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走査スリット型光ビームプロファイラ


  • Wavelength Ranges from 200 to 2700 nm
  • For Near-Gaussian Beams from Ø2.5 µm to Ø9 mm
  • Scanning-Slit and Knife-Edge Operating Modes

BP209-VIS

Post and Post Holder
Sold Separately

 

Application Idea

For a complete beam quality measurement system, integrate a beam profiler with an M2 measurement extension set. (Shown: BP209-IR and M2MS) 

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Key Specifications
Item #a BP209-VIS  BP209-VIS/M  BP209-IR  BP209-IR/M  BP209-IR2  BP209-IR2/M 
Wavelength Range200 - 1100 nm900 - 1700 nm900 - 2700 nm
Detector MaterialSi - UV EnhancedInGaAsExtended InGaAs
Aperture Diameter9 mm
Scan MethodsScanning Slits, Knife Edge
Slit Sizes5 µm and 25 µm
Beam Diameter Range2.5 µm - 9 mm
  • ミリ規格とインチ規格の違いはベースプレートのタップ穴のネジ規格のみです。
Responsitivities of the BP209 Series
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ソフトウェアBeam のGUIの構成例。再構成された2次元画像、計算結果、位置の時間変化のプロット、Xプロファイル、疑似3次元画像のウィンドウがEnableになっています。
Programming References
Driver and File Locations
Application Note: Programming Functionality and Sample Code
(LabVIEW and Visual C++, C#,  and Basic)
Application Note: Operating with the TSP01a
(LabVIEW and Visual Basic)
  • 温湿度センサTSP01は別途ご用意しています。

特長

  • ガウシアンに近い品質のビームに対する精密な解析
  • 空間パワー分布の2次元および疑似3次元での再構成
  • 単独の独立型測定ヘッド
  • CWレーザ光またはパルスレーザ光(>10 Hz)の特性評価
  • 走査速度:2~20 Hz
  • パワーメータ内蔵(校正手順についてはマニュアルをご覧ください)
  • ダイナミックレンジ:78 dB
  • 低ノイズ増幅器
  • PC接続:High-Speed USB 2.0

ソフトウェアの特長

  • ビーム測定および解析方法に関する複数のオプション
    • 位置調整が可能なX、Y断面プロファイル測定
    • 楕円ビームにフィッティングした2次元パワー密度ダイヤグラムや柔軟性に富んだ3Dグラフの表示
    • 全ビームパワーの時間変化のプロット
    • 重心位置のドリフト解析
    • 合否解析(Pass/Fail)
  • ユーザ設定が可能なGUI、複数の表示オプション付き
    • 調整が容易なサブウィンドウを有する汎用グラフィカルインターフェイス
    • プロファイルの色は設定可能
  • 精度を高めるためのホットピクセルと周辺光量補正
  • 逐次保存オプションで画像とテキストファイルの出力
  • M²自動ビーム品質測定用モジュール(M2測定増設セットが必要です)

当社のデュアル走査スリット型ビームプロファイラは、ガウシアンに近いレーザービームの断面プロファイルを解析するのに適しています。お客様が設定したビーム断面のX軸とY軸に沿った強度プロファイルを、2 Hz ~20 Hz(ソフトウェアで設定可能)の走査速度で測定し、データを取得します。20 Hzの高速走査ではリアルタイムでの光学システムのアライメントが可能です。主に連続発振(CW)レーザービームへの使用を意図していますが、平均化処理をすることで繰返し周波数が10 Hzを超えるパルスビームも測定することができます(詳細は「動作」タブをご覧ください)。これらの測定はビーム品質の評価、再構成されたビームプロファイルの精査、および長期安定性のモニタなどにご利用いただけます。

こちらの走査スリット型のビームプロファイラでは低ノイズのエレクトロニクス部品を使用し、そのダイナミックレンジは78 dBと広く、また直径2.5 µm~9 mmのビームを測定することができます。ビーム径はISO 11146規格に従って測定され、多くの工業規格におけるクリップレベル(1/e2[13.5%]、50%など)や、お客様が任意に設定したクリップレベルで表示することができます。ビーム形状がガウシアンに近くない場合や、パルスビームのシングルショットを測定したい場合は、当社のCCDカメラ型のビームプロファイラをお勧めいたします。

デュアル走査スリット型ビームプロファイラは3種類ご用意しております。BP209-VIS/Mは波長範囲200 nm~1100 nm用、BP209-IR/Mは900 nm~1700 nm用、そしてBP209-IR2/Mは近赤外域を広くカバーする900 nm~2700 nm用です。すべてのモデルの入射開口はØ9 mmで、入射したレーザービームに対して同じ幅の直交した2本のスリットで連続的に走査して測定します。ソフトウェアを使用して、スリット幅の切り替え(5 µmまたは25 µm)、走査スリットモードまたはナイフエッジモードの選択、および走査についてのオプション設定を行ってください。異なるスリット幅や動作モードに関する機能や使用方法については、「動作」タブをご覧ください。

当社のソフトウェアBeamはこれらのビームプロファイラを制御するとともに、様々なユーザ設定、表示やデータ収集に関する選択などができます。ソフトウェアは「ソフトウェア」タブからダウンロードし、お手持ちのPCにインストールできます。ソフトウェアBeamを動作させているPCにビームプロファイラを接続すれば、その他のハードウェアや電源は必要ありません。High-Speed USB 2.0インターフェイスを使用して測定ヘッドとPCを接続しますが、必要なUSBケーブルはBP209シリーズパッケージに付属しています。データエクスポートに関する柔軟な選択機能や、National Instruments®社製ソフトウェアとのデータインターフェイス機能を使用すると、ビームプロファイラをカスタマイズされたデータ処理環境に容易に組み込むことができます。ソフトウェアの機能の詳細については「ユーザーインターフェイス」タブをご覧ください。

M2測定システム
BP209シリーズのビームプロファイラをベースにしたM2測定システムは、プロファイラとそれに対応する波長の増設セット(下記参照)と統合することで構築できます。M2測定システムについては、CCDカメラ型ビームプロファイラのBC106Nシリーズをベースにした製品もご用意しております。BP209シリーズをベースにしたM2測定システムはこちらのページの部品をご購入いただけると一式揃いますが、M2測定システムのすべての情報のほか、BP209またはBC106シリーズのビームプロファイラを使用したシステムの構成および購入に関するオプションについては「M²測定システム」のページでご覧いただけます。

Item #BP209-VISBP209-VIS/MBP209-IRBP209-IR/MBP209-IR2BP209-IR2/M
Sensor
Wavelength Range200 - 1100 nm900 - 1700 nm900 - 2700 nm
Detector MaterialSi - UV EnhancedInGaAsExtended InGaAs
Aperture Diameter9 mm
Scan MethodsScanning Slits, Knife Edge
Slit Size5 µm and 25 µm
Minimum Beam Diameter2.5 µm
Maximum Beam Diameter9 mma
Scan Rate2.0 - 20.0 Hz (Continuously Variable)
Sampling Resolution0.12 - 1.24 µm (Depending on Scan Rate)
Power Range1 µW - 10 W (Depending on Beam Diameter and Model; See Plot Below Right)
Amplifier Bandwidth16 to 1000 kHz in 11 Steps (@ -1 dB)
Sample Frequency0.2872 - 2.0 MHz
Dynamic Range78 dB (Amplifier Switchable)
PD Reverse Bias Voltage0 / -1.5 V (Switchable)0 V
Signal Digitization15 Bit
Head SizeØ79.5 mm x 60.0 mm (Ø3.13" x 2.36") Including Rotation Mount
Minimum Pulse Rate10 Hzb
Warm-Up Time for Rated Accuracy15 min
Software
Displayed Parameters/FeaturesX-Y-Profile, Centroid Position, Peak Position, Pseudo 3D Profile, Beam Width Clip Level/Second Moment (4σ),
Gaussian Fit Applicable, Pass/Fail Test with Color-Coded Results
Compliant to NormISO11146 (Beam Widths, Divergence Angle and Beam Propagation Factor)
Minimum System RequirementsWindows® 7 or Later, USB 2.0 High Speed Port, 4.0 GB RAM
M² Analysis System (M2 Extension Set Available Separately)
Compatible M² Extension Set(s)cM2MS or M2MS-ALM2MS
Compliant to NormISO 11146
Measured ParametersdM², Waist Width, Waist Position, Rayleigh Length, Divergence, Beam Pointing, Waist Asymmetry, Astigmatism
Environmental
Operating Temperature5 °C to 35 °C
Storage Temperature-40 °C to 70 °C
  • BP209-VIS/MとBP209-IR/Mのビームの誤差は、Ø9 mmビーム径に対して<10% です。BP209-IR2/Mのビーム径の誤差は、発散角<5°のØ9 mmビーム径に対して<20%です。
  • M²測定用増設セット使用時は300 kHz
  • BP209シリーズの測定ヘッドとM2測定用増設セット(下記参照)を組み合わせることで、M2測定システムが完成します。
  • M² 測定用増設セット使用時

