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ポリマ円偏光子


  • Produce Left- or Right-Handed Circular Polarization
  • Design Wavelengths from 405 nm to 1550 nm
  • Custom Sizes and Wavelengths Available

CP1L633

Left-Handed Circular Polarizer, 633 nm

CP1R1550

Right-Handed Circular Polarizer, 1550 nm

Application Idea 

CP1R488 Mounted in a PRM1 Precision Rotation Mount

CP1L780

Left-Handed Circular Polarizer, 780 nm

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Please Wait
Common Specificationsa
Diameter1" (25.4 mm)
Clear Aperture> 90% of Diameter
Thickness3.5 mm (0.14")
Dimensional Toleranceb±0.2 mm
Ellipticityc> 43.5°
Extinction Ratiod> 1000:1
Surface Quality60-40 Scratch-Dig
Angle of Incidence< 5°
SubstrateN-BK7e
Parallelism< 20 arcmin
  • 型番特有の仕様については下記をご覧ください。
  • 径と厚みの両方の公差
  • Ellipticity(楕円率)は楕円偏光の短軸と長軸の比のアークタンジェントとして定義されます。
  • 光が2枚の円偏光子を通る際の最大透過率と最小透過率の比です。Tmax は左回りの偏光子を2枚使用時、Tmin は左回りの偏光子と右回りの偏光子を1枚ずつ使用時に得られる値です。
  • リンクをクリックいただくと基板の詳細がご覧いただけます。

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各円偏光子の縁には入射面と偏光子(直線偏光フィルム)の透過軸を示す印が付いています。

特長

  • 任意の入射偏光から左回りまたは右回りの円偏光を生成
  • 設計波長:405 nm~1550 nm
  • 両面に広帯域ARコーティング
  • カスタム偏光子もご提供できます(「カスタム製造」のタブをご覧ください) 

こちらの円偏光子は液晶ポリマ設計です。直線偏光フィルムと1/4波長ポリマーフィルムがそれぞれN-BK7ウィンドウにラミネートされています。ラミネートされた2つ基板はその後、1/4波長フィルムのファスト軸が直線偏光フィルムの透過軸に対して45°の向きになるよう光学接着剤で接着されています。ガラス/空気界面には広帯域ARコーティングが施されています。エッジ部の矢印は直線偏光側を示しています(右の写真参照)。

こちらの偏光子はマウント時の応力に敏感です。固定リングを過度に締め付けると、応力による複屈折が光学素子に生じ、光学素子の消光比が低下する場合があります。偏光子をSM1レンズチューブまたはSM1ネジ付きマウントに固定する場合には、低応力固定リングSM1LTRRのご使用をお勧めします。

円偏光の回転方向は、光源側から見て、光軸に沿って伝搬する方向で定義します。光軸の定点において電場が時間の経過により回転する方向を意味します。「左回り」は反時計回りの回転、「右回り」は時計回りの回転です。


円偏光子は任意の偏光を円偏光に変換できます。

円偏光子は円偏光を直線偏光に変換できます。
Optic Cleaning Tutorial

下のグラフはポリマ円偏光子の透過特性を示しています。入射偏光は直線偏光フィルムの透過軸にアライメントしています。これらのグラフは透過率データのみを示しています。入射波長が偏光子の設計波長と異なる場合には、出射偏光も異なる場合があります。

円偏光子の空気/ガラス界面には350~700 nm(当社のAコーティング)、650~1100 nm(Bコーティング)または1050~1700 nm(Cコーティング)のいずれかの反射防止コーティングが施されています。この多層ARコーティングの平均反射率は、仕様の波長範囲において、0.5%未満(1面あたり)です。


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青い領域は、最良の性能が得られる仕様の波長範囲350~700 nmを示しています。

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青い領域は、最良の性能が得られる仕様の波長範囲650~1050 nmを示しています。

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青い領域は、最良の性能が得られる仕様の波長範囲1050~1700 nmを示しています。
Engraved Back of OAP
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図1: ポリマ波長板の製造ならびに試験

