M²測定システム


  • Complete M2 Measurement Systems for UV, Visible, and IR Wavelengths
  • For CW & Pulsed Sources

M2MS-BP209IR

M2 Measurement System
with a Scanning-Slit Beam Profiler

 

The M2 measurement system
uses a retroreflector to change
the position of the beam waist
with respect to the beam profiler.

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M2 System Alignment Laser
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ビームプロファイラの位置に取り付けられたアライメントレーザ(付属品)。アライメントレーザ光が入射開口部の中心から出力するようにM2測定システムの光軸を調整します。

特長

  • レーザービーム品質を測定する単独システム
  • M2、広がり角、集光径、ウエスト位置、レイリ長などのビーム特性を測定
  • ビームプロファイラに関する3つの選択
  • 250 nm~2700 nmのいずれかの波長帯に対応、種類については下の表をご覧ください。
  • ビーム品質測定はISO11146に準拠

当社のM2測定システムは、M2、広がり角、集光径、ウエスト位置、レイリ長などのレーザービームの品質測定を行うスタンドアローン型のシステムです。250 nm~2700 nmのいずれかの波長帯に対応したバージョンをご用意しております。スリット走査型ビームプロファイラ付きまたはビームプロファイラが付属しないシステムからお選びください。システムにはそれぞれレンズ一式、アライメントレーザ、そして様々なアクセサリが付属しています。構成については下の表をご覧ください。

M2ファクタは、ビーム品質を表す測定値です。このパラメータは、波長が同じビームついて、回折限界ガウシアンビームのビームパラメータ積(ウェストサイズとファーフィールド発散角の積)と、対象となるレーザー光のビームのビームパラメータ積の比として定義されます。この値が1の時は純粋なTEM00ビーム(あるいは回折限界ビーム)であることを示しています。1より高い値は、ビームが厳密にはTEM00ビームではないことを意味しています。M2パラメータの詳細については製品マニュアルをご参照ください。

当社のスリット走査型ビームプロファイラは、疑似ガウシアンビームに対応します。スリット走査型ビームプロファイラは2本の直交軸に沿ってビームを部分的にサンプリングしながらパワー測定を行い、ビームプロファイルはこれらの測定データから再構成されています。スリット走査型ビームプロファイラは、カメラ型ビームプロファイラよりも広い波長範囲で動作し、より高出力のビームにも対応可能です。パルスレーザービームについては、スリット走査型では平均化技術を使用して測定を行い、カメラ型は1レーザーショットを使用して測定できます。

当社のビームプロファイラ用増設セット
ビームプロファイラが付属しない増設セットは、別途ご購入済みの当社のビームプロファイラ1つ以上にM2測定機能を追加したいお客様向けにご提供しております。増設セットは、スリット走査型ビームプロファイラBP209、または当社の旧世代スリット走査型ビームプロファイラBP10xシリーズを全自動、電動式M2解析システムに変換します。増設セットには、スリット走査型両方のビームプロファイラ用の取付けアダプタが付属します。このアダプタにより、プロファイラ入力ポートがM²解析システムを通る光路と同じ高さになります。

M2 System Lens Holder
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各M²測定システムには、様々な波長範囲用に最適化されたARコーティング付きレンズが付属します。レンズは簡単脱着式のキャリッジに取り付けられているため、簡単に交換ができます。

M2測定技術
M2測定システムは、筐体内を移動するミラーでビームの光路長を変化させながら測定を行います。動作中、筐体の前面に取り付けられた集光レンズとビームプロファイラは動きません。2枚のミラーがレトロリフレクタを形成し、移動ステージDDSM100/M(旧製品)上に取り付けられています。M2MSベースのシステム内のミラーは400 nm~2700 nmの波長用、M2MS-ALベースのシステムは250 nm~600 nmの波長用に最適化されています。ビームの光路長は200 mm変動可能(焦点面を中心に-100 mm~+100 mm)で、これはステージが100 mmにわたって移動することに相当します。ステージの最大速度は500 mm/sで、典型的な測定時間は15~30秒です。