すべての技術データは、温度23±5°C、相対湿度45±15%の条件下で有効です。

BP209 Series Operating Ranges
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ビームパワーの最大リミット値および最小リミット値を、1/e2 ビーム径の関数として表示しています。これらはナイフエッジモードおよび走査スリットモードによる測定のためのリミット値で、全パワーの測定には適用できないことがあります。 詳細は「動作」タブをご覧ください。 測定ヘッドを熱的ダメージから保護するために、1 Wを超える入射パワーに対して5秒以上の使用はしないでください。

Responsitivities of the BP209 Series
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こちらをクリックすると測定されたデータのエクセルファイルをダウンロードできます。

スリットとフォトダイオードの位置

高精度な測定を行うためには、Ø9 mm以下のビームを入射開口の中心に入射し、その全ビームを走査スリットで走査したのち、透過したすべての光パワーをフォトディテクタの受光面に入射させる必要があります。入射開口の前面から走査スリット、およびフォトダイオードの受光面までの距離については、下の対応するBP209の図と付属のマニュアルをご参照ください。これらの寸法をご参照いただくことにより、特に大きく発散するビームにおいて、入射光が入射瞳でクリッピングしたり、フォトディテクタの受光面よりも広がったりしないことを確認することができます。

BP209-VIS(/M)
BP209-VIS
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BP209-IR(/M)、BP209-IR2(/M)
BP209-IR
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走査スリットとナイフエッジ

BP209シリーズのスリット型のビームプロファイラは、ビーム径によって走査スリットまたはナイフエッジの技術を使い分けて、ガウシアンに近い楕円形(あるいは円形)の自由空間ビームを解析します。これらの方法では、ビームの断面全体を2本のスリットで交互に走査します。1本目のスリットはビームのX軸、2本目はY軸に沿って走査します。X軸とY軸はお客様が定義しますが、多くの場合は楕円の長軸と短軸に対応させています。スリットを透過した光はフォトディテクタに入射します。光強度は、スリットの位置を参照しつつ、スリットがビームを横断的に走査して測定されます。

走査スリットモードは、ビーム径がスリット幅に対して少なくとも4倍以上ある場合に適しています。このモードでは、ビームとスリットが重なるとスリット幅と同じ幅だけのビームが透過します。スリットがビームを横断して走査すると、透過したビームの光強度がフォトディテクタで測定されます。ビーム径がスリット幅より小さい場合にはナイフエッジモードを使用します。ナイフエッジモードでは、走査スリットはビームを部分的(0~100%)に透過させます。走査スリットがビームと重なり始めると少量のビームが透過し、その後透過するビーム量は増え、最後は全てのビームが透過します。スリットとビームが重なる量、つまり透過光の強度は、スリットがさらにビームを横断して走査していくうちに減少して再びゼロになります。

これらの測定結果を用いて、X軸とY軸に沿ったビームの強度プロファイルを求めます。これらのデータを使用すれば、各軸に沿ったピークパワーとビームの重心位置、そしてビーム径と楕円率が分かります。ビームがガウシアンに近いプロファイルを持つことを仮定することで、測定されたX軸とY軸のビームプロファイルを使用してビーム断面全体の強度プロファイルを再構成し、結果を2次元または3次元のフォーマットでプロットすることも可能になります。

BP209 Knife-Edge Technique
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ビーム径がスリット幅より小さい場合には、上記のようにナイフエッジモードで操作してください。走査スリットモードは、ビーム径がスリット幅に比べて少なくとも4倍以上大きいときに選択してください。
Drawing of Laser Beam profiler
BP209シリーズの測定ヘッドの内部は回転ドラムになっており、回転軸は手動のノブで調整できます。ドラムが回転すると、ドラム内のスリットはビームをX軸およびY軸方向に沿って走査し、透過光の強度は内蔵のフォトディテクタによって検出されます。

BP209シリーズビームプロファイラの動作概要

Programming References
Driver and File Locations
Application Note: Programming Functionality and Sample Code
(LabVIEW and Visual C++, C#,  and Basic)
Application Note: Operating with the TSP01a
(LabVIEW and Visual Basic)
  • 温湿度センサTSP01は別途ご用意しています。

ソフトウェアBeam
当社のソフトウェアBeamは、ビームプロファイラおよび関連するM2測定システムの制御と測定データの収集のために開発されました。「ソフトウェア」タブからダウンロードが可能です。ソフトウェアにはGUIが付属しており、アクティブなスリットペアの選択、走査モード、利得、平均化モード、走査速度など、走査および測定に関する詳細な設定が可能です。Xプロファイル、Yプロファイル、2次元再構成、3次元プロファイル、位置の時間変化、光パワーの時間変化、計算結果などのディスプレイウィンドウについては、その構成や表示を自由に調整することできます。このソフトウェアはM2ビーム品質やビームの収束/拡散の測定が可能なほか、2本の異なるレーザービームを重ねて光ビームパラメータのチューニング作業を支援するツールも組み込まれています。ファイルに保存する測定データと計算結果を選択し、長期間の測定中に得られるデータを順次保存するオプションを有効に活用してください。ソフトウェアの紹介と代表的な表示画面については「ユーザーインターフェイス」タブでご覧いただけます。 ソフトウェアの機能についての詳細はマニュアルをご覧ください。

BP209 Series Operating Ranges
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ビームパワーの最大リミット値および最小リミット値を、1/e2ビーム径の関数として表示しています。これらはナイフエッジモードおよび走査スリットモードによる測定のためのリミット値で、全パワーの測定には適用できないことがあります。 測定ヘッドを熱的ダメージから保護するために、1 Wを超える入射パワーに対して5秒以上の使用はしないでください。

BP209 Profiler with Rotation Mount
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前面のレーザ刻印はノブが垂直方向にあるときのX軸とY軸の方向を示しており、ノブを回転させたときの軸方向の目安にご使用いただけます。

5 µmまたは25 µm幅のスリットによる測定
上の図は入射開口部とスリットの入った回転ドラムを含む測定ヘッドの構造です。ビームは測定ヘッドの前面に対して垂直に入り、Ø9 mmの入射開口部から回転ドラムに入射します。ドラム内のスリットは間隔をあけて配置されており、どのスリットも入射開口部の全幅をカバーするだけの幅があります。ドラム内には2組のスリットのペアがあり、どちらのペアも回転軸に対して1本が+45°、もう1本が-45°に設定されています。1組のスリット幅は5 µm、もう1組のスリット幅は25 µmです。それぞれの測定ヘッドにある2種類のスリット幅と2種類の動作モードにより、幅広いビーム径とパワーに対するプロファイリングが可能になっています。

ビーム径が20 µmまたはそれ以下の場合は25 µmスリットを使用して、ナイフエッジモードで操作してください。最小2.5 µmまでのビーム径については、この方法で測定が可能です。

走査スリットモードはビーム径が20 µm~9 mmのビーム測定に対してご使用いただけます。原則として、測定にはビーム径の1/4以下の幅のスリットを選択してください。両方のスリット幅がこの条件を満たす場合は、走査スリットの選択はビームパワーや用途の要求条件などに依存することになります。