当社では動作波長が405 nm~1550 nmの円偏光子を多数ご用意しております。また、OEM製品やカスタム仕様の円偏光子もご要望に応じてご提供可能です。設計波長、コーティング、筐体、寸法が特有の用途ニーズに合わせてカスタマイズできます。

カスタム仕様の円偏光子の仕様や特性は、お客様から詳細を伺って設計します。設計の品質や実現可能性については分析を行い、高水準のカスタム製品がタイムリーに製造されるよう確認しています。カスタムのポリマ波長板のご注文については当社までお問い合わせください。

カスタム波長
円偏光子の設計波長は、複屈折性を示す硬化液晶ポリマの層の厚さによって決まります。この層はスピンコート技術を用いてアライメント材料の表面に塗布されるため、層の厚さは精密に制御されます。当社の円偏光子の標準品は多くの一般的波長でご用意しております。400 nm~1600 nmのカスタム波長でのご注文も可能です。

カスタムサイズと取付けオプション
当社では標準品としてマウント無しのØ25.4 mm(Ø1インチ)円偏光子をご用意しております。カスタム仕様の偏光子は、Ø12.7 mm(Ø0.5インチ)~Ø50.8 mm(Ø2インチ)のサイズがご提供可能で、マウント付きまたはマウント無しからお選びいただけます。

Engraved Back of OAP
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図4: ポリマ波長板のリターダンスとアライメントの均一性をチェックするための試験装置
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図3: ポリマ波長板のリターダンスを測定するための試験装置
Engraved Back of OAP
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図2: スピンコート装置に取り付けられ、フォトアライメント材料が塗布される準備のできたガラス基板。
Design WavelengthDamage Threshold
405 nm, 488 nm, 532 nm, 633 nm, 670 nmPulsed: 0.3 J/cm2 (532 nm, 10 ns, 10 Hz, Ø0.750 mm)
CW: 1 W/cm2 (532 nm, Ø0.471 mm)
780 nmPulsed: 0.3 J/cm2 (810 nm, 10 ns, 10 Hz, Ø0.08 mm)
CW: 1 W/cm2 (810 nm, Ø0.004 mm)
1550 nmPulsed: 2.0 J/cm2 (1540 nm, 10 ns, 10 Hz, Ø0.242 mm)
CW: 1 W/cm2 (1542 nm, Ø0.161 mm)

当社の円偏光子の損傷閾値データ

右の仕様は当社のポリマ円偏光子の測定値です。損傷閾値の仕様は、設計波長が同じ全ての偏光子で共通です。

 

レーザによる損傷閾値について

このチュートリアルでは、レーザ損傷閾値がどのように測定され、使用する用途に適切な光学素子の決定にその値をどのようにご利用いただけるかを総括しています。お客様のアプリケーションにおいて、光学素子を選択する際、光学素子のレーザによる損傷閾値(Laser Induced Damage Threshold :LIDT)を知ることが重要です。光学素子のLIDTはお客様が使用するレーザの種類に大きく依存します。連続(CW)レーザは、通常、吸収(コーティングまたは基板における)によって発生する熱によって損傷を引き起こします。一方、パルスレーザは熱的損傷が起こる前に、光学素子の格子構造から電子が引き剥がされることによって損傷を受けます。ここで示すガイドラインは、室温で新品の光学素子を前提としています(つまり、スクラッチ&ディグ仕様内、表面の汚染がないなど)。光学素子の表面に塵などの粒子が付くと、低い閾値で損傷を受ける可能性があります。そのため、光学素子の表面をきれいで埃のない状態に保つことをお勧めします。光学素子のクリーニングについては「光学素子クリーニングチュートリアル」をご参照ください。

