening: 5 ms (Typ.)
Closing: 1 ms (Typ.)
Operating Frequency Rangee0 - 50 Hz
Wavefront Distortion≤λ/4 @ 633 nm
External InputSMC Connector, 0 - 5 V, 25 kΩ Input Impedance
Power Adapter12 VDC / 1.25 A with Power Cord
AC Power Requirements110 - 240 VAC, 47 - 63 Hz, 0.4 A
MountingTwo #8-32 (M4) Threaded Holes for Post Mounting
30 mm Cage System Compatible
Ø1" Lens Tube Compatible
Operating Temperature15 to 60 °C
Dimension (L × W × H)60 × 27 × 60 mm
(2.36" × 1.06" × 2.36")
  • 直線偏光の偏光軸をシャッタの透過軸にアライメントしている場合。
  • 平均コントラスト比は動作波長範囲内での値です。 コントラスト比は、シャッタが開いている状態の透過光と閉まっている状態の透過光の比率と定義します。
  • パワー密度はW/cmで計算してください。このパワー密度の単位(単位長さあたりのパワー)が長パルスおよびCW光源に対して最も適した測定量である理由については、「損傷閾値」タブをご覧ください。
  • シャッターモードで、EXTポートから0~5 V TTL信号を入力した時。 開時間は、TTL信号が最大TTL信号の10%まで落ち、シャッタの全透過光パワーが90%に上がるまでの時間と定義します。閉時間は、TTL信号が最大TTL信号の90%まで上がり、シャッタの全透過光パワーが10%に落ちるまでの時間と定義します。
  • シャッターモードで、0~5 V TTL信号を入力した時。 シャッタは、コントラスト比が小さくてもよければ、100 Hzよりも高い周波数で駆動可能です。

Polarization Window, Straight vs. Coiled
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上の図は、TTLパルスのタイミング(上)とシャッタの応答性(下)を表しています。

Shutter Timing Specifications
Diagram KeyaDescriptionTime (Typ.)
A-BDelay between the input pulse's rising edge at 90% and the initialization of shutter down to 90%0.65 ms
B-CFalling edge from 90% to 10%0.346 ms
A-CDelay between the input pulse's rising edge at 90% and shutter down to 10%0.416 ms
D-EDelay between the input pulse's falling edge at 10% and initialization of the shutter rise to 10%2.23 ms
E-FRising Edge from 10% to 90%3.24 ms
D-FDelay between the input pulse's falling edge at 10% and shutter rise to 90%5.47 ms
  • ポイントを示すアルファベットについては右図をご参照ください。 すべて25 °Cでの値です。25 °Cを超える温度でのタイミングについてはマニュアルをご参照ください。

下のグラフは液晶光シャッタLCC1620(/M)の測定データセットです。 すべてのデータは、直線偏光の偏光軸をシャッタの透過軸(シャッタ面に印されている白い線)にアライメントして取得されています。 コントラスト比は、シャッタが開いている状態の透過光と閉まっている状態の透過光の比率と定義します。 

Transmission at Various Wavelengths
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生データはこちらをご覧ください。
グラフは、減衰モード時におけるシャッタの透過率の測定値を、電圧の関数として示しています。 減衰させるための電圧は外部電圧によって設定されています。 様々な波長でのデータが示されています。

Transmission at Various Voltages
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生データはこちらをご覧ください。
グラフは、シャッタに外部から電圧を供給して減衰モードで使用した時の透過率の測定値を、波長の関数として示しています。 様々な電圧に対するデータが示されています。 

Transmission at Various Temperatures
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生データはこちらをご覧ください。
グラフは、シャッタの透過率の測定値を、波長の関数として示しています。 様々な温度でのデータが示されています。

Transmission at Various Angles of Incidence
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生データはこちらをご覧ください。
グラフは、シャッタの透過率の測定値を、波長の関数として示しています。 様々な入射角(AOI)でのデータが示されています。

Contrast Ratio at Various Temperatures
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生データはこちらをご覧ください。
グラフは、シャッタのコントラスト比の測定値を、波長の関数として示しています。 コントラスト比は、シャッタが開いている状態の透過光と閉まっている状態の透過光の比率と定義します。 様々な温度でのデータが示されています。