広いパワー範囲でのビーム測定
走査スリット型ビームプロファイラが対応できる最大パワーならびに最小パワーは、1/e2ビーム径の関数として右のグラフにプロットされています。20 µmにおける黒の縦線は、ナイフエッジモードと走査スリットモードの切り替えをしなければならないビーム径を示しています。走査スリットモードにおいては、ビームパワーの最大リミット値はスリット幅5 µmで動作させたときに許容される最大パワーに対応します。5 µmスリットでは25 µmスリットよりも透過させるビーム量が少ないため、大きなパワーのビームを測定することができます。走査スリットモードにおけるビームパワーの最小リミット値は、ビーム径が約20 µm~100 µmの時は5 µmスリット、ビーム径がそれよりも大きい時は25 µmスリットを使用するとして求めています。スリットを100 µmで切り替えることにより、フォトディテクタに到達するビーム量を最大化しながら、一方ではスリット幅とビームサイズの適切な比も維持します。

以下に説明するように、ビームプロファイラを全パワーの測定に使用する場合は、これらのリミット値よりも小さな最大リミット値や大きな最小リミット値が適用される場合があります(下記参照)。 全パワーの測定値が適切なリミット値を外れる場合、ステータスボックス内にエラーメッセージが表示されます。しかしスリットを透過する光のパワーが図にプロットされたリミット内に納まるのであれば、スリットを使用したビーム形状の測定を実施することは可能です。

全パワーの測定(パワーメータの読み値)
回転ドラムには、2組のスリットのほかにNDフィルタを取り付けた開口部があります。ドラムの1回転ごとに全ビームがこの開口を通り、NDフィルタによって減衰された光の全強度がフォトディテクタによって測定されます。この全パワーの測定値はビームプロファイル測定の基準値として使用されますが、その時間経過のプロット図をGUIウィンドウに表示させることも可能です。 全パワーの測定値は感度の典型的な波長依存特性により補正されていますが、校正された値ではありません。 光パワーの絶対値を測定できるように、ソフトウェアを使用して対象波長における校正値を登録することもできます。

全パワーの測定を実行できるビームパワーの最大値と最小値が、上のプロット図のリミット値に届かない場合があります。グラフ内のリミット値はナイフエッジモードおよび走査スリットモードでの動作用として求められています。 走査スリットモードではビームパワーの一部がフォトディテクタに届きますが、ナイフエッジモードでは減衰されていない≤Ø20 µmの全ビームがフォトディテクタに届きます。 全パワーの測定時にフォトディテクタに到達する減衰された全ビームのパワーは、光が走査スリットを通過する場合に比べて、より小さな最大値とより大きな最小値の間になければならない場合があります。

走査軸方向(X、Y)の選択
測定ヘッドの上部にあるノブ(右の写真参照)を動かす(手動)ことで、ドラムの回転軸を±60°の範囲で調整することができます。このドラムの回転軸の調整で、ビーム断面に対するXとYの走査軸の方向が変わります。これによりお客様が定義する走査軸でのビームプロファイル測定が可能となり、また走査軸の方向を変えた測定データを連続して取得することができます。ドラムは測定ヘッドの内側にあり、ノブを回しても測定ヘッドは回転しません。

この機能は入射ビームの断面が楕円形の場合に特に重要です。実際の楕円率を測定するためには、走査軸をビームの長軸と短軸にアライメントさせなければならないからです。楕円率測定のための最も正確なアライメントを実現するには、ソフトウェアでプロットされるX方向およびY方向の強度プロファイルを見ながらノブを回してください。プロファイルの幅が一方の軸で最小値、もう一方の軸で最大値となっている場合、最適な回転角度になっています。

パルスレーザービームのビームプロファイル測定
BP209シリーズは、繰返し周波数が10 Hzを超えるパルスレーザービームのビームプロファイル測定にも使用することができます。ただし、この用途には当社のカメラ型ビームプロファイラシリーズ製品のご使用をお勧めしております。

繰返し周波数が100 MHzでパルス幅が100 fsよりも小さいフェムト秒レーザの場合のように、パルスの繰返し周波数が高くパルス幅が短い場合には、CW信号とパルス信号の解析には違いがありません。これはフォトダイオードの電流増幅器の帯域幅が制限されているためで、個々のパルスが分解できず、代わりに入射パルス列を効果的に平均化してCW信号を生成します。

パルスレートが約50 kHzまたはそれ以下の場合、適切に測定するにはソフトウェアで走査速度を設定してください。走査速度の設定可能範囲は1.5 Hz~20 Hzとなっているため、走査速度をパルスレートと同じ速さに設定することは多くの場合はできません。走査速度(周波数)の整数倍とパルスレートが若干異なるように設定し、Hold Maximum機能をEnableにして測定を行ってください。走査が1セット実施されると、ソフトウェアは走査中に測定されたピーク強度値を蓄積して平均化します。パルスレートが1回の走査で1つ以上のパルスを測定するのに十分な速度を有する場合、ソフトウェアは測定パルスのセグメントごとのピーク強度値を蓄積して平均化します。出力されるビームプロファイルは最終的に平均化された1セット分の測定値となります。走査速度(周波数)の整数倍とパルスレートが若干異なるように設定することで、1回の走査ごとにビームプロファイルの異なる部分の測定ができます。つまり、1セットの走査でビームプロファイルの全セグメントの測定値が得られます(詳細はマニュアルをご参照ください)。

メインウィンドウ

Beam Profiler General Window
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GUIのメインウィンドウは、メニューバー、ツールバー、ステータスバー、ならびに複数のウィンドウを表示できるフレームで構成されています。上のメインウィンドウのバージョンでは以下のパネルが表示されています:ビーム設定、計算結果、2次元再構成および3次元プロファイル。ビーム設定パネルでは全ての重要な情報を1つのパネル内に表示します。このパネルはメインウィンドウから別のモニタなどに移動させることが可能です。

BP209シリーズビームプロファイラ用ソフトウェアBeam

  • レイアウトの調整可能なGUI:別の測定結果を表示したウィンドウの
    作業スペース内での再配置やサイズ変更が可能
  • ビームプロファイルの2次元および3次元表示
    • ピーク、重心、断面プロファイルなどをオーバーレイ表示可能
    • 3次元表示は全方向回転が可能
  • ISO 11146に準拠したM²および広がり角の測定法
  • データのエクスポート:
    • 測定結果はWindowsからフォーマットを変えてエクスポート可能
    • 連続データ保存
  • 合否試験(Pass/Fail)用の合否パラメータのカスタマイズや固定、記憶が可能
  • 光パワーの校正により絶対パワー測定が可能
  • TSP01をサポートしているため、長時間測定中における温度ログの取得が可能

当社のスリット走査型光ビームプロファイラ、カメラ型ビームプロファイラ、ならびにM²測定システムは、すべて当社のソフトウェアパッケージBeamを使用しています。下のスクリーンショットでは、当社のスリット走査型光ビームプロファイラに使用した際に可能なビームプロファイルの2次元再構成、ビームの安定性および位置測定などの主要な特長と測定モードを表示しています。M²測定用増設セット(下記掲載)をシステムに追加すると、ソフトウェアによるM²およびビーム広がり角の測定も可能になります。

最新版のソフトウェアパッケージBeamは、「ソフトウェア」のタブからダウンロードいただけます。

ビームプロファイルの2次元再構成

Beam Profiler 2D View
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スリット走査型ビームプロファイラは、直交する2本のビームの断面(つまりX軸、Y軸におけるビームプロファイル)のみを測定します。ガウス分布に似たビームプロファイルの場合、ソフトウェアパッケージBeamは、上のスクリーンショットにあるように、2つの断面から2次元再構成を作り出すことができます。左側に並んでいるボタンでイメージの保存、xyスケールの表示/非表示の切替え、重心またはピーク位置の表示などができ、またイメージに重ねてビームの楕円近似曲線を表示することができます。