テスト方法

当社のLIDTテストは、ISO/DIS 11254およびISO 21254に準拠しています。

初めに、低パワー/エネルギのビームを光学素子に入射します。その光学素子の10ヶ所に1回ずつ、設定した時間(CW)またはパルス数(決められたprf)、レーザを照射します。レーザを照射した後、倍率約100倍の顕微鏡を用いた検査で確認し、すべての確認できる損傷を調べます。特定のパワー/エネルギで損傷のあった場所の数を記録します。次に、そのパワー/エネルギを増やすか減らすかして、光学素子にさらに10ヶ所レーザを照射します。このプロセスを損傷が観測されるまで繰返します。損傷閾値は、光学素子が損傷に耐える、損傷が起こらない最大のパワー/エネルギになります。1つのミラーBB1-E02の試験結果は以下のようなヒストグラムになります。

LIDT metallic mirror
上の写真はアルミニウムをコーティングしたミラーでLIDTテストを終えたものです。このテストは、損傷を受ける前のレーザのエネルギは0.43 J/cm2 (1064 nm、10 ns pulse、 10 Hz、Ø1.000 mm)でした。
LIDT BB1-E02
Example Test Data
Fluence# of Tested LocationsLocations with DamageLocations Without Damage
1.50 J/cm210010
1.75 J/cm210010
2.00 J/cm210010
2.25 J/cm21019
3.00 J/cm21019
5.00 J/cm21091

試験結果によれば、ミラーの損傷閾値は 2.00 J/cm2 (532 nm、10 ns pulse、10 Hz、 Ø0.803 mm)でした。尚、汚れや汚染によって光学素子の損傷閾値は大幅に低減されるため、こちらの試験はクリーンな光学素子で行っています。また、特定のロットのコーティングに対してのみ試験を行った結果ではありますが、当社の損傷閾値の仕様は様々な因子を考慮して、実測した値よりも低めに設定されており、全てのコーティングロットに対して適用されています。

CWレーザと長パルスレーザ

光学素子がCWレーザによって損傷を受けるのは、通常バルク材料がレーザのエネルギを吸収することによって引き起こされる溶解、あるいはAR(反射防止)コーティングのダメージによるものです[1]。1 µsを超える長いパルスレーザについてLIDTを論じる時は、CWレーザと同様に扱うことができます。

パルス長が1 nsと1 µs の間のときは、損傷は吸収、もしくは絶縁破壊のどちらかで発生していると考えることができます(CWとパルスのLIDT両方を調べなければなりません)。吸収は光学素子の固有特性によるものか、表面の不均一性によるものかのどちらかによって起こります。従って、LIDTは製造元の仕様以上の表面の質を有する光学素子にのみ有効です。多くの光学素子は、ハイパワーCWレーザで扱うことができる一方、アクロマティック複レンズのような接合レンズやNDフィルタのような高吸収光学素子は低いCWレーザ損傷閾値になる傾向にあります。このような低い損傷閾値は接着剤や金属コーティングにおける吸収や散乱によるものです。

Linear Power Density Scaling

線形パワー密度におけるLIDTに対するパルス長とスポットサイズ。長パルス~CWでは線形パワー密度はスポットサイズにかかわらず一定です。 このグラフの出典は[1]です。

Intensity Distribution

繰返し周波数(prf)の高いパルスレーザは、光学素子に熱的損傷も引き起こします。この場合は吸収や熱拡散率のような因子が深く関係しており、残念ながらprfの高いレーザが熱的影響によって光学素子に損傷を引き起こす場合の信頼性のあるLIDTを求める方法は確立されておりません。prfの大きいビームでは、平均出力およびピークパワーの両方を等しいCW出力と比較する必要があります。また、非常に透過率の高い材料では、prfが上昇してもLIDTの減少は皆無かそれに近くなります。

ある光学素子の固有のCWレーザの損傷閾値を使う場合には、以下のことを知る必要があります。

  1. レーザの波長
  2. ビーム径(1/e2)
  3. ビームのおおよその強度プロファイル(ガウシアン型など)
  4. レーザのパワー密度(トータルパワーをビームの強度が1/e2の範囲の面積で割ったもの)