アライメントレーザとその他付属するアクセサリ
システムには焦点距離が250 mmのレンズ一式、アライメントレーザ、その他アクセサリがそれぞれ付属しています。M2MSベースのシステムに付属するレンズセットは、350 nm~3000 nmの波長に対応し、M2MS-ALベースのシステムには290 nm~700 nmに対応するレンズセットが付属します。左の写真のように、ARコーティング付きのレンズが簡単脱着式プレートCXY1QF付きのXY移動マウントCXY1Qで入射ポートに取り付けられているため、レンズの交換と±1 mmの調整が簡単に行えます。各システムに付属するレンズについては、「発送リスト」タブをご覧ください。アライメントレーザは、M2測定システムの粗アライメントに便利なツールです。右上の写真のように、アライメントレーザはビームプロファイラの位置に設置されます。アライメントレーザービームは入射ポートの中心に当たるように調整します。調整は、金属ミラーあるいは誘電ミラーを取り付けたキネマティックミラーマウントにより行います。テストレーザのアライメントが終了したらアライメントレーザを取り外し、ビームプロファイラを元の位置に設置してください。

ソフトウェアBeamとプログラミングガイド
M2測定システムは当社のソフトウェア「Beam」で制御します。このソフトウェアは、当社のビームプロファイラの制御にも使用され、ビームに関連する様々なパラメータを正確に測定することが可能です。ソフトウェアの機能とGUIの概論については「ユーザーインターフェイス」タブを、特定のシステムの詳細についてはマニュアルをご覧ください。ソフトウェア、ならびにLabVIEW™、Visual C++、Visual C#、Visual Basic用プログラミングリファレンスガイドは「ソフトウェア」タブからダウンロード可能です。

筐体の特長
M²測定システムの側面には様々な周辺機器用のポートが付いています。USB 2.0(type A)ポートが2つあるので、ビームプロファイラ以外にもUSB温湿センサTSP01などその他のデバイスの接続にご使用いただけます。フォノジャックはアライメントレーザの電源供給に使用でき、mini-B USBポートは制御PCの接続に使用可能です。 システム内の移動ステージもこのポートからPCと通信します。

M2測定システムは、筺体の底部は0.5 mmリリーフカットされており、4隅には脚部があります。ゴム製ダンピング脚RDF1が1セット付属します。脚を取り付けるためのM6タップ穴は5個あり、4本の脚で支える構成と3本の脚で支える構成に使用されます。システムを光学テーブルに固定するためのテーブルクランプCL6も4個付属します。

Item #aM2 System
Wavelength Range
Included Beam ProfilerMirrorsbWavelength Range 
Covered by Lensesc
TypeWavelength RangeItem #TypeWavelength Range
M2MS-AL250 - 600 nmdNoneeAluminum250 - 600 nm245 - 700 nm
M2MS400 - 2700 nmdProtected Silver400 - 2700 nm350 - 3000 nm
M2MS-BP209VIS-AL(/M)250 - 600 nmScanning Slit200 - 1100 nmBP209-VIS(/M)Aluminum250 - 600 nm245 - 700 nm
M2MS-BP209VIS(/M)400 - 1100 nmProtected Silver400 - 2700 nm350 - 3000 nm
M2MS-BP209IR(/M)900 - 1700 nm900 - 1700 nmBP209-IR(/M)Protected Silver400 - 2700 nm350 - 3000 nm
M2MS-BP209IR2(/M)900 - 2700 nm900 - 2700 nmBP209-IR2(/M)Protected Silver400 - 2700 nm350 - 3000 nm
  • ミリ規格とインチ規格の違いはこれらのタップ穴のネジ規格のみとなります。
  • システム内のミラーは取り外すことができません。
  • UV域ならびに赤外域で使用するレンズは、別途ご用意しております。追加の取付け用キャリッジCXY1QFも別途ご購入が可能です。
  • 対応する波長範囲。M2システムそれぞれが対応する波長範囲は、システムに組み込まれたビームプロファイラにより決まります。
  • ビームプロファイラBP209用のアダプタは付属します。
  • カメラセンサにはLumigenコーティングが施されています。

下記のリンクをクリックすると、各セクションへ移動します。

 