計算結果

計算結果のウィンドウ(左図)では、ビーム幅、重心およびピーク位置、光パワー、楕円率、ビームプロファイルのフィッティングパラメータなど、ソフトウェアによる計算結果を表示します。このパネルには合否試験の結果も表示されます。各パラメータに対して、判定基準となる最大または最小値を設定できます。計算終了後は、それらの結果をtxt、csvまたはxls形式で保存できます(右図)。測定結果、図表やデバイスデータを1つずつ保存する機能に加え、一連の測定結果を自動的に連続保存する機能もあります。

ビームの安定性

Beam Stability
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ビームの安定性ウィンドウでは、安定性の時間変化を記録し表示します。表示オプションでは、重心位置、重心の最終プロット位置、ローリング平均した重心位置、基準位置、最小包含円などの表示が可能です。

重心およびピーク位置のプロット

Plot Position
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このウィンドウでは、X、Yのピーク位置および重心位置の時間変化を表示できます。

M2測定

M² Measurements
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ビーム径とビームウエスト位置は、M²解析実行後に表示されます。 注: この機能は、M²解析システムがPCに接続されているときのみ有効です。

広がり角の測定

Divergence Measurements
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ビームの広がり角は、M²解析実行後に表示されます。 注: この機能は、M²解析システムがPCに接続されているときのみ有効です。

ビームプロファイラ用ソフトウェアパッケージ

ソフトウェアパッケージBeamは、下のSoftwareのボタンをクリックすればダウンロードができます。 ソフトウェアのダウンロードページには、LabVIEW、Visual C++、Visual C#、Visual Basicを使用して当社のビームプロファイラとインターフェイスさせるためのリファレンスプログラミングノートもご用意しております。詳細やリンク先についてはソフトウェアダウンロードページの「Programming Reference」のタブをご覧ください。

System Requirements
Operating SystemWindows® 7 (32 Bit), 7 x64 Edition (64 Bit)
8.1 (32 Bit), 8.1 x64 Edition (64 Bit),
10 (32 Bit), or 10 x64 Edition (64 Bit)
ConnectivityUSB 2.0 High Speed Port
Monitor Resolution1024 x 758 Pixel (Min),
≥16 Bit Color Depth
Processor (CPU)MinimumPentium 4 (2.6 GHz Min),
Intel or A64 3000+ AMD (3.0 GHz Min)
RecommendedIntel Core 2 i5 or AMD Ryzen 5 (3.0 GHz Min) 
Memory (RAM)Minimum4.0 GB RAM
Recommended8.0 GB RAM
Graphics AdapterRequiredOpenGL (Specification GLX 1.3 Up)
MinimumRadeon: X100 Series ≥X850, 
X1000 Series ≥X1600, HD Series ≥2400;
Geforce: 7 Series ≥7600,
8 Series ≥ 8500, 9 Series ≥9600;
Quadro: FX Series ≥FX770M
RecommendedRadeon: HD Series ≥7000;
Geforce: GTX Series ≥500;

特長

  • 設定パネル中央に全ての重要な情報を表示
  • 計算結果パネルはカスタマイズ可能
    • 測定パラメータは個別に非表示可能
    • 行の高さ調節が可能
    • 強化されたビームの安定性ウィンドウでは、重心位置の
      全軌跡を包含する最小包含円の測定および表示が可能
  • アライメントウィザードを使用してM2測定システムM2MSの
    正確なアライメントが可能
  • 英語、ドイツ語、中国語の設定が可能

ソフトウェア

Version 7.0.4133.305 (2017年11月14日)

32ビットならびに64ビット版Windows対応スタンダードパッケージ完全版です。標準的な用途でデバイスを動作させる際のドライバならびにグラフィカルユーザーインターフェイスが付属します。

Software Download

スリット走査型ビームプロファイラ用ファームウェアアップデート

下記は、当社のスリット走査型ビームプロファイラ用ファームウェアアップデートへのリンクです。アップデート版ではEEPROM入力で発生する可能性があるエラーを修正しています。こちらのリンク先には、ファームウェアアップデートのインストールのための手引きや必要なドライバも含まれています。

ファームウェアアップデート

バージョン 1.2(2016年5月17日)

EEPROM入力で発生する可能性があるエラーを修正するための改訂版です。

Software Download

ビームプロファイラには下記の部品が付属します。

  • BP209シリーズのビームプロファイラーヘッド(ダストカバー付き)
  • 高速USB 2.0 A to Mini-B接続ケーブル(3.0 m)
  • クイックスタートガイド