ビームのパワー密度はW/cmの単位で計算します。この条件下では、出力密度はスポットサイズとは無関係になります。つまり、スポットサイズの変化に合わせてLIDTを計算し直す必要がありません(右グラフ参照)。平均線形パワー密度は、下の計算式で算出できます。

ここでは、ビーム強度プロファイルは一定であると仮定しています。次に、ビームがホットスポット、または他の不均一な強度プロファイルの場合を考慮して、おおよその最大パワー密度を計算する必要があります。ご参考までに、ガウシアンビームのときはビームの強度が1/e2の2倍のパワー密度を有します(右下図参照)。

次に、光学素子のLIDTの仕様の最大パワー密度を比較しましょう。損傷閾値の測定波長が光学素子に使用する波長と異なっている場合には、その損傷閾値は適宜補正が必要です。おおよその目安として参考にできるのは、損傷閾値は波長に対して比例関係であるということです。短い波長で使う場合、損傷閾値は低下します(つまり、1310 nmで10 W/cmのLIDTならば、655 nmでは5 W/cmと見積もります)。

CW Wavelength Scaling

この目安は一般的な傾向ですが、LIDTと波長の関係を定量的に示すものではありません。例えば、CW用途では、損傷はコーティングや基板の吸収によってより大きく変化し、必ずしも一般的な傾向通りとはなりません。上記の傾向はLIDT値の目安として参考にしていただけますが、LIDTの仕様波長と異なる場合には当社までお問い合わせください。パワー密度が光学素子の補正済みLIDTよりも小さい場合、この光学素子は目的の用途にご使用いただけます。

当社のウェブ上の損傷閾値の仕様と我々が行った実際の実験の値の間にはある程度の差があります。これはロット間の違いによって発生する誤差を許容するためです。ご要求に応じて、当社は個別の情報やテスト結果の証明書を発行することもできます。損傷解析は、類似した光学素子を用いて行います(お客様の光学素子には損傷は与えません)。試験の費用や所要時間などの詳細は、当社までお問い合わせください。

パルスレーザ

先に述べたように、通常、パルスレーザはCWレーザとは異なるタイプの損傷を光学素子に引き起こします。パルスレーザは損傷を与えるほど光学素子を加熱しませんが、光学素子から電子をひきはがします。残念ながら、お客様のレーザに対して光学素子のLIDTの仕様を照らし合わせることは非常に困難です。パルスレーザのパルス幅に起因する光学素子の損傷には、複数の形態があります。以下の表中のハイライトされた列は当社の仕様のLIDT値が当てはまるパルス幅に対する概要です。

パルス幅が10-9 sより短いパルスについては、当社の仕様のLIDT値と比較することは困難です。この超短パルスでは、多光子アバランシェ電離などのさまざまなメカニクスが損傷機構の主流になります[2]。対照的に、パルス幅が10-7 sと10-4 sの間のパルスは絶縁破壊、または熱的影響により光学素子の損傷を引き起こすと考えられます。これは、光学素子がお客様の用途に適しているかどうかを決定するために、レーザービームに対してCWとパルス両方による損傷閾値を参照しなくてはならないということです。

Pulse Durationt < 10-9 s10-9 < t < 10-7 s10-7 < t < 10-4 st > 10-4 s
Damage MechanismAvalanche IonizationDielectric BreakdownDielectric Breakdown or ThermalThermal
Relevant Damage SpecificationN/APulsedPulsed and CWCW

お客様のパルスレーザに対してLIDTを比較する際は、以下のことを確認いただくことが重要です。

Energy Density Scaling

エネルギ密度におけるLIDTに対するパルス長&スポットサイズ。短パルスでは、エネルギ密度はスポットサイズにかかわらず一定です。このグラフの出典は[1]です。

  1. レーザの波長
  2. ビームのエネルギ密度(トータルエネルギをビームの強度が1/e2の範囲の面積で割ったもの)
  3. レーザのパルス幅
  4. パルスの繰返周波数(prf)
  5. 実際に使用するビーム径(1/e2 )
  6. ビームのおおよその強度プロファイル(ガウシアン型など)