デュアル走査スリット型ビームプロファイラ付きM²解析システム

Item #M2MS-BP209VIS-AL(/M)M2MS-BP209-VIS(/M)M2MS-BP209IR(/M)M2MS-BP209IR2(/M)
Beam Profiler Item #BP209-VIS(/M)BP209-IR(/M)BP209-IR2(/M)
System Wavelength Range250 - 600 nm400 - 1100 nm900 - 1700 nm900 - 2700 nm
Beam Diameter Range20 µm - 9 mm (at Beam Profiler Input Aperture)a
Power Range1 µW to 10 W (Depending on Beam Diameter; See Plot Below Right)
Translation StageDDSM100/Mb
Travel Range100 mm
Velocity (Max)500 mm/s
Effective Translation Range200 mm, -100 mm to +100 mm from Focal Point
Lens Focal Length250 mm
Optical Axis Height70 mm (Without Additional Feet)
M² Measurement Range≥ 1.0 (No Upper Limit)
Typical M² Accuracy±5%, Depending on Optics and Alignment
Accepted Beam Diameter
for 5% Uncertainty
20 µm - 4.5 mm (at Beam Profiler Input Aperture)
Minimum Detectable
Divergence Angle
< 0.1 mrad
Applicable Light SourcesCW and Pulsed Sources ≥300 kHz
Typical Measurement Time15 - 30 s (Depending on Beam Shape and Settings)
General Specifications
Size300 mm x 175 mm x 130 mm
Weight4.6 kg
  • 標準モードのビームプロファイラが測定可能なビーム径範囲。スリット走査型ビームプロファイラにはØ2.5 µmまでのビーム径が測定できるナイフエッジモードもありますが、このモードはM²または広がり角の測定には使用しないでください。
  • 旧製品のため、単体ではご購入いただけません。
Range of Accepted Beam Diameters
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M²測定システムが解析可能なビーム径(入力レンズ部における)の範囲。2つのケースM² = 1ならびにM² = 2では、波長により上のグラフのとおり制限(上限および下限)があります。この範囲は、M²とレイリ長などの関連パラメータの測定のみに適用されます。標準的なビーム解析や広がり角などの測定には、すぐ上の表に記載されている標準的なビーム径範囲が適用されます。

BP209 Series Operating Ranges
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ビームパワーの最大リミット値および最小リミット値を、1/e2ビーム径の関数として表示しています。これらはナイフエッジモードおよび走査スリットモードによる測定のためのリミット値で、全パワーの測定には適用できないことがあります。詳細については スリット走査型ビームプロファイラの製品ページをご覧ください。測定ヘッドを熱的ダメージから保護するために、1 Wを超える入射パワーに対して5秒以上の使用はしないでください。

 