Posted Comments:
david.grant  (posted 2019-03-05 10:45:46.107)
I am intersted in a beam profiler at focus for a 7um spot at 1340nm and 0.5-10kHz repetition rate. Could you give advice whether this would be suitable.
MKiess  (posted 2019-03-12 04:44:40.0)
This is a response from Michael at Thorlabs. Thank you for the inquiry. With the BP209 series the beam profile of a beam with a diameter of 7µm and a wavelength of 1340nm can be measured. Pulsed laser beams can be measured at repetition rates greater than 10Hz. If the pulse frequencies are in the range of 50 kHz and less, the beam profiler does not analyze the beam as a CW signal, as is the case with very fast frequencies. Therefore, the scan rate settings must be configured in the software to achieve optimal measurements. This is done by setting the sampling rate so that an integer multiple of the sampling rate is slightly different from the pulse rate. When the Hold Maximum function is enabled, series of scans are performed and the software accumulates and averages the measured peak intensities in the scan set. I will contact you directly to discuss detailed software settings and whether the better choice for this application would be a Thorlabs' Camera Beam Profiler.
e.jaegle  (posted 2017-10-06 08:50:37.043)
I'm confused about the plane of measurement - the drawing in the manual says that it is located 2.1mm inside the profiler, but when we compare the distance at which our focused beam has its minimum diameter as measured by the profiler and by other means there seems to be a 2mm offset, as if the plane of measurement was actually at the profiler surface.
swick  (posted 2017-10-11 03:43:26.0)
This is a response from Sebastian at Thorlabs. Thank you for the inquiry. The position where the rotating slit scans the beam is the measurement plane. It is located 2.1mm behind the aperture. I have contacted you directly for assistance.
user  (posted 2017-08-09 21:30:01.457)
Whenever I connect the beam profiler, everything else connected through USB automatically gets disconnected, and their softwares (including Thorlabs' very own Kinesis, which I could only think is just a joke). I thought my computer is out dated, I'm using a brand new high performance desktop, and many others in the lab are experiencing it. Thorlabs softwares are very unreliable and chat personnel not very helpful.
tschalk  (posted 2017-08-10 05:58:52.0)
This is a response from Thomas at Thorlabs. I am really sorry that you have experienced difficulties with our Software. I would recommend that you contact me at europe@thorlabs.com to discuss this issue in detail. I am sure that we can provide assistance in this case.
dengyang  (posted 2016-11-15 16:42:35.017)
Do you have a combined version of beam profiler which is able to cover wavelength range from 200nm to 1700nm? It is ok to switch the slits and detectors.
swick  (posted 2016-11-16 03:11:19.0)
This is a response from Sebastian at Thorlabs. Thank you very much for your feedback. We will evaluate if we can offer a combined version with Si- and InGaAs photodiodes in the future. At the time our Scanning Slit Beam Profilers are covering operating wavelength ranges of 200 - 1100 nm (BP209-VIS) or 900 - 1700 nm (BP209-IR). For measuring beams at 200-1700nm both the BP209-VIS and the BP209-IR have to be used. We will contact you directly to provide assistance.
jari.nikkinen  (posted 2016-11-03 14:03:35.743)
We bought M2-measurent system with BP209, and separately later bought BC106 for it. We are now missing the mounting adapter for BC106. How do we get one?
swick  (posted 2016-11-04 04:22:57.0)
This is a response from Sebastian at Thorlabs. Thank you very much for your inquiry. I will contact you directly to provide a quotation for the BC106 mounting adapter.
janis.golubeckis  (posted 2016-10-28 16:51:19.71)
It appears that centroid is drifting around and it seems to be related to profilers internal vibration. Do you have a measurement stability spec?
swick  (posted 2016-10-31 06:17:26.0)
This is a response from Sebastian at Thorlabs. Thank you very much for your inquiry. We do not officially specify the stability of centroid detection but we are testing each device during quality control. The stability of the centroid is related to the Clip-Level, which should be set accordingly. I have contacted you directly for assistance and troubleshooting.
milankie  (posted 2016-08-23 13:36:56.767)
Can you provide the raw VISA commands for interacting with this device?
swick  (posted 2016-08-24 03:51:43.0)
This is a response from Sebastian at Thorlabs. Thank you very much for your inquiry. After installing the software of the Beam-Profiler, you can find a list with detailed information for all VISA commands at folder: C:\Program Files (x86)\IVI Foundation\VISA\WinNT\TLBP2\Manual\TLBP2 I have contacted you directly to provide further assistance.
miljenko.suljic  (posted 2016-05-20 10:15:30.043)
Hi, I'm interested if this product would be suitable to characterise the following beam: Wavelength? 1060 nm; Spot size? 15-20 um; Laser power: max 1mW; Pulsed, frequency < 1 kHz; Pulse length: ~15 ns; Thank you in advance
shallwig  (posted 2016-05-23 03:16:21.0)
This is a response from Stefan at Thorlabs. Thank you very much for your interest in our products. I have contacted you directly to check if your beam features a Gaußian shape and is suitable to get measured by our slit beam profilers and to discuss if a camera beam profiler would be a better option.
hawthorne  (posted 2016-05-03 09:06:16.783)
What is the return policy on this device if we are unable to use it for a diagnostic in our lab?
shallwig  (posted 2016-05-04 03:12:04.0)
This is a response from Stefan at Thorlabs. Thank you very much for your interest in our beam profilers. If the device is not suitable for your application we can take it back. I will contact you to discuss your application and check if a LOAN unit is an option before you buy the device.
isabelle.riou  (posted 2016-04-20 11:08:46.15)
We are having the same problem as patrick.ledingham. The device is no longer recognised by the computer and the green LED no longer lights up. Did you found a solution?
shallwig  (posted 2016-04-20 07:23:09.0)
This is a response from Stefan at Thorlabs. I am really sorry for the problem you have with our beam profiler. I will contact you directly to check if this can be solved remotely or if we have to take the unit back for repair.
patrick.ledingham  (posted 2016-03-21 13:58:57.59)
We are having a problem with our device. Computers are no longer recognising it. The green LED labelled 'RDY' no longer lights up. Before this issue, the software was throwing an error that the firmware needed to be updated.
tschalk  (posted 2016-03-22 07:33:07.0)
This is a response from Thomas at Thorlabs. I am really sorry that you have experienced difficulties with our device. From my point of view it sounds like the profiler is defective. I will contact you directly with more detailed information.
cyj5595  (posted 2015-12-11 12:43:03.357)
I found that the R6030 runtime error can be resolved by changing Microsoft IME in some computer, however, another computer cannot. For this case, please uncheck "image protect service" at windows - start - msconfig - service tab
shallwig  (posted 2015-12-11 02:41:23.0)
This is a response from Stefan at Thorlabs. Thank you very much for your valuable feedback . This solution hopefully also helps other customers who face this problem.
hcn  (posted 2015-08-16 23:39:01.363)
My device keeps showing runtime error message even after changing Microsoft IME. How to resolve it in my case
shallwig  (posted 2015-08-17 09:29:53.0)
This is a response from Stefan at Thorlabs. Thank you very much for your inquiry and pleas apologize the problems you face with the beam profiler software. The runtime error r6030 can occur on Japanese and Chinese operating systems when Microsoft office is installed. This error is caused by changing the input method editor (IME) after installation of MSOffice 2010. In the manual on page 126 http://www.thorlabs.de/thorcat/21400/BP209-VIS-Manual.pdf you can find a screenshot showing how to resolve this by setting the IME back to standard Microsoft IME. I will contact you directly to troubleshoot this in more detail.
patrick.lu  (posted 2015-05-15 20:56:25.763)
I have a question about the optical measurement plane. In your CAD drawing it is 2.1mm inside the device, but I cannot tell if that is measured from the front or rear surface. We are producing a 4 micron diameter spot size using an objective lens. The working distance is pretty small, so I would like to know if it will be possible to position the lens close enough to the device to place the focal point at the plane of beam measurement. Also, will the device work if it is not placed upright? Our beam propagation is in the upwards vertical direction, so we would have to lay the BP209 face down on some kind of fixturing to allow the beam to be captured.
tschalk  (posted 2015-05-18 09:53:48.0)
This is a response from Thomas at Thorlabs. Thank you very much for your inquiry. The measurement plane is located 2,1mm inside the device measured from the front surface. For beam diameters below 20µm the knife edge mode has to be used. Detailed information about that mode can be found in the manual at section 4.3.8 Knife Edge Mode. The device can also be used in a horizontal position but you have to take care that you dont affect the rotating drum in order to avoid a damage of slits. I will contact you directly with more detailed information.
spreemanm  (posted 2015-04-07 10:45:46.69)
Is it possible to get a trigger out signal, or real time photodetector reading for synchronization of the measurements to other events?
shallwig  (posted 2015-04-13 03:23:40.0)
This is a response from Stefan at Thorlabs. Thank you very much for your inquiry. At the moment it is unfortunately not possible to offer this device with a trigger output. We cannot offer a software trigger as a very precise determination of the slit position is not possible with our software. From the beam profilers housing design there is not enough space for integrating a hardware trigger. The built in encoders only have a limited accuracy in position determination thus the internal feedback circuit readjusts the rotation speed all the time. Therefore it is difficult to get out a trigger signal very precisely each time the slit crosses the beam. We have contacted you directly to discuss your application in more detail and to check if there is a possibility to implement a trigger in the future.