ビームのエネルギ密度はJ/cm2の単位で計算します。右のグラフは、短パルス光源には、エネルギ密度が適した測定量であることを示しています。この条件下では、エネルギ密度はスポットサイズとは無関係になります。つまり、スポットサイズの変化に合わせてLIDTを計算し直す必要がありません。ここでは、ビーム強度プロファイルは一定であると仮定しています。ここで、ビームがホットスポット、または他の不均一な強度プロファイルの場合を考慮して、おおよその最大パワー密度を計算する必要があります。ご参考までに、ガウシアンビームのときは一般にビームの強度が1/e2のときの2倍のパワー密度を有します。

次に、光学素子のLIDTの仕様と最大エネルギ密度を比較しましょう。損傷閾値の測定波長が光学素子に使用する波長と異なっている場合には、その損傷閾値は適宜補正が必要です[3]。経験則から、損傷閾値は波長に対して以下のような平方根の関係であるということです。短い波長で使う場合、損傷閾値は低下します(例えば、1064 nmで 1 J/cm2のLIDTならば、532 nmでは0.7 J/cm2と計算されます)。

Pulse Wavelength Scaling

 

波長を補正したエネルギ密度を得ました。これを以下のステップで使用します。

ビーム径は損傷閾値を比較する時にも重要です。LIDTがJ/cm2の単位で表される場合、スポットサイズとは無関係になりますが、ビームサイズが大きい場合、LIDTの不一致を引き起こす原因でもある不具合が、より明らかになる傾向があります[4]。ここで示されているデータでは、LIDTの測定には<1 mmのビーム径が用いられています。ビーム径が5 mmよりも大きい場合、前述のようにビームのサイズが大きいほど不具合の影響が大きくなるため、LIDT (J/cm2)はビーム径とは無関係にはなりません。

次に、パルス幅について補正します。パルス幅が長くなるほど、より大きなエネルギに光学素子は耐えることができます。パルス幅が1~100 nsの場合の近似式は以下のようになります。

Pulse Length Scaling

お客様のレーザのパルス幅をもとに、光学素子の補正されたLIDTを計算するのにこの計算式を使います。お客様の最大エネルギ密度が、この補正したエネルギ密度よりも小さい場合、その光学素子はお客様の用途でご使用いただけます。ご注意いただきたい点は、10-9 s と10-7 sの間のパルスにのみこの計算が使えることです。パルス幅が10-7 sと10-4 sの間の場合には、CWのLIDTも調べなければなりません。

当社のウェブ上の損傷閾値の仕様と我々が行った実際の実験の値の間にはある程度の差があります。これはロット間の違いによって発生する誤差を許容するためです。ご要求に応じて、当社では個別のテスト情報やテスト結果の証明書を発行することも可能です。詳細は、当社までお問い合わせください。


[1] R. M. Wood, Optics and Laser Tech. 29, 517 (1997).
[2] Roger M. Wood, Laser-Induced Damage of Optical Materials (Institute of Physics Publishing, Philadelphia, PA, 2003).
[3] C. W. Carr et al., Phys. Rev. Lett. 91, 127402 (2003).
[4] N. Bloembergen, Appl. Opt. 12, 661 (1973).