Contrast Ratio at Various Angles of Incidence
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生データはこちらをご覧ください。
グラフは、シャッタのコントラスト比の測定値を、波長の関数として示しています。 コントラスト比は、シャッタが開いている状態の透過光と閉まっている状態の透過光の比率と定義します。 様々な入射角(AOI)でのデータが示されています。

Transmission and Contrast Ratio
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生データはこちらをご覧ください。
グラフは、25 °Cで測定されたシャッタの透過率とコントラスト比を、波長の関数として示しています。 コントラスト比は、シャッタが開いている状態の透過光と閉まっている状態の透過光の比率と定義します。

Long Term Transmission Stability
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生データはこちらをご覧ください。
グラフは、20時間測定された、規格化されたシャッタの透過率を示しています。

Contrast Ratio vs Frequency
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グラフは、シャッタのコントラスト比の測定値を、周波数の関数として示しています。コントラスト比は、シャッタが開いている状態の透過光と閉まっている状態の透過光の比率と定義します。

Switching Time Stability
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上のグラフは6週間にわたる期間のシャッタの切り替え時間の安定性を示しています。

Damage Threshold Specifications
Laser TypeDamage Threshold
Pulsed (ns)0.1 J/cm2
Pulsed (fs)0.02 J/cm2 (532 nm, 76 Hz, 100 fs, Ø162 µm)
CWa1 W/cm at 532 nm, Ø0.471 mm
  • a. ビームのパワー密度はW/cmの単位で計算してください。 このパワー密度の単位(単位長さあたりのパワー)が長パルスおよびCW光源に対して最も適した測定量である理由については、下の「CWレーザと長パルスレーザ」セクションをご参照ください。

当社の液晶シャッタの損傷閾値データ

右の仕様は当社の液晶シャッタの測定値です。

 

レーザによる損傷閾値について

このチュートリアルでは、レーザ損傷閾値がどのように測定され、使用する用途に適切な光学素子の決定にその値をどのようにご利用いただけるかを総括しています。お客様のアプリケーションにおいて、光学素子を選択する際、光学素子のレーザによる損傷閾値(Laser Induced Damage Threshold :LIDT)を知ることが重要です。光学素子のLIDTはお客様が使用するレーザの種類に大きく依存します。連続(CW)レーザは、通常、吸収(コーティングまたは基板における)によって発生する熱によって損傷を引き起こします。一方、パルスレーザは熱的損傷が起こる前に、光学素子の格子構造から電子が引き剥がされることによって損傷を受けます。ここで示すガイドラインは、室温で新品の光学素子を前提としています(つまり、スクラッチ&ディグ仕様内、表面の汚染がないなど)。光学素子の表面に塵などの粒子が付くと、低い閾値で損傷を受ける可能性があります。そのため、光学素子の表面をきれいで埃のない状態に保つことをお勧めします。光学素子のクリーニングについては「光学素子クリーニングチュートリアル」をご参照ください。

テスト方法

当社のLIDTテストは、ISO/DIS 11254およびISO 21254に準拠しています。

初めに、低パワー/エネルギのビームを光学素子に入射します。その光学素子の10ヶ所に1回ずつ、設定した時間(CW)またはパルス数(決められたprf)、レーザを照射します。レーザを照射した後、倍率約100倍の顕微鏡を用いた検査で確認し、すべての確認できる損傷を調べます。特定のパワー/エネルギで損傷のあった場所の数を記録します。次に、そのパワー/エネルギを増やすか減らすかして、光学素子にさらに10ヶ所レーザを照射します。このプロセスを損傷が観測されるまで繰返します。損傷閾値は、光学素子が損傷に耐える、損傷が起こらない最大のパワー/エネルギになります。1つのミラーBB1-E02の試験結果は以下のようなヒストグラムになります。

LIDT metallic mirror
上の写真はアルミニウムをコーティングしたミラーでLIDTテストを終えたものです。このテストは、損傷を受ける前のレーザのエネルギは0.43 J/cm2 (1064 nm、10 ns pulse、 10 Hz、Ø1.000 mm)でした。
LIDT BB1-E02
Example Test Data
Fluence# of Tested LocationsLocations with DamageLocations Without Damage
1.50 J/cm210010
1.75 J/cm210010
2.00 J/cm210010
2.25 J/cm21019
3.00 J/cm21019
5.00 J/cm21091