y.s.yong  (posted 2015-03-13 15:33:25.343)
I would like to program the beam profiler to switch to knife-edge mode while scanning it along the beam propagation direction. Could you please publish the necessary Labview routine needed to get the Gaussian beam widths read-out under knife-edge mode, as well as the routine needed to switch it back to scanning-slit mode?
shallwig  (posted 2015-03-16 07:56:31.0)
This is a response from Stefan at Thorlabs. Thank you very much for your inquiry. With the current driver version on our homepage it is not possible to switch between knife-edge and scanning-slit method. We are working on a Beta version of a new driver where these features will be implemented. This version is supposed to go online in about 3-4 weeks. I will send you by mail a Labview example for the knife edge mode which will also allow you to create an application to switch between knife edge and scanning slit method. I will contact you directly to discuss your project in more detail.
user  (posted 2015-03-02 15:07:14.1)
I downloaded the ThorlabsBeam_v6.0.783.2494, try to run ThorlabsBeamviewLabviewSample.vi, but said Qtcore4.dll is missing. where to find this file?
tschalk  (posted 2015-03-04 06:23:39.0)
This is a response from Thomas at Thorlabs. Thank you very much for your inquiry. The Qtcore4.dll should be located in the following folder: C:\Program Files (x86)\Thorlabs\Beam - Beta. Please contact europe@thorlabs.com if you dont find it there or if you have any additional questions.
user  (posted 2015-02-12 14:16:38.29)
Where can I find the Labview vi for BP209-IR?
tschalk  (posted 2015-02-13 04:27:44.0)
This is a response from Thomas at Thorlabs. After the installation of the Beam Software you can find the LabVIEW VIs at the following location on your computer: C:\Program Files\National Instruments\LabVIEW 2012\instr.lib\TLBP2. I will contact you directly with further details.
tebeech  (posted 2014-11-25 16:08:40.06)
Hello, I would like to separately purchase the mounting adapters for the BP209 that come as part of the M2MS purchase. Is this possible? Thank you, thomas
shallwig  (posted 2014-11-26 06:42:47.0)
This is a response from Stefan at Thorlabs. Thank you very much for your inquiry. We will contact you directly and provide you with a quote for this part.
acb  (posted 2014-11-25 09:50:25.183)
The LabVIEW files does not contain an example of a M^2 measurement. I can see that Stefan from ThorLabs are working on a M^2 driver - for LabVIEW perhaps? I would very much appreciate this feature.
shallwig  (posted 2014-11-25 06:13:55.0)
This is a response from Stefan at Thorlabs. Thank you very much for your inquiry. We are still working on programming an M2 driver which will also include a Labview example of an M2 measurement. We will be able to provide this driver in the first quarter next year. I will contact you directly and inform you as soon as this update is available.
johanna.tragardh  (posted 2014-10-08 18:11:20.103)
Hi, 1) Is there example code available for the BP104 for labview? The installed files seems to be only for BP2xx (I can find the subvi:s for BP104, no problem, but not the sample code). 2) Could you consider in the next release of the software to include the possibility of plotting a time trace of the beam width along with the position, power etc. ? Thanks!
shallwig  (posted 2014-10-09 06:15:26.0)
This is a response from Stefan at Thorlabs. Thank you very much for your inquiry. For the discontinued BP104 we unfortunately have no Labview example code available, only for the BP2xx series. At the moment we are programming a new M2 driver which will also have an example code for the BP1xx beam profilers. To your second question. With our latest Beam software version (6.0) you can already plot the power, position and beam stability versus time. In one of our next versions we will also implement the possibility to plot a time trace of the beam widths. I will contact you directly and provide you with information about when both, a new software and the M2 driver will be available.
borisinstereo  (posted 2014-09-10 16:43:41.92)
Please consider shipping this product with a 90-degree elbow USB connector. This reduces the depth of the instrument by a couple of inches, making it a lot easier to insert into a setup.
shallwig  (posted 2014-09-11 06:14:19.0)
This is a response from Stefan at Thorlabs. Thank you very much for your feedback. We will discuss internally with the responsible product engineers which connectors we could offer here. I will contact you directly to discuss the needs for you application in detail.
kuw4214  (posted 2014-05-20 09:44:56.54)
I need the beamprofiler for the below laser spec. 1) Current power : 200~240VAC, 50/60Hz 2) Consumption power : 2.3KVA 3) Crystal material : Nd:YAG 4) Wavelength : 532?, 1064? 5) Pulse width(Pulse Duration) ?) 532?/1064?(Q-Switched) : 5? ?) 1064?(Non-Q) : 330? 6) Output energy (Beam) ?) 532? : 50~900mJ (50mJ ~ 200mJ?? 10mJ increment, 200mJ ~ 900mJ 25mJ increment) ?) 1064? (Normal) : 100~2000mJ (100mJ ~ 500mJ 25mJ increment, 500mJ ~ 2000mJ 50mJ increment) ?) 1064? (Long) : 100~3200mJ (100mJ ~ 500mJ 25mJ increment, 500mJ ~ 3200mJ 50mJ increment) ?) Laser grade : Class 4 7) OPTIC POWER ?) 532? : 900mJ ?) 1064? (Normal) : 2000mJ ?) 1064? (Long) : 3200mJ 8) PEAK POWER : 400 ?/? 9) Frequency : 1? ~ 10? 10) Spot size : 2? ~ 10?(1? increment) Please check this inquiry and let me have the quotaiton and products information. Best regards. Paul Kim.
tschalk  (posted 2014-05-21 09:36:39.0)
This is a response from Thomas at Thorlabs. Thank you very much for your inquiry. Because of the low rep rate of your laser source a slit beam profiler is not suited for your application. We can offer a CCD camera beam profiler BC106N-VIS which is also able to determine the profile of a single pulse. Please note that damage threshold data is currently not available for our beam profilers. For use with pulsed lasers, we recommend the following procedure as a guideline for determining a safe upper limit: Set the beam profiler to the maximum integration time (i.e., set the exposure to 1 s). Slowly increase the power until your signal reaches approximately 50% of the intensity as shown in the Profile window of the Beam software package. Multiply this power by a factor of 10. This is the safe upper limit of the mean pulse power for the beam profiler. I will contact you directly to discuss your application.
user  (posted 2013-11-22 15:52:26.423)
I am measuring the profile of a diode laser. It has a lot of secondary lobes that are wrecking the fit. Can I threshold the fit to get a better reading?
tschalk  (posted 2013-12-02 03:45:51.0)
This is a response from Thomas at Thorlabs. Thank you very much for your inquiry. In this case, it could be helpful to use the Baseline Correction. It would be great if you could contact me at europe@thorlabs.com to discuss your application.
xgsun  (posted 2013-07-25 09:13:00.407)
I am trying to measure the beam profile of the out of a optical fiber. the waist is located ~1mm from the fiber tip. I tried to put the fiber tip as close to the drum surface as possible. But I can get to the wasit. Is the slit located behind the drum surface ~2mm?
tschalk  (posted 2013-07-26 08:16:00.0)
This is a response from Thomas at Thorlabs. Thank you very much for your inquiry. You can find the detailed information about the dimensions in the manual (https://www.thorlabs.de/Thorcat/21400/BP209-VIS-Manual.pdf) in section 7.2.5.2: Slit and Photodiode Position. There you can see that the slit is located 2.07mm behind the surface of the beam diameter. I will contact you with more detailed information.
jvigroux  (posted 2013-02-26 04:17:00.0)
A response from Julien at Thorlabs: Thank you for your inquiry. The reading values depends on the parameters setting of the beam profiler, so that based on the setting used in your program, it might be that the software will give different results. I will contact you dircetly to help with the troubleshooting.
jlow  (posted 2012-10-05 09:12:00.0)
Response from Jeremy at Thorlabs: The distance from front surface to the photodiode is 7.40mm for the BP104-IR and 6.90mm for the BP109-IR. The tolerance is about 0.20mm. You can also find out more about the slit and photodiode position for our BP series beam profilers in Section 7.4.5.2 of the manual.
minseog  (posted 2012-10-05 06:35:40.0)
I have BP104-IR and BP109-IR. In M2 measurement the the waist position is displayed as the result. But how can we know the exact focal length of the beam propagated? I think I need to know the exact Ge sensor position or distance from the front surface of the BP109-IR. Waiting for your quick reply.
jlow  (posted 2012-08-16 09:16:00.0)
Response from Jeremy at Thorlabs: You should be able to use the drivers with Visual Basic (VB). Unfortunately we do not offer a VB example program and we would not be able to provide support for this. You can use more than one beam profiler in the same computer but you would need to run two instances of the software (if you use our software).
ux7516  (posted 2012-08-13 11:02:42.0)
I want to use BP109. I has the questions. 1) Can I use Visual Basic6? 2) Can I use two BP109 in a computer?
jvigroux  (posted 2012-06-14 07:46:00.0)
A response from Julien at Thorlabs: Thank you for your inquiry. There is a priori no absolute time interval within which the beam profiler necessarily needs to be calibrated. This will largely depends on the use that is made of it and the environment within which it is used. We recommend however sending the device about once year to ensure the best possible functionality.
ebrud  (posted 2012-06-12 13:01:12.0)
Hi, we had BP-109-IR, could you inform me as soon as possible does this device need regular factory calibration after some usage period or no? If yes, in which period does it need calibration and do you calibrate when we sent it to you? Thanks in advance.
jvigroux  (posted 2012-04-27 09:44:00.0)
a response from Julien at Thorlabs: Thank you for your inquiry! This problem might be related to the fact that the NI runtime engine is not installed on your computer. I will contact you to troubleshoot this issue.
danielle.wuchenich  (posted 2012-04-26 18:41:06.0)
Just bought a BP109-IR profiler. The Thorlabs Beam Application (4.0, Build 128, Qt 4.7.1) works fine, although the "Start NI Network Variables" option under the Control drop-down menu is greyed out. When running the included sample VI from Labview, cannot connect to the profiler. Running Labview 2009. Please advise if you need more details and how to fix Profiler/LabVIEW error.