M²解析システム、付属のビームプロファイラ無し

Item #M2MSM2MS-AL
Wavelength Range400 - 2700 nma250 - 600 nma
Beam Profiler CompatibilityBC106, BP209, and BP10x Beam Profilers
Translation StageDDSM100/Mb
Travel Range100 mm
Velocity (Max)500 mm/s
Effective Translation Range200 mm, -100 mm to 100 mm from Focal Point
Lens Focal Length250 mm
Optical Axis Height70 mm (Without RDF1 Feet Installed)
M² Measurement Range≥ 1.0 (No Upper Limit)
Typical M² Accuracy±5% (Depending on Optics and Alignment)
Minimum Detectable Divergence Angle< 0.1 mrad
Applicable Light SourcesCW, Pulseda
Typical Measurement Time15 - 30 s (Depending on Beam Shape and Settings)
General Specifications
Size300 mm x 175 mm x 109 mm (Without Beam Profiler)
Weight4.2 kg
  • 使用するビームプロファイラに依存します。波長範囲はレトロリフレクタに使用されているミラーの波長範囲です。M2MS-ALには250~700 nmに対応するARコーティング付きレンズが一式、M2MSには350~1700 nmに対応するARコーティング付きレンズが一式付属しています。赤外域に対応するARコーティング付きレンズ、ならびにそれを取付けるキャリッジCXY1QFも別途ご用意しております。
  • 旧製品のため、単体ではご購入いただけません。
Item #Beam ProfilerBeam Profiler AdaptersIncluded LensesaOther Included Accessories
M2MSNoneAdapters for BC106
and BP209 Beam Profilers
Lenses with f = 250 mm Mounted
in CXY1QF Quick Release Carriage:
LA1461-A (AR Coated for 350 - 700 nm)
LA1461-B (AR Coated for 650 - 1050 nm)
LA1461-C (AR Coated for 1050 - 1700 nm)
LA5255-D (AR Coated for 1650 - 3000 nm)
Alignment Laser
USB 2.0 to Mini B Cable, 3 m
USB 2.0 to Mini B (Angled), 0.5 m
15 V, 3.0 A Power Supplyb
0.05" Hex Key3 mm Balldriver
CL6 Table Clamps (Qty. 4)
M4 Cap Screwsc (Qty. 6)
M2MS-ALNoneAdapters for BC106
and BP209 Beam Profilers
Lenses with f = 250 mm Mounted
in CXY1QF Quick Release Carriage:
LA4158-UV (AR Coated for 245 - 400 nm)
LA1461-A (AR Coated for 350 - 700 nm)
M2MS-BP209VIS(/M)BP209-VIS(/M)Beam Profiler is Pre-InstalledLenses with f = 250 mm Mounted
in CXY1QF Quick Release Carriage:
LA1461-A (AR Coated for 350 - 700 nm)
LA1461-B (AR Coated for 650 - 1050 nm)
LA1461-C (AR Coated for 1050 - 1700 nm)
M2MS-BP209VIS-AL(/M)BP209-VIS(/M)Lenses with f = 250 mm Mounted
in CXY1QF Quick Release Carriage:
LA4158-UV (AR Coated for 245 - 400 nm)
LA1461-A (AR Coated for 350 - 700 nm)
M2MS-BP209IR(/M)BP209-IR(/M)Lenses with f = 250 mm Mounted
in CXY1QF Quick Release Carriage:
LA1461-A (AR Coated for 350 - 700 nm)
LA1461-B (AR Coated for 650 - 1050 nm)
LA1461-C (AR Coated for 1050 - 1700 nm)
LA5255-D (AR Coated for 1650 - 3000 nm)
M2MS-BP209IR2(/M)BP209-IR2(/M)Lenses with f = 250 mm Mounted
in CXY1QF Quick Release Carriage:
LA1461-A (AR Coated for 350 - 700 nm)
LA1461-B (AR Coated for 650 - 1050 nm)
LA1461-C (AR Coated for 1050 - 1700 nm)
LA5255-D (AR Coated for 1650 - 3000 nm)
  • レンズの焦点距離は全て250 mmで、レトロリフレクタが移動ステージの中間点に位置しているときに、完全にコリメートされている光の焦点面がビームプロファイラ位置になるような設計となっています。 標準波長よりも短波長側のUV域または長波長側の赤外域用のレンズや、追加用マグネット付き取付けプレートを別途ご用意しております。ご購入になるとシステムのカスタム化が可能です。
  • 日本国内用に対応した電源ケーブルが付属します。
  • ビームプロファイラのアダプタをM2MSシステムのベースプレートに固定するために使用できる予備用ネジ(1袋6本入り)です。

メインウィンドウ

Beam Profiler General Window
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GUIのメインウィンドウは、メニューバー、ツールバー、ステータスバー、ならびに複数のウィンドウを表示できるフレームで構成されています。この画面には全ての重要な情報を1つのパネル内に表示するビーム設定パネルが表示されています。このパネルはメインウィンドウから別のモニタなどに移動させることが可能です。

M²測定システム用ソフトウェアBeam

  • レイアウトの調整可能なGUI:別の測定結果を表示したウィンドウの作業スペース内での再配置やサイズ変更が可能
  • ISO 11146に準拠したM²および広がり角の測定法
  • データのエクスポート:
    • 測定結果はWindowsからフォーマットを変えてエクスポート可能
    • 試験データを長期にわたり連続保存
  • 合否試験(Pass/Fail)用の合否パラメータのカスタマイズや固定、記憶が可能
  • ビームプロファイルの2次元および3次元表示
    • ピーク、重心、断面プロファイルなどをオーバーレイ表示可能
    • 3次元表示は全方向回転が可能
  • 光パワーの校正により絶対パワー測定が可能
  • TSP01をサポートしているため、長時間測定中における温度ログの取得が可能

当社のM²測定システムとスリット走査型ビームプロファイラは、すべて当社のソフトウェアパッケージBeamを使用しています。下のスクリーンショットでは、主な特長と当社のM²測定システムに使用する際に可能なM²および広がり角の測定、ビームプロファイルの2次元投影、ビームの安定性および位置測定など、主な特長や測定モードをご覧いただけます。

最新版のソフトウェアパッケージBeamは、「ソフトウェア」タブからダウンロードいただけます。

M2測定

M² Measurements
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ビーム径とビームウエスト位置は、M²解析実行後に表示されます。
注: この機能は、M²解析システムがPCに接続されているときのみ有効です。