レーザーシステムが光学素子に損傷を引き起こすかどうか判断するプロセスを説明するために、レーザによって引き起こされる損傷閾値(LIDT)の計算例をいくつかご紹介します。同様の計算を実行したい場合には、右のボタンをクリックしてください。計算ができるスプレッドシートをダウンロードいただけます。ご使用の際には光学素子のLIDTの値と、レーザーシステムの関連パラメータを緑の枠内に入力してください。スプレッドシートでCWならびにパルスの線形パワー密度、ならびにパルスのエネルギ密度を計算できます。これらの値はスケーリング則に基づいて、光学素子のLIDTの調整スケール値を計算するのに用いられます。計算式はガウシアンビームのプロファイルを想定しているため、ほかのビーム形状(均一ビームなど)には補正係数を導入する必要があります。 LIDTのスケーリング則は経験則に基づいていますので、確度は保証されません。なお、光学素子やコーティングに吸収があると、スペクトル領域によってLIDTが著しく低くなる場合があります。LIDTはパルス幅が1ナノ秒(ns)未満の超短パルスには有効ではありません。

Intensity Distribution
ガウシアンビームの最大強度は均一ビームの約2倍です。

CWレーザの例
波長1319 nm、ビーム径(1/e2)10 mm、パワー0.5 Wのガウシアンビームを生成するCWレーザーシステム想定します。このビームの平均線形パワー密度は、全パワーをビーム径で単純に割ると0.5 W/cmとなります。

CW Wavelength Scaling

しかし、ガウシアンビームの最大パワー密度は均一ビームの約2倍です(右のグラフ参照)。従って、システムのより正確な最大線形パワー密度は1 W/cmとなります。

アクロマティック複レンズAC127-030-CのCW LIDTは、1550 nmでテストされて350 W/cmとされています。CWの損傷閾値は通常レーザ光源の波長に直接スケーリングするため、LIDTの調整値は以下のように求められます。

CW Wavelength Scaling

LIDTの調整値は350 W/cm x (1319 nm / 1550 nm) = 298 W/cmと得られ、計算したレーザーシステムのパワー密度よりも大幅に高いため、この複レンズをこの用途に使用しても安全です。

ナノ秒パルスレーザの例:パルス幅が異なる場合のスケーリング
出力が繰返し周波数10 Hz、波長355 nm、エネルギ1 J、パルス幅2 ns、ビーム径(1/e2)1.9 cmのガウシアンビームであるNd:YAGパルスレーザーシステムを想定します。各パルスの平均エネルギ密度は、パルスエネルギをビームの断面積で割って求めます。

Pulse Energy Density

上で説明したように、ガウシアンビームの最大エネルギ密度は平均エネルギ密度の約2倍です。よって、このビームの最大エネルギ密度は約0.7 J/cm2です。

このビームのエネルギ密度を、広帯域誘電体ミラーBB1-E01のLIDT 1 J/cm2、そしてNd:YAGレーザーラインミラーNB1-K08のLIDT 3.5 J/cm2と比較します。LIDTの値は両方とも、波長355 nm、パルス幅10 ns、繰返し周波数10 Hzのレーザで計測しました。従って、より短いパルス幅に対する調整を行う必要があります。 1つ前のタブで説明したようにナノ秒パルスシステムのLIDTは、パルス幅の平方根にスケーリングします:

Pulse Length Scaling

この調整係数により広帯域誘電体ミラーBB1-E01のLIDTは0.45 J/cm2に、Nd:YAGレーザーラインミラーのLIDTは1.6 J/cm2になり、これらをビームの最大エネルギ密度0.7 J/cm2と比較します。広帯域ミラーはレーザによって損傷を受ける可能性があり、より特化されたレーザーラインミラーがこのシステムには適していることが分かります。

ナノ秒パルスレーザの例:波長が異なる場合のスケーリング
波長1064 nm、繰返し周波数2.5 Hz、パルスエネルギ100 mJ、パルス幅10 ns、ビーム径(1/e2)16 mmのレーザ光を、NDフィルタで減衰させるようなパルスレーザーシステムを想定します。これらの数値からガウシアン出力における最大エネルギ密度は0.1 J/cm2になります。Ø25 mm、OD 1.0の反射型NDフィルタ NDUV10Aの損傷閾値は355 nm、10 nsのパルスにおいて0.05 J/cm2で、同様の吸収型フィルタ NE10Aの損傷閾値は532 nm、10 nsのパルスにおいて10 J/cm2です。1つ前のタブで説明したように光学素子のLIDTは、ナノ秒パルス領域では波長の平方根にスケーリングします。