jvigroux  (posted 2012-03-20 08:06:00.0)
A response form Julien at Thorlabs: This error is very surprising. I suspect that the problem is related to the higher power that is being used. I will contact you directly as some further information would be required in order to find out what the exact origin of the problem is.
hbal9604  (posted 2012-03-19 20:15:15.0)
Our lab has purchased the following laser beam profiler from Thorlabs: BP104-IR We are trying to use this item to profile a laser beam with a wavelength of 1550 nm. The unit we are using to produce the laser beam is an amplifier from NP Photonics, which enables us to output powers ranging from 40 mW to about 5 W. I have been attempting to use the BP104-IR to perform this profiling. However it seems that the beam computer software 'crashes' when I attempt to use the BP104-IR for powers greater than 65 mW. The profiler does work for powers below 65 mW, however if we exceed this threshold, the following error occurs: "The Beam Profiler device has been removed. Please reconnect the Beam Profiler, refresh the device and select the device again" I have been unable to resolve this issue by consulting the operation manual, and there fore am seeking technical support and advise to overcome this issue. Please get back to me ASAP regarding this issue Thank you
bdada  (posted 2011-12-26 09:19:00.0)
Response from Buki at Thorlabs: I am sorry to hear about the problem you experienced with the BP104-IR2 beam profiler. We will contact you to set up the return and replacement of the unit.
ppa.jacquet  (posted 2011-12-22 16:24:19.0)
We just bought an 104-IR2. We got a warning for too high power even without any beam reaching the profiler. The power is below 10 mW with a beam of ~1 mm diameter at around 900 nm.
jvigroux  (posted 2011-12-06 12:41:00.0)
A response from Julien at Thorlabs: this type of measurement is in principle possible but there will be several points to carefully consider in order to ensure the best possible measurement accuracy. For instance, you will need to ensure that the beam power is strongly reduced to avoid damage. Also, due to the large tuning range of this system, you will only be able to measure a portion of the spectral range with a given beam profiler. Finally, the fact that the laser is pulsed will tend to increase the measurement time for a given profile. We would be happy to further discuss all those points and help you in your choice of beam profiler. Please feel free to contact us any time at techsupport@thorlabs.com
user  (posted 2011-12-06 10:11:16.0)
Hi, we have a Ekspla NT242 pulsed laser (7ns pulse, 1kHz). Can the focus shape be measured with this scanner?
jvigroux  (posted 2011-05-12 11:46:00.0)
A response form Julien at Thorlabs: The slit is used as a mask and the intensity going through this mask is measured by the photodiode. The measurement results thus provides the beam profile along the two scanning axes at the position of the slit.
xiaokangs  (posted 2011-05-11 13:50:25.0)
Is the beam size measured at the slit position or at the photodiode?
tor  (posted 2011-01-04 15:16:05.0)
Response from Tor at Thorlabs to v-nr: 1) Power density of pulses is too high; this may cause damage to the slit. We recommend using wedge filters to attenuate excessive power. 2) BP10x series is not recommended for such asymmetric beam profiles; however, please be guided by the minimum width for power density reasons.
v-nr  (posted 2010-12-13 16:31:05.0)
1). How should I determine the allowed input power in case of pulsed lasers? We use 1.06 µm 45-100 kHz source with 150-200 ns pulse duration, so the peak power is 50-150 times higher then the average power. The beam diameter is usually 600 µm. Should I keep the peak power below 1 W, or it is safe to use any source with average power less then 1 W ? Is it safe to refer to the profiler’s readings when analyzing the usable power level? 2). How should I use the power ranges diagram in case of extremely elliptic beam, e.g. 8:1? Which upper power limit should I take – the one that corresponds to the minimum width, or the one that corresponds to the maximum width? Thank you in advance.
n.andermahr  (posted 2010-10-25 12:58:35.0)
Do you have a demo.vi for LabView customization?
Thorlabs  (posted 2010-10-26 03:42:45.0)
Response from Javier at Thorlabs to n.andemahr: A small example program is included in the drivers download of the BP beam profilers. You can find it in the functions palette > Intrument I/O > Instrument drivers > BP1. You can also find more information on page 88 of the manual (http://www.thorlabs.com/Thorcat/13500/13571-D02.pdf)
Thorlabs  (posted 2010-09-20 17:28:05.0)
Response from Javier at Thorlabs to last poster: Thank you very much for submitting your feedback. We are currently implementing correct measures to improve the performance of our slit scanning beam profilers. Please contact us at techsupport@thorlabs.com for more details.
user  (posted 2010-09-20 12:12:56.0)
Useful product for its price but the Rotation Mount is not firm enough. The Scanning Head can move too much inside the Rotation Mount. We have had to set our rotational position and then glue the Head in the Mount, which is not optimal but works. Otherwise values vary by too much for beams that diverge quickly.
klee  (posted 2009-12-14 16:37:36.0)
A response from Ken at Thorlabs to aditya.suresh: The beam profiler itself does not measure the M2 values. You should take a look at our Complete M2 Analysis Sets (M2SET-VIS or M2SET-IR) instead. You can click on the "Beam Quality Analyzer" under the Related Products above.
aditya.suresh  (posted 2009-12-10 18:31:48.0)
can you let us know if we can use this system to measure M2 values for beam outputs from a fibre? Thanks, A
kenlee  (posted 2009-12-10 11:58:30.0)
A response from Juergen from Thorlabs to bear020121212: 1) You ask, if rotation speed of the drum with slits is influencing the m² result? No, it should not, if the BP10x device settings were made correct. Please explain more detailed, why you are asking that. 2)No, in the SW you can observe either 2D profiles (in real time) or you can watch the virtual (calculated) 3D profile - a slit scanning beam profiler cannot deliver a genuine 3D profile, becaúse the slits are scanning the beam under +45° and -45° angle simultaneously.
bear020121212  (posted 2009-12-10 10:13:51.0)
Is the rotating of slit influence the measurement result of the M square factor of the laser? Could I use this beam profile to observe the 3D or 2D beam distribution simultaneously?
jhartmann  (posted 2009-11-12 17:46:20.0)
A response from Juergen from Thorlabs to c.j.lee: The BP10X beam profilers are based on a rotating drum with scanning slits. The source of electrical signal is a photodiode, locate behind the slits inside the drum. As for this, X and Y 2D profiles are real time profiles, as they represent the photodiode current vs. time. The X and Y scans can be saved, which make sense of course only for Gaussian or close to Gaussian beam profiles. A beam profile in 3D in this case can be calculated only, its not a real picture, but just a virtual image - this is the reason why 3D profile cannot be exported as a number or array of data: There is only 1 value changing in time, and this time is formed by human eye to a consistent picture while its actually only a sequence of dots. Analogy: old CRT TV images... "quite messy beams" is clearly NOT a suitable application for any scanning slit beam profiler (not only made by Thorlabs). We offer a camera beam profiler, where the beam profile is represented in a real 3D picture, based on a CCD camera - pixel coordinate and its intensity. The item # is BC106-VIS or -UV. Unfortunately, there is no IR version available due to a lack of IR sensitive CCD image sensors (Si is becoming transparent above 1000nm) So, in order to resolve your issue, Id like to ask you about details on your laser: - type of laser - CW or pulsed? - wavelength - power? - beam diameter? - expected beam shape? - what beam parameters you want to characterize?
c.j.lee  (posted 2009-11-12 09:27:43.0)
We have already purchased the IR version of the beam profiler, but the software has disappointed us somewhat. It appears to be impossible to extract a complete image as an array of values (or as an image, for that matter) from the program. Instead, the program produces a screen shot of the window. I have read the manual and found nothing that looks appropriate. That is, to put it mildly, absolutely pathetic for any use other than generating publicity for Thorlabs. It is especially useless if you are dealing with beams that are quite messy, because you cannot adequately control how the beam parameters are analyzed and the x-y center cuts might not be appropriate. Is there someway to extract this data? Other than to cut out the appropriate part of each screen shot and run them through an image analysis program?
jens  (posted 2009-06-02 20:27:02.0)
A reply from Jens at Thorlabs: the issue here is that your repetition rate is in the same range as the drum scanning frequency. The example in the manual describes repetition rates of the light srouce in the kHz range. With that the drum will see several pulses while it is scanning which will allow it to calculate the beam shape. In your case a CCD based profiler will be the better option. I will contact you directly to discuss next steps and ask our development to add more details regarding the lower limit repition rate to the manual.
stcpe  (posted 2009-06-02 10:22:11.0)
Please, advise, how to synchronize BP109-UV with 10 Hz 18 ns laser. Reading users manual doesnt help, as its imposible to reach necessary parameters using provided software.
Tyler  (posted 2009-04-13 14:46:46.0)
A response from Tyler at Thorlabs to lok.eg: The beam profiler can be used to measure 60 fs pulses for repetition rates above 10 Hz. The damage threshold is dependent on the beam diameter. Because of the short pulse duration, the amplifier will only be sensitive to the average power of the beam, which should be kept below 1 W. Please see the specs tab for how the operating power range is dependent on the beam diameter. Thank you for considering the BP109-UV beam expander. As an alternative you may wish to consider our camera based beam profiler (BC106-UV).
lok.eg  (posted 2009-04-03 05:11:13.0)
Is it possible to use BP109-UV with 60 fs pulses? (10 Hz or single pulse; 266, 400, 800 nm; 4 mm) Whats the highest power allowed then?