広がり角の測定

Divergence Measurements
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ビームの広がり角は、M²解析実行後に表示されます。 注: この機能は、M²解析システムがPCに接続されているときのみ有効です。

2次元投影(カメラ型ビームプロファイラのみ)

Beam Profiler 2D View
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この2次元投影グラフはビームプロファイラから得られるイメージを表示していますが、これは関心領域(ROI)における光出力の強度分布を示しています。左側に並んでいるボタンでイメージの保存、xyスケールの表示/非表示の切替え、重心またはピーク位置の表示などができ、またイメージに重ねてビームの楕円近似曲線を表示することができます。

2次元再構成(スリット走査型ビームプロファイラのみ)

Beam Profiler 2D View
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スリット走査型ビームプロファイラは、直交する2本のビームの断面(つまりX軸、Y軸におけるビームプロファイル)のみを測定します。ガウス分布に似たビームプロファイルの場合、ソフトウェアパッケージBeamは、上のスクリーンショットにあるように、2つの断面から2次元再構成を作り出すことができます。左側に並んでいるボタンでイメージの保存、xyスケールの表示/非表示の切替え、重心またはピーク位置の表示などができ、またイメージに重ねてビームの楕円近似曲線を表示することができます。

計算結果

計算結果のウィンドウでは、ビーム幅、重心およびピーク位置、光パワー、楕円率、ビームプロファイルのフィッティングパラメータなど、ソフトウェアによる計算結果を表示します。このパネルには合否試験の結果も表示されます。各パラメータに対して、判定基準となる最大または最小値を設定できます。計算終了後は、それらの結果をtxt、csvまたはxls形式で保存できます。 測定結果、図表やデバイスデータを1つずつ保存する機能に加え、一連の測定結果を自動的に連続保存する機能もあります。

ビームの安定性

Beam Stability
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ビームの安定性ウィンドウでは、安定性の時間変化を記録し表示します。表示オプションでは、重心位置、重心の最終プロット位置、ローリング平均した重心位置、基準位置、最小包含円などの表示が可能です。

重心およびピーク位置のプロット

Plot Position
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このウィンドウでは、X、Yのピーク位置および重心位置の時間変化を表示できます。
System Requirements
Operating SystemWindows® 7 (32 Bit), 7 x64 Edition (64 Bit)
8.1 (32 Bit), 8.1 x64 Edition (64 Bit),
10 (32 Bit), or 10 x64 Edition (64 Bit)
ConnectivityUSB 2.0 High Speed Port
Monitor Resolution1024 x 758 Pixel (Min),
≥16 Bit Color Depth
Processor (CPU)MinimumPentium 4 (2.6 GHz Min),
Intel or A64 3000+ AMD (3.0 GHz Min)
RecommendedIntel Core 2 i5 or AMD Ryzen 5 (3.0 GHz Min) 
Memory (RAM)Minimum4.0 GB RAM
Recommended8.0 GB RAM
Graphics AdapterRequiredOpenGL (Specification GLX 1.3 Up)
MinimumRadeon: X100 Series ≥X850, 
X1000 Series ≥X1600, HD Series ≥2400;
Geforce: 7 Series ≥7600,
8 Series ≥ 8500, 9 Series ≥9600;
Quadro: FX Series ≥FX770M
RecommendedRadeon: HD Series ≥7000;
Geforce: GTX Series ≥500;

ビームプロファイラ用ソフトウェアパッケージ

ソフトウェアパッケージBeamは、下のSoftwareのボタンをクリックすればダウンロードができます。 ソフトウェアのダウンロードページには、LabVIEW、Visual C++、Visual C#、Visual Basicを使用して当社のビームプロファイラとインターフェイスさせるためのリファレンスプログラミングノートもご用意しております。詳細やリンク先についてはソフトウェアダウンロードページの「Programming Reference」のタブをご覧ください。

特長

  • 設定パネル中央に全ての重要な情報を表示
  • 計算結果パネルはカスタマイズ可能
    • 測定パラメータは個別に非表示可能
    • 行の高さ調節が可能
    • 強化されたビームの安定性ウィンドウでは、重心位置の
      全軌跡を包含する最小包含円の測定および表示が可能
  • アライメントウィザードを使用してM2測定システムM2MSの
    正確なアライメントが可能
  • 英語、ドイツ語、中国語の設定が可能