試験結果によれば、ミラーの損傷閾値は 2.00 J/cm2 (532 nm、10 ns pulse、10 Hz、 Ø0.803 mm)でした。尚、汚れや汚染によって光学素子の損傷閾値は大幅に低減されるため、こちらの試験はクリーンな光学素子で行っています。また、特定のロットのコーティングに対してのみ試験を行った結果ではありますが、当社の損傷閾値の仕様は様々な因子を考慮して、実測した値よりも低めに設定されており、全てのコーティングロットに対して適用されています。

CWレーザと長パルスレーザ

光学素子がCWレーザによって損傷を受けるのは、通常バルク材料がレーザのエネルギを吸収することによって引き起こされる溶解、あるいはAR(反射防止)コーティングのダメージによるものです[1]。1 µsを超える長いパルスレーザについてLIDTを論じる時は、CWレーザと同様に扱うことができます。

パルス長が1 nsと1 µs の間のときは、損傷は吸収、もしくは絶縁破壊のどちらかで発生していると考えることができます(CWとパルスのLIDT両方を調べなければなりません)。吸収は光学素子の固有特性によるものか、表面の不均一性によるものかのどちらかによって起こります。従って、LIDTは製造元の仕様以上の表面の質を有する光学素子にのみ有効です。多くの光学素子は、ハイパワーCWレーザで扱うことができる一方、アクロマティック複レンズのような接合レンズやNDフィルタのような高吸収光学素子は低いCWレーザ損傷閾値になる傾向にあります。このような低い損傷閾値は接着剤や金属コーティングにおける吸収や散乱によるものです。

Linear Power Density Scaling

線形パワー密度におけるLIDTに対するパルス長とスポットサイズ。長パルス~CWでは線形パワー密度はスポットサイズにかかわらず一定です。 このグラフの出典は[1]です。

Intensity Distribution

繰返し周波数(prf)の高いパルスレーザは、光学素子に熱的損傷も引き起こします。この場合は吸収や熱拡散率のような因子が深く関係しており、残念ながらprfの高いレーザが熱的影響によって光学素子に損傷を引き起こす場合の信頼性のあるLIDTを求める方法は確立されておりません。prfの大きいビームでは、平均出力およびピークパワーの両方を等しいCW出力と比較する必要があります。また、非常に透過率の高い材料では、prfが上昇してもLIDTの減少は皆無かそれに近くなります。

ある光学素子の固有のCWレーザの損傷閾値を使う場合には、以下のことを知る必要があります。

  1. レーザの波長
  2. ビーム径(1/e2)
  3. ビームのおおよその強度プロファイル(ガウシアン型など)
  4. レーザのパワー密度(トータルパワーをビームの強度が1/e2の範囲の面積で割ったもの)

ビームのパワー密度はW/cmの単位で計算します。この条件下では、出力密度はスポットサイズとは無関係になります。つまり、スポットサイズの変化に合わせてLIDTを計算し直す必要がありません(右グラフ参照)。平均線形パワー密度は、下の計算式で算出できます。

ここでは、ビーム強度プロファイルは一定であると仮定しています。次に、ビームがホットスポット、または他の不均一な強度プロファイルの場合を考慮して、おおよその最大パワー密度を計算する必要があります。ご参考までに、ガウシアンビームのときはビームの強度が1/e2の2倍のパワー密度を有します(右下図参照)。

次に、光学素子のLIDTの仕様の最大パワー密度を比較しましょう。損傷閾値の測定波長が光学素子に使用する波長と異なっている場合には、その損傷閾値は適宜補正が必要です。おおよその目安として参考にできるのは、損傷閾値は波長に対して比例関係であるということです。短い波長で使う場合、損傷閾値は低下します(つまり、1310 nmで10 W/cmのLIDTならば、655 nmでは5 W/cmと見積もります)。

CW Wavelength Scaling

この目安は一般的な傾向ですが、LIDTと波長の関係を定量的に示すものではありません。例えば、CW用途では、損傷はコーティングや基板の吸収によってより大きく変化し、必ずしも一般的な傾向通りとはなりません。上記の傾向はLIDT値の目安として参考にしていただけますが、LIDTの仕様波長と異なる場合には当社までお問い合わせください。パワー密度が光学素子の補正済みLIDTよりも小さい場合、この光学素子は目的の用途にご使用いただけます。

当社のウェブ上の損傷閾値の仕様と我々が行った実際の実験の値の間にはある程度の差があります。これはロット間の違いによって発生する誤差を許容するためです。ご要求に応じて、当社は個別の情報やテスト結果の証明書を発行することもできます。損傷解析は、類似した光学素子を用いて行います(お客様の光学素子には損傷は与えません)。試験の費用や所要時間などの詳細は、当社までお問い合わせください。

パルスレーザ

先に述べたように、通常、パルスレーザはCWレーザとは異なるタイプの損傷を光学素子に引き起こします。パルスレーザは損傷を与えるほど光学素子を加熱しませんが、光学素子から電子をひきはがします。残念ながら、お客様のレーザに対して光学素子のLIDTの仕様を照らし合わせることは非常に困難です。パルスレーザのパルス幅に起因する光学素子の損傷には、複数の形態があります。以下の表中のハイライトされた列は当社の仕様のLIDT値が当てはまるパルス幅に対する概要です。

パルス幅が10-9 sより短いパルスについては、当社の仕様のLIDT値と比較することは困難です。この超短パルスでは、多光子アバランシェ電離などのさまざまなメカニクスが損傷機構の主流になります[2]。対照的に、パルス幅が10-7 sと10-4 sの間のパルスは絶縁破壊、または熱的影響により光学素子の損傷を引き起こすと考えられます。これは、光学素子がお客様の用途に適しているかどうかを決定するために、レーザービームに対してCWとパルス両方による損傷閾値を参照しなくてはならないということです。

Pulse Durationt < 10-9 s10-9 < t < 10-7 s10-7 < t < 10-4 st > 10-4 s
Damage MechanismAvalanche IonizationDielectric BreakdownDielectric Breakdown or ThermalThermal
Relevant Damage SpecificationN/APulsedPulsed and CWCW

お客様のパルスレーザに対してLIDTを比較する際は、以下のことを確認いただくことが重要です。

Energy Density Scaling

エネルギ密度におけるLIDTに対するパルス長&スポットサイズ。短パルスでは、エネルギ密度はスポットサイズにかかわらず一定です。このグラフの出典は[1]です。

  1. レーザの波長
  2. ビームのエネルギ密度(トータルエネルギをビームの強度が1/e2の範囲の面積で割ったもの)
  3. レーザのパルス幅
  4. パルスの繰返周波数(prf)
  5. 実際に使用するビーム径(1/e2 )
  6. ビームのおおよその強度プロファイル(ガウシアン型など)

ビームのエネルギ密度はJ/cm2の単位で計算します。右のグラフは、短パルス光源には、エネルギ密度が適した測定量であることを示しています。この条件下では、エネルギ密度はスポットサイズとは無関係になります。つまり、スポットサイズの変化に合わせてLIDTを計算し直す必要がありません。ここでは、ビーム強度プロファイルは一定であると仮定しています。ここで、ビームがホットスポット、または他の不均一な強度プロファイルの場合を考慮して、おおよその最大パワー密度を計算する必要があります。ご参考までに、ガウシアンビームのときは一般にビームの強度が1/e2のときの2倍のパワー密度を有します。

次に、光学素子のLIDTの仕様と最大エネルギ密度を比較しましょう。損傷閾値の測定波長が光学素子に使用する波長と異なっている場合には、その損傷閾値は適宜補正が必要です[3]。経験則から、損傷閾値は波長に対して以下のような平方根の関係であるということです。短い波長で使う場合、損傷閾値は低下します(例えば、1064 nmで 1 J/cm2のLIDTならば、532 nmでは0.7 J/cm2と計算されます)。

Pulse Wavelength Scaling

 

波長を補正したエネルギ密度を得ました。これを以下のステップで使用します。

ビーム径は損傷閾値を比較する時にも重要です。LIDTがJ/cm2の単位で表される場合、スポットサイズとは無関係になりますが、ビームサイズが大きい場合、LIDTの不一致を引き起こす原因でもある不具合が、より明らかになる傾向があります[4]。ここで示されているデータでは、LIDTの測定には<1 mmのビーム径が用いられています。ビーム径が5 mmよりも大きい場合、前述のようにビームのサイズが大きいほど不具合の影響が大きくなるため、LIDT (J/cm2)はビーム径とは無関係にはなりません。

次に、パルス幅について補正します。パルス幅が長くなるほど、より大きなエネルギに光学素子は耐えることができます。パルス幅が1~100 nsの場合の近似式は以下のようになります。

Pulse Length Scaling

お客様のレーザのパルス幅をもとに、光学素子の補正されたLIDTを計算するのにこの計算式を使います。お客様の最大エネルギ密度が、この補正したエネルギ密度よりも小さい場合、その光学素子はお客様の用途でご使用いただけます。ご注意いただきたい点は、10-9 s と10-7 sの間のパルスにのみこの計算が使えることです。パルス幅が10-7 sと10-4 sの間の場合には、CWのLIDTも調べなければなりません。

当社のウェブ上の損傷閾値の仕様と我々が行った実際の実験の値の間にはある程度の差があります。これはロット間の違いによって発生する誤差を許容するためです。ご要求に応じて、当社では個別のテスト情報やテスト結果の証明書を発行することも可能です。詳細は、当社までお問い合わせください。


[1] R. M. Wood, Optics and Laser Tech. 29, 517 (1997).
[2] Roger M. Wood, Laser-Induced Damage of Optical Materials (Institute of Physics Publishing, Philadelphia, PA, 2003).
[3] C. W. Carr et al., Phys. Rev. Lett. 91, 127402 (2003).
[4] N. Bloembergen, Appl. Opt. 12, 661 (1973).


Posted Comments:
mawenjin Ma  (posted 2019-06-03 09:51:02.15)
Dear tholarbs: Whether there is threshold voltage in shutter mode?Can we apply the voltage exceed 5 V in shutter mode?
YLohia  (posted 2019-06-03 03:02:08.0)
Hello, thank you for contacting Thorlabs. When operating in "Shutter Mode" we recommend the Voltage IN to be between 4.8V-5V (closed) and 0V-1V (open). We do not recommend going over the 5V max.
emilio  (posted 2017-10-28 00:15:07.55)
Wish it was available in NIR.
nbayconich  (posted 2017-11-20 08:25:24.0)
Thank you for contacting Thorlabs. We can provide customized versions of these liquid crystal shutters in NIR. I will contact you directly with more information about our custom capabilities.
Shutter Selection Guide
Shutter TypeLiquid CrystalMechanical
Single BladeDiaphragmMechanical Chopper
Sample Product Photo
(Click to Enlarge)
Modulation FrequencyUo to 50 HzContinuous: Up to 10 Hz
Burst: Up to 25 Hz
Continuous: Up to 15 Hz
Burst: Up to 50 Hz
Up to 10 kHz (Depending on Blade)
Variable AttenuationYesNoNoNo
Custom ModulationTriggered and AnalogTriggeredTriggeredControlled by Chopper Speed,
Always Periodic
100% TransmissionNoYesYesYes
100% AttenuationNoYesYesYes
Clear ApertureØ20 mmØ1/2" or Ø1"Ø1/4", Ø1/2", or Ø1"Dependent on Chopper Blade
Vibration/Noise FreeYesNoNoNo
Integration FeaturesSM1-Threaded Aperture,
30 mm Cage Compatible,
and Tap for Post Mounting
SM05- or SM1-Threaded Aperture,
30 mm Cage Compatible,
and Tap for Post Mounting
SM05- or SM1-Threaded Aperture;
Adapters for 30 mm Cage System
or Post Mounting
Stand for Chopper Wheel (Included)
+1 数量 資料 型番 - インチ規格 定価(税抜) 出荷予定日
LCC1620 Support Documentation
LCC1620Customer Inspired! 液晶シャッタ/可変減衰器、Ø20 mm、420~700 nm、#8-32タップ(インチ規格)
¥158,261
3-5 Days
+1 数量 資料 型番 - ミリ規格 定価(税抜) 出荷予定日
LCC1620/M Support Documentation
LCC1620/MCustomer Inspired! 液晶シャッタ/可変減衰器、Ø20 mm、420~700 nm、M4タップ(ミリ規格)
¥158,261
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