Pulse Wavelength Scaling

スケーリングによりLIDTの調整値は反射型フィルタでは0.08 J/cm2、吸収型フィルタでは14 J/cm2となります。このケースでは吸収型フィルタが光学損傷を防ぐには適した選択肢となります。

マイクロ秒パルスレーザの例
パルス幅1 µs、パルスエネルギ150 µJ、繰返し周波数50 kHzで、結果的にデューティーサイクルが5%になるレーザーシステムについて考えてみます。このシステムはCWとパルスレーザの間の領域にあり、どちらのメカニズムでも光学素子に損傷を招く可能性があります。レーザーシステムの安全な動作のためにはCWとパルス両方のLIDTをレーザーシステムの特性と比較する必要があります。

この比較的長いパルス幅のレーザが、波長980 nm、ビーム径(1/e2)12.7 mmのガウシアンビームであった場合、線形パワー密度は5.9 W/cm、1パルスのエネルギ密度は1.2 x 10-4 J/cm2となります。これをポリマーゼロオーダ1/4波長板WPQ10E-980のLIDTと比較してみます。CW放射に対するLIDTは810 nmで5 W/cm、10 nsパルスのLIDTは810 nmで5 J/cm2です。前述同様、光学素子のCW LIDTはレーザ波長と線形にスケーリングするので、CWの調整値は980 nmで6 W/cmとなります。一方でパルスのLIDTはレーザ波長の平方根とパルス幅の平方根にスケーリングしますので、1 µsパルスの980 nmでの調整値は55 J/cm2です。光学素子のパルスのLIDTはパルスレーザのエネルギ密度よりはるかに大きいので、個々のパルスが波長板を損傷することはありません。しかしレーザの平均線形パワー密度が大きいため、高出力CWビームのように光学素子に熱的損傷を引き起こす可能性があります。


Posted Comments:
Volkmar Schultze  (posted 2019-04-04 05:18:04.353)
Hello Thorlab, I wonder if I can use the polarizer CP1L830 also at a wavelength of 894 nm. The refectance looks goos, but how good is the circular polarization at this wavelength?
nbayconich  (posted 2019-04-04 02:35:45.0)
Thank you for contacting Thorlabs. You can use these circular polarizers outside of the design wavelength however the retardance of the waveplate will not produce exactly a quarter wave. You can refer to the WPQ10E-830 polymer waveplate retardance vs. wavelength data below. https://www.thorlabs.com/images/popupImages/WPQ10E-830_RawData_ext.xlsx I would expect the retardance at 894nm to be about 0.2296 waves.
christian.schmidt  (posted 2019-01-09 09:01:35.64)
Hello Thorlabs-team, this is a nice product. I am intrested in a costume wavelength design for 895 nm. Is it this possible and how high is the relectance of an incidence beam from the polarizer side? Thank you very much. Christian
nbayconich  (posted 2019-01-22 09:28:46.0)
Thank you for contacting Thorlabs. We can make a custom 895nm circular polarizer. I will reach out to you directly to share some reflectance data we have gathered for these polarizers.

円偏光子、左回り


光軸に沿った1点における左回りの円偏光の電場は、光源側から見て反時計回りに回転しています。

左回りの円偏光子は、任意の偏光状態の光を左回りの円偏光に変換します。ただし、入射ビームが偏光子内の直線偏光フィルムに対して垂直な偏光ではないことを条件とします。入射面と直線偏光フィルムの透過軸は円偏光子の縁の矢印で示されています。

また、こちらの偏光子は左回りの円偏光を直線偏光に変換できます。この場合、光学素子の縁の矢印は透過方向を示しています。右回りの円偏光がこの方向に入射された場合、光学素子は何も透過しません。