ソフトウェア

バージョン 7.1.4871.269(2021年6月21日)

32ビットならびに64ビット版Windows対応スタンダードパッケージ完全版です。標準的な用途でデバイスを動作させる際のドライバならびにグラフィカルユーザーインターフェイスが付属します。

Software Download

Posted Comments:
Grzegorz Zeglinski  (posted 2021-07-02 08:51:27.58)
Hi, I have BP104-IR (800-1700nm) number M00245811 and original CD with software for BP v 2.8. CD has applcation software, drivers libraries and manual. I have original printed-manual. Problem any software (V2.8, v.6.0, v6.2, v7) doesn't see driver BP! I read info form manual and form files but it doesn't work. I check it in XP-32 nad win7-64. I wiil be very grateful for help. Some years ago the BP was working. Cabel USB is original. Best Regards Grzegorz ZEglinski
MKiess  (posted 2021-07-06 07:49:15.0)
Dear Grzegorz, thank you very much for your inquiry. I have contacted you directly to provide further assistance and troubleshooting.
Luke Parker  (posted 2021-04-21 13:10:18.443)
Want to speak about the technical capabilities of this measurement system and training on use. Want to ensure this is the correct setup for measuring the welding beams at our plant prior to ordering. Also interested in discussing options for temporal beam profiling.
soswald  (posted 2021-04-23 10:57:35.0)
Dear Luke, thank you for your feedback. I have contacted you directly to discuss your application in more detail.
user  (posted 2021-03-03 20:37:55.623)
The documentation related to this M^2 measurement system was AMAZING! I just wanted to give kudos to whoever wrote it. There are sections in there that are better and more useful than many white papers I have read. No questions here, just please let the author know they did a great job.
MKiess  (posted 2021-03-05 06:51:34.0)
Thank you very much for this feedback. We are glad to hear that you are satisfied with the documentation of the M^2 system and that you like the comprehensiveness of the descriptions.
Alexander Radnaev  (posted 2020-10-27 09:57:13.607)
Hello, when can we expect Python API for the wonderful M^2 measurement system and the beam profilers? Python is one of the most modern, useful, convenient, ubiquitous programming languages - would be great for your devices to support it. https://www.northeastern.edu/graduate/blog/most-popular-programming-languages/ Thanks!
MKiess  (posted 2020-10-28 10:33:46.0)
Dear Alexander, thank you very much for the feedback. Unfortunately, there is no driver available for the complete M2 system at the moment. In general it is possible to program the optical delay line within the M2 system and the Beam Profiler individually. This means that the combination of optical delay line and Beam Profiler is possible, but there are no commands available e.g. for measuring the divergence or the M2 value. These would have to be programmed by the user.
Alexander Radnaev  (posted 2020-09-03 09:44:38.713)
Overall pretty good product, but there is one big gap in the software data analysis: while it supports Gaussian fit for a given profile, there is no way to use beam diameter extracted from Gaussian fit to be used in the actual M^2 scan and measurement based response from the technical support. It's a big problem because available 4 sigma method (the ISO deterministic second moment statistic) and clip (find 13.5% level datapoint) methods can be vastly wrong (by a factor of 2x, 100% error) - because they either too sensitive to noise or structure of the beam. I've spent hours with technical support just to get an answer that the software down't support Gaussian fit for M^2 scan measurement (see CAS-291612-F7M0B8 case). My wish Thorlabs invests into adding option "beam diameter from Gaussian fit" into the "Beam Quality Settings -> Beam Width for M^2 Measurement" in addition to the 5 options (see page 121 https://www.thorlabs.com/_sd.cfm?fileName=MTN003822-D02.pdf&partNumber=M2MS-BC106VIS)
dpossin  (posted 2020-09-07 07:38:59.0)
Dear Alexander, Thank you for your feedback. I will discuss this with our development engineers and reach out to you via mail.
user  (posted 2020-07-21 21:23:59.38)
Hi, I have two M^2 systems, and would like to know the reference plane for the two systems. Also, doe the thorlabs software account for chromatic shift of the ideal focus when changing the wavelengh?
dpossin  (posted 2020-07-27 05:59:41.0)
Dear Customer, Thank you for your feedback. The distance between the plane of the beamprofiler and the reference plane of the M2 system is measured during manufacturing and can be found out with the serial number. Typically the distance is about 126mm. It is not needed to know the exact focal lenght in order to determine the M2 value. All you need is the divergence angle, the beam waist and the wavelength but there is no chromatic aberration correction. I am reaching out to you in order to provide further information.