スリット走査型光ビームプロファイラ

+1 数量 資料 型番 - インチ規格 定価(税抜) 出荷予定日
BP209-VIS Support Documentation
BP209-VISデュアル走査スリット型ビームプロファイラ、200~1100 nm、Ø2.5 µm~Ø9 mm(インチ規格)
¥582,678
3-5 Days
BP209-IR Support Documentation
BP209-IRデュアル走査スリット型ビームプロファイラ、900~1700 nm、Ø2.5 µm~Ø9 mm(インチ規格)
¥661,736
3-5 Days
BP209-IR2 Support Documentation
BP209-IR2デュアル走査スリット型ビームプロファイラ、900~2700 nm、Ø2.5 µm~Ø9 mm(インチ規格)
¥896,461
3-5 Days
+1 数量 資料 型番 - ミリ規格 定価(税抜) 出荷予定日
BP209-VIS/M Support Documentation
BP209-VIS/Mデュアル走査スリット型ビームプロファイラ、200~1100 nm、Ø2.5 µm~Ø9 mm(ミリ規格)
¥582,678
Today
BP209-IR/M Support Documentation
BP209-IR/Mデュアル走査スリット型ビームプロファイラ、900~1700 nm、Ø2.5 µm~Ø9 mm(ミリ規格)
¥661,736
Today
BP209-IR2/M Support Documentation
BP209-IR2/Mデュアル走査スリット型ビームプロファイラ、900~2700 nm、Ø2.5 µm~Ø9 mm(ミリ規格)
¥896,461
3-5 Days

M²測定用増設セット

Item #M2MSM2MS-AL
Wavelength Range400 - 2700 nma250 - 600 nma
Beam Profiler CompatibilitybBC106N-VIS(/M)
BP209-VIS(/M)
BP209-IR(/M)
BP209-IR2(/M)
BC106N-UV(/M)
BP209-VIS(/M)
Translation StageDDSM100/M
Travel Range100 mm
Velocity (Max)500 mm/s
Effective Translation Range200 mm (Total)
±100 mm (from Focal Point)
Lens Focal Length250 mm
Optical Axis Height70 mm
(Without Additional Feet)
M² Measurement Range>1.0 (No Upper Limit)
Typical M² Accuracy±5%
(Depends on Optics and Alignment)
Minimum Detectable Divergence Angle<0.1 mrad
Applicable Light SourcesCW, Pulseda
Typical Measurement Time15 - 30 s
(Depends on Beam Shape and Settings)
General Specifications
Size300 mm x 175 mm x 109 mm
(Without Beam Profiler)
Weight 4.2 kg
(Without Beam Profiler)
  • 使用するビームプロファイラによって異なります。
  • こちらの増設セットは旧モデルのビームプロファイラBP10xシリーズにもお使いいただけます。
  • スリット走査型ビームプロファイラBP209対応のM²測定システム
  • 250~600 nmまたは400~2700 nm用ミラー付き
  • カメラ型BC106Nシリーズならびにスリット走査型BP209シリーズのビームプロファイラ取り付け用アダプタが付属
  • アライメントレーザが付属

こちらの増設セットは、お手持ちの当社製ビームプロファイラ(カメラ型およびスリット走査型)を利用して、全自動M²測定システムを構築できるよう設計されています。 M2MSの内部ミラーの波長範囲は400~2700 nm、M2MS-ALについては250~600 nmとなっております。 入力ポートにあるマグネット付きマウントにより、付属のARコーティング付きレンズ(下の枠内参照)が簡単に交換でき、お使いになるレーザ光源用に最適化されたシステムが構成できます。

ビームプロファイラと集光レンズは定位置に固定されます。 M2の測定には、移動範囲200 mm、最高速度500 mm/sを特長とする移動ステージDDSM100/Mに取り付けた可動式レトロリフレクタを使用して光路長を変更します。

M²測定システムの側面にはUSB 2.0ハブが内蔵されており、ハブにはビームプロファイラ用のポート、USB接続温度・湿度コントローラTSP01などのデバイス用のポート、そしてPC接続用mini USBポートが含まれています。 システム内の移動ステージもこのハブを経由してPCと通信します。 システムはソフトウェアパッケージ"Thorlabs Beam"で制御します。このパッケージは、当社のビームプロファイラの制御にも使用され(「ソフトウェア」タブをご覧ください)、ビームに関連する様々な測定を正確に行うことができます。

M2測定システムの筐体は、底部4隅にある高さ0.5 mmの脚で支えられています。 ゴム製ダンピング脚RDF1のセットが付属しています。 裏面には5個のM6タップ穴があり、4隅近くのタップ穴を利用して4本のダンピング脚で支える構成、または3本で支える構成に使用されます。

当社の独立型M²測定システム、およびCCDカメラ型ビームプロファイラを組み込んだM²測定システムの詳細はこちらでご覧いただけます。

M2MS-AL*に付属のレンズ

焦点距離250 mmのレンズを
簡単脱着式プレートCXY1QFに取付け済み:

  • LA4158-UV(245~400 nm対応のARコーティング付き)
  • LA1461-A(350~700 nm対応のARコーティング付き)

*波長が短いUV域用のレンズならびに簡単脱着式プレートCXY1QFを別途販売しております。これらによりシステムのカスタム化が可能です。

M2MS*に付属のレンズ

焦点距離250 mmのレンズを
簡単脱着式プレートCXY1QFに取付け済み:

  • LA1461-A(350~700 nm対応のARコーティング付き)
  • LA1461-B(650~1050 nm対応のARコーティング付き)
  • LA1461-C(1050~1700 nm対応のARコーティング付き)
  • LA5255-D(1650~3000 nm対応のARコーティング付き)

*波長が長い赤外域用のレンズならびに簡単脱着式プレートCXY1QFを別途販売しております。これらによりシステムのカスタム化が可能です。

その他の部品

  • アライメント用のレーザ
  • USB 2.0ケーブルMini Bタイプ、3 m
  • USB 2.0ケーブルMini Bタイプ(角度付き)、0.5 m
  • 15 V、3.0 A電源
  • 0.05インチ六角レンチ
  • 3 mmボール(六角)ドライバ
  • レール用クランプ 4個
  • M4キャップスクリュ 6個
+1 数量 資料 型番 - ユニバーサル規格 定価(税抜) 出荷予定日
M2MS Support Documentation
M2MSM²測定用増設セット、400~2700 nm
¥807,476
3-5 Days
M2MS-AL Support Documentation
M2MS-ALM²測定用増設セット、250~600 nm
¥807,476
Lead Time
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