円偏光の回転方向は、光源側から光軸に沿って伝搬する方向で定義します。「左回り」の円偏光は、光軸の定点において電場が時間の経過とともに反時計回りに回転することを意味します。視覚的な説明については右の図をご覧ください。

Item #CP1L405CP1L488CP1L532CP1L633CP1L670CP1L780CP1L808CP1L830CP1L1064CP1L1310CP1L1550
Design Wavelength405 nm488 nm532 nm633 nm670 nm780 nm808 nm830 nm1064 nm1310 nm1550 nm
AR Coating RangeRavg < 0.5% per Surface for 350 - 700 nmRavg < 0.5% per Surface for
650 - 1050 nm
Ravg < 0.5% per Surface for 1050 - 1700 nm
Damage ThresholdPulsed 0.3 J/cm2 (532 nm, 10 ns, 10 Hz, Ø0.750 mm)0.3 J/cm2 (810 nm, 10 ns, 10 Hz, Ø0.08 mm)2.0 J/cm2 (1540 nm, 10 ns, 10 Hz, Ø242 µm)
CW 1 W/cm2 (532 nm, Ø0.471 mm)1 W/cm2 (810 nm, Ø0.004 mm)1 W/cm2 (1542 nm, Ø0.161 mm)
Transmission
(Click for Graph)

Raw Data

Raw Data

Raw Data
Transmitted Wavefront Distortionλ/4 at 633 nm3λ/2 at 633 nmλ/4 at 633 nm



+1 数量 資料 型番 - ユニバーサル規格 定価(税抜) 出荷予定日
CP1L405 Support Documentation
CP1L405Left-Handed Circular Polarizer, 405 nm
¥38,123
3-5 Days
CP1L488 Support Documentation
CP1L488Left-Handed Circular Polarizer, 488 nm
¥38,123
3-5 Days
CP1L532 Support Documentation
CP1L532Left-Handed Circular Polarizer, 532 nm
¥38,123
3-5 Days
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円偏光子、右回り


光軸に沿った1点における右回りの円偏光の電場は、光源側から見て時計回りに回転しています。

右回りの円偏光子は、任意の偏光状態の光を右回りの円偏光に変換します。ただし、入射ビームが偏光子内の直線偏光フィルムに対して垂直な偏光ではないことを条件とします。入射面と直線偏光フィルムの透過軸は円偏光子の縁の矢印で示されています。

また、こちらの偏光子は右回りの円偏光を直線偏光に変換できます。この場合、光学素子の縁の矢印は透過方向を示しています。左回りの円偏光がこの方向に入射された場合、光学素子は何も透過しません。

円偏光の回転方向は、光源側から光軸に沿って伝搬する方向で定義します。「右回り」の円偏光は、光軸の定点において電場が時間の経過とともに時計回りに回転することを意味します。視覚的な説明については右の図をご覧ください。

Item #CP1R405CP1R488CP1R532CP1R633CP1R670CP1R780CP1R808CP1R830CP1R1064CP1R1310CP1R1550
Design Wavelength405 nm488 nm532 nm633 nm670 nm780 nm808 nm830 nm1064 nm1310 nm1550 nm
AR Coating RangeRavg < 0.5% per Surface for 350 - 700 nmRavg < 0.5% per Surface for
650 - 1050 nm
Ravg < 0.5% per Surface for 1050 - 1700 nm
Damage ThresholdPulsed 0.3 J/cm2 (532 nm, 10 ns, 10 Hz, Ø0.750 mm)0.3 J/cm2 (810 nm, 10 ns, 10 Hz, Ø0.08 mm)2.0 J/cm2 (1540 nm, 10 ns, 10 Hz, Ø242 µm)
CW 1 W/cm2 (532 nm, Ø0.471 mm)1 W/cm2 (810 nm, Ø0.004 mm)1 W/cm2 (1542 nm, Ø0.161 mm)
Transmission
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Raw Data

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Transmitted Wavefront Distortionλ/4 at 633 nm3λ/2 at 633 nmλ/4 at 633 nm
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