user  (posted 2020-03-07 18:30:17.113)
While using your BC106NVIS/M meter, I have two questions: 1) Do the hyperbolic fit parameters correspond to the beam focused by the lens or to the tested beam? 2) What is the reference plane (Z=0) for the "Beam waist position" parameter? Thanks in advance.
nreusch  (posted 2020-03-09 08:12:39.0)
This is a response from Nicola at Thorlabs. Thank you very much for your inquiry. The hyperbolic fit parameter corresponds to the focused beam. You can derive the respective values of the tested unfocused beam before the lens. We are currently working on a software solution that will make it more convenient to retrieve these data. I will contact you directly to discuss the calculation of the parameters before the lens and send you a drawing that shows the position of the reference plane.
buk  (posted 2017-08-16 13:45:08.627)
Hi, I need to characterise lasers from 355 nm to 2um. The M2MS-BC106VIS/M indicated the mirrors are able to reflect well only above 400 nm. So at 355 nm the model I am choosing can still measure the UV laser beam for the M2 system?
mvonsivers  (posted 2017-08-17 04:59:53.0)
This is a response from Moritz at Thorlabs. Thank you for your inquiry. The mirrors have a protected silver coating and you can find a typical reflectance plot in the link below. https://www.thorlabs.com/newgrouppage9.cfm?objectgroup_id=903 At 355 nm the reflectance is typically about 80% but it is falling off steeply. Due to variations between different coating runs the reflectance could also be significantly lower. Also please note that the beam profiler is only sensitive up to a wavelength of 1100 nm. We will contact you directly to discuss alternative options.
marcus.roeppischer  (posted 2017-02-14 02:04:05.767)
Is it possible to use the product for collimated Laser to measure the divegence angle?
tcampbell  (posted 2017-02-14 08:53:23.0)
Response from Tim at Thorlabs: thank you for your feedback. Yes, these systems can be used to measure the divergence of a beam. Details on beam divergence measurement can be found in the manual for each beam profiler.
david.szwer  (posted 2015-09-23 11:56:19.11)
To follow up Amanda's question, I use the M2MS without a lens, to profile a converging beam. It would be helpful to be able to relate the z-position of the waist to a physical position - e.g. adding a number to get the distance from the front edge of the M2MS's baseplate. That would be a helpful addition to the manual.
shallwig  (posted 2015-09-24 06:06:56.0)
This is a response from Stefan at Thorlabs. Thank you very much for your feedback . I discussed your inquiry with the responsible engineer and we will implement these information about the distances in future software versions. These distances are not the same for all devices. So far we can provide the distances for your specific M2MS Set when knowing which beam profiler model you are using and the serial number of the M2MS Kit. I will contact you directly to discuss this in more detail.
amanda  (posted 2015-07-01 15:16:20.09)
This product would be more useful if the manual was easier to read. For example, you should not have "unpack your box and check to make sure everything is there" on the 80th page. It should be in the front. The manual is hard to understand and frequently jumps around (is not easy to track). There needs to be a more sequential ordering to the pages. Additionally, some of the product information described on the website should also be included in the manual so that the reader does not have to keep running over to the computer, then back to the manual. Other than that, seems like a cool piece of equipment.
shallwig  (posted 2015-07-03 03:04:50.0)
This is a response from Stefan at Thorlabs. Thank you very much for your feedback, we are always thankful for any suggestions to make our documentations better understandable and more clear. Currently we are working on a new manual and this is supposed to be more clear in its texture. I will contact you directly to check which information from the Web you are missing in the manual and to discuss if there are any further questions I can help with.

M2測定システム

M2MS Configurator

Please build your system below:



1. Beam Profiler
This M2 Meter can be configured with either a scanning slit or camera beam profiler optimized for UV, visible, or IR wavelengths. The choice of beam profiler will also determine if your system will follow metric or imperial thread standards. Alternatively, you may choose to configure the system without a beam profiler.

Please Choose Your Beam Profiler:

2. Mirrors
Along with the beam profiler, the choice of mirrors will set the wavelength range of your configured system.

Please Choose Your Mirrors: