アカウント作成  |   ログイン

View All »Matching Part Numbers


カートは空です
         

分散測定システム


  • Rapidly Characterize Dispersion in Optical Components
  • Broadband Spectral Range: 500 - 2100 nm
  • GDD Measurement Accuracy: ±5 fs2
  • Reflection and Transmission Modes

Chromatis™ Dispersion Measurement System
(Optics and Mirror Pair Fixture Not Included)

Software Screen Showing a Detected Interferogram and Calculated Dispersion

Related Items


Please Wait

Click to Enlarge

上のグラフは光学コーティングの最適化を行う際にChromatis™分散測定システムで取得したデータ例です。1030 nmミラーがターゲットとするGCDは、1020~1050 nmの波長範囲(青い領域)にわたって-1200 fs1200 fs2 (黒い点線)です。Run1とRun2はGDDのエラーを顕著に示しています。

2013 Category of Test, Measurement, and Metrology

特長

  • 分散測定用の白色干渉計
  • 安定化ハロゲン光源からの広帯域発光
  • Ø12 mm~Ø12.7 mm(Ø1/2インチ)およびØ25 mm~Ø25.4 mm(Ø1インチ)光学素子を取り付け可能
  • 付属部品とリファレンス用光学素子を伴った標準の測定モード
    • 0°反射
    • 0°~70°透過
    • 5°~70°反射
  • ペアのミラーを反射させるための部品もご用意(詳細は当社までお問い合わせください)
  • SおよびP偏光を同時に測定
  • 波長の自己校正用にHeNe基準レーザが付属
  • 空間アライメント用に赤色および緑色の半導体レーザが付属
  • 交換用のディテクタを2種類ご用意
  • 電子回路はパネル高さ88.9 mm(3.5インチ)の2Uラックマウントに収納
  • 必要なソフトウェアがインストールされた付属のWindowsノート型パソコンで操作

用途例

  • コーティング仕様の確認
  • 光学素子の検査
  • 品質管理用の計測

当社のChromatis™分散測定システムを使用して、フェムト秒パルスレーザ用の反射型および透過型光学部品の群遅延分散(GDD)の特性評価を行うことができます。超短パルスは光学システムを伝搬するときに広がります。従って、光学素子から発生するGDDを把握して歪みを適切に補正することで、広がったパルス幅を元に戻すことができます。正確で信頼性の高い結果を得るために、Chromatis™では時間領域白色干渉計(WLI)を使用してGDDを測定します。こちらの分散測定システムには、ビームアライメント(干渉縞の最適化)の補助となり、また、時間遅延がゼロの地点(干渉縞の最大コントラスト)を発見して迅速に分散を測定するソフトウェアが付属します。

この色分散測定システムには、有効波長範囲が500~2100 nmのファイバ出力型安定化ハロゲン光源が付属します。この広帯域光源では、Ti:サファイアレーザ、イッテルビウムファイバーレーザ、エルビウムファイバーレーザ用の超短パルス光学素子の特性評価を行うことができます。インターフェログラムは時間領域で記録されるため、測定は分光計ではなく単一のフォトダイオードディテクタによって実施され、波長軸の校正は内蔵のHeNe参照レーザーが行います。システムには波長範囲500~1100 nm用のSiフォトダイオードが付属しますが、波長範囲1000~1560 nmで測定する場合にはInGaAsディテクタに簡単に交換することができます。InGaAsディテクタの詳細については当社までお問い合わせください。


Click to Enlarge

ユーザーフレンドリーなソフトウェアでは、システムによる測定手順もご覧いただけます。The Zero-Degree, 標準では、ゼロ度(Zero-Degree)反射、透過(Transmision)、角度反射(Angle)のモードがご使用いただけますが、ペアのミラーを使用した測定(Mirror Pair Measurement)もアドオンできます。詳細は当社までお問い合わせください。

通常、低分散光学素子は干渉パターン全体を捉えるのに数百フェムト秒しか必要としません。よって、必要な走査範囲と全体的なノイズを低減するために、入射光の波長範囲を光学フィルタで制限することが有効です。Chromatis™分散測定システムには光学フィルタ用のスロットが6つあり、Siフォトダイオード用に波長範囲500~700 nm、600~1000 nm、950~1100 nmのバンドパスフィルタが付属します。フィルタリングによりスキャン全体の強度が低下し、それにより干渉コントラストも低下するため、フォトダイオードにはこの損失を補正する可変ゲイン設定があります。

測定モード
白色干渉計であるChromatis™分散測定システムは、広帯域かつ低分散のビームスプリッタと2本のディレイアームで構成されています。片方のアームは精密ジグに取り付けられたテストミラーが付いており、長さは固定されています。もう一方のアームには低分散のリファレンス光学素子が付いており、時間遅延に対応するため長さの調整が可能です。2つの精密ジグのうちの1つはゼロ度の反射測定と透過測定の両方に使用され、もう一つは角度反射測定に使用されることにご注意ください。測定モードおよびリファレンス光学素子の詳細については「仕様」タブをご覧ください。ペアのミラーを使用した反射測定用の精密ジグも別途ご用意しています。このジグや、Ø12 mm~Ø12.7 mm(Ø1/2インチ)およびØ25 mm~Ø25.4 mm(Ø1インチ)以外のサイズまたは異なる形状の光学素子については当社までお問い合わせください。

お手持ちの光学素子を取り付け可能なすべてのマウントには締め付け用のつまみネジが付属するため、追加で工具をご用意いただく必要がありません。 つまみネジを使用せずに取り付けられている光学素子は、取り外したり交換したりしないようご注意ください。固定用ホイールを使用して、精密ジグの位置を固定したり取り外したりすることができます。ジグを使用しないときは、ベースプレート上の所定の位置に収納してください。

ソフトウェアインターフェイス
Chromatis™分散測定システムに付属するソフトウェアは、熟達のレベルにかかわらずどなたでも測定プロセスを進められるよう設計されています。光学素子の初期アライメントはユーザ側で行っていただく必要がありますが、ゼロ遅延位置はソフトウェアがを自動検出し、干渉パターンを記録して分散を算出します。

詳細な指示を画面で見ながら段階的な手順に従って、リファレンス光学素子またはテスト用光学素子による測定を行うことができます。例えば、干渉計を目視で簡単にアライメントできるように、調整されるべきノブを表示したり、アライメントの状態(ミスアライメント、ニアアライメント、アライメント)によって発生するフリンジをアニメーションで表示したりします。熟達したユーザ向けには、段階的な指示の表示をオフにすることもできます。

Chromatis™は、固定光学系の残留分散をすべて取り除くために工場で校正されています。それに伴い、ソフトウェアもSiおよびInGaAsディテクタに対して事前に校正されています。

当社は、Chromatis™分散測定システムをKMLabs社から引き受けました。現在、海外での販売に必要なコンプライアンスの最終調整を行っております。このページに掲載されている製品情報、データーシートおよびマニュアルは現時点での仕様です。最新の仕様を含む詳細については、当社内部の生産ラインが完成後に改めてお知らせいたします。それまでの間、Chromatis™に関するお問い合わせはこちらまでお願いいたします。

System Specifications
Group Delay Dispersion (GDD) Resolutiona± 5 fs2
PolarizationS- and P-Polarization Measured Simultaneously
Accepted Optic DiameterbØ1/2", Ø1"
Light Source Wavelength Range500 - 2100 nm
Detector Wavelength RangeSi500 - 1100 nm
InGaAsc1000 - 1650 nm
Optical Head Dimensions (L x W x H)18" x 18" x 8"
(457.2 mm x 457.2 mm x 203.2 mm)
  • 保護膜無し金ミラー校正基準で測定
  • 標準サイズ以外の光学素子を取り付ける場合は当社までご相談ください。
  • こちらのアイテムはアドオンとなります。詳細については当社までご相談ください。
Precision Fixture Specifications
FixtureMeasurement ModeAccepted Angle of Incidence (AOI)Reference Optic
Zero Degree and Transmission Zero Degree ReflectionBare Gold Mirror
Transmission0° - 70°3 mm Fused Silicaa
Angle of Incidence ReflectionAngled Reflection5° - 70°Bare Gold Mirrorb
Mirror Pairc Mirror Pair Reflection6° - 54°Two Bare Gold Mirrorsd
  • リファレンス光学素子を入射角0°で測定
  • リファレンス光学素子を入射角45°で測定
  • こちらのアイテムはアドオンとなります。詳細については当社までご相談ください。
  • リファレンス光学素子を入射角20°で測定
Support Documentation
DatasheetChromatis Datasheet
ManualChromatis Datasheet

当社は、Chromatis™群遅延分散(GDD)測定システムをKMLabs社より譲受しました。現在、海外での販売に必要なコンプライアンスの最終調整を行っております。このページに掲載されている製品情報、データーシートおよびマニュアルは現時点での仕様です。最新の仕様を含む詳細については、当社内部の生産ラインが完成後に改めてお知らせいたします。それまでの間、Chromatis™に関するお問い合わせはこちらまでお願いいたします。


Posted Comments:
SANG BONG LEE  (posted 2020-02-25 18:56:21.773)
hellow I want chromatis & acceaccessoris quote.
llamb  (posted 2020-02-26 01:25:43.0)
Thank you for your interest in Thorlabs products. We will reach out to you directly for this quote and to discuss your application. For future reference, you may reach out to Applications@thorlabs.com directly for more information on our Dispersion Measurement System.
ログイン  |   マイアカウント  |   Contacts  |   個人情報保護方針  |   ホーム  |   FAQ  |   Site Index
Regional Websites:East Coast US | West Coast US | Europe | Asia | China
Copyright © 1999-2020 Thorlabs, Inc.
Sales: +81-3-6915-7701
Tech Supports: +81-3-6915-7701


High Quality Thorlabs Logo 1000px:Save this Image