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FiberBench用回転式波長板モジュール


  • Pre-Mounted Achromatic Wave Plates
  • Available with Quarter- or Half-Wave Retardance
  • Air-Spaced Construction

FBR-AH2

FBR-AQ3

Application Idea

Variable Optical Attenuator Constructed Within a FiberBench System (See Application Tab for Details) 

Related Items


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アイコン等について
info icon下記の表内にある青いインフォアイコンをクリックすると、各製品の詳しい仕様のウィンドウを開くことができます。
Common Specifications
Clear ApertureØ4 mm
Beam Deviation<10 arcsec
Transmitted Wavefront Errorλ/8 @ 633 nm
Surface Quality20-10 Scratch-Dig
Rotation360° Continuous

特長

  • FiberBenchシステム用1/4および1/2アクロマティック波長板モジュール
  • 石英およびMgF2を用いた複合プレート設計
  • ハイパワー用のエアスペース型構造
  • ARコーティング付き:400~800 nm、700~1200 nmまたは1100~2000 nm
  • 上面の止めネジ(1.3 mm六角)で回転方向を固定
  • 2°間隔の回転目盛
  • 波長板のスロー軸を筐体前面の刻線で表示
  • 製品についてご質問やご要望がございましたら当社までお問い合わせください。

当社のFiberBenchシステム用1/4および1/2アクロマティック波長板モジュールは、全動作範囲で平坦なリターダンスを有する、石英およびMgF2の結晶を用いた複合プレートです。ARコーティング範囲は、400~800 nm、690~1200 nm、1100~2000 nm、の3種をご用意しています。光軸の高さは14.3 mmで、他のFiberBench部品に対応しています。

リターダは、開口がØ4 mmで360°連続回転する小型回転マウントに取り付けられています。回転セルにはローレット加工されたエッジと全周(360°)に2°単位で刻印された目盛が付いており、精密かつ再現性の高い位置決めと微細な角度調整が可能です。筐体前面の刻線はスロー軸を示しています。上部の止めネジ(1.3 mm六角)でマウントの回転位置を固定します。

波長板はハイパワーのビームに適したエアスペース型で、波面誤差とビーム偏向も最小に抑えられています。ARコーティングにより、1部品あたりの挿入損失はわずか0.1 dBです。波長板モジュールを取り替えても、挿入損失は変わりません。アクロマティック波長板は平坦なスペクトル応答性を有するので、20 nm を超える帯域幅で偏光を扱う用途に適しています。1/4および1/2波長板モジュールは、偏光コントローラやPMファイバ入射システムなどを構築するためのあらゆるFiberBenchシステムに追加搭載が可能です。

FiberBench Accessories
FiberPortsOptic MountsAlignment ToolsPolarizers
Beamsplitter ModulesMirror ModulesRotating Wave PlatesFiberBenches

可変光学減衰器

連続可変光学減衰器は、下表に記載のFiberBench部品を使用して組み立てられます。FiberPortは、SMまたはPMファイバからのビームをコリメートし、その後このコリメート光は、方解石ビーム分離プリズムを透過することで、直交した2つの直線偏光(P偏光とS偏光)ビームに分離されます。波長板の回転により2つビームの偏光方向を変え、各ビームのP偏光成分とS偏光成分のエネルギを制御します。これにより必要な減衰量を調整することができます。次にビームは、逆に設置した方解石の分離(walk-off)偏光子に入射されて、再結合されるか、さらに分離されます。出力ファイバに結合されるエネルギは、中心軸の信号だけになります。その後中心ビームは、出力PAF FiberPortで集光されてファイバに入射されます。

Item #QtyDescription
PBB-IR-10-L1Calcite Beam Displacer (Left-Handed)
PBB-IR-10-R1Calcite Beam Displacer (Right-Handed)
PAF2-4E2FiberPort, FC/PC & FC/APC, f=4.0 mm, 2.0 - 5.0 µm, Ø1.17 mm Waist
FB-51W1FiberBench
FBR-AH31Rotating Half-Wave Plate
P1-830A-FC-22Single Mode Fiber Patch Cablea
 
 
Zero Attenuation
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出力ビームが1本となるように、RABH波長板を回転させています。つまり入射時と出射時の偏光状態が同じとなります。
Partial Attenuation
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出力ビームが3本となるようにRABH波長板を回転させます。波長板の回転方向によって、3つのビームのそれぞれのエネルギが変わります。中心ビームのエネルギのみが光ファイバに結合されます。減衰量は1~40 dBの任意の値に設定できます。
Full Attenuation
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出力ビームが、中心に対して左右対称形の2本となる(真ん中のビームが消える)ように、RABH波長板を回転させます。この位置では結合効率は最小となり、最大減衰量は40 dBとなります。
Damage Threshold Specifications
Item #Damage Threshold
FBR-AQ15 J/cm2 (532 nm, 10 ns, 10 Hz, Ø0.489 mm)
FBR-AH1
FBR-AQ25 J/cm2 (810 nm, 10 ns, 10 Hz, Ø0.157 mm)
FBR-AH2
FBR-AQ35 J/cm2 (1542 nm, 10 ns, 10 Hz, Ø0.189 mm)
FBR-AH3

当社のFiberBench用波長板の損傷閾値データ

右の仕様は、当社のFiberBench用アクロマティック波長板の測定データです。

 

レーザによる損傷閾値について

このチュートリアルでは、レーザ損傷閾値がどのように測定され、使用する用途に適切な光学素子の決定にその値をどのようにご利用いただけるかを総括しています。お客様のアプリケーションにおいて、光学素子を選択する際、光学素子のレーザによる損傷閾値(Laser Induced Damage Threshold :LIDT)を知ることが重要です。光学素子のLIDTはお客様が使用するレーザの種類に大きく依存します。連続(CW)レーザは、通常、吸収(コーティングまたは基板における)によって発生する熱によって損傷を引き起こします。一方、パルスレーザは熱的損傷が起こる前に、光学素子の格子構造から電子が引き剥がされることによって損傷を受けます。ここで示すガイドラインは、室温で新品の光学素子を前提としています(つまり、スクラッチ&ディグ仕様内、表面の汚染がないなど)。光学素子の表面に塵などの粒子が付くと、低い閾値で損傷を受ける可能性があります。そのため、光学素子の表面をきれいで埃のない状態に保つことをお勧めします。光学素子のクリーニングについては「光学素子クリーニングチュートリアル」をご参照ください。

テスト方法

当社のLIDTテストは、ISO/DIS 11254およびISO 21254に準拠しています。

初めに、低パワー/エネルギのビームを光学素子に入射します。その光学素子の10ヶ所に1回ずつ、設定した時間(CW)またはパルス数(決められたprf)、レーザを照射します。レーザを照射した後、倍率約100倍の顕微鏡を用いた検査で確認し、すべての確認できる損傷を調べます。特定のパワー/エネルギで損傷のあった場所の数を記録します。次に、そのパワー/エネルギを増やすか減らすかして、光学素子にさらに10ヶ所レーザを照射します。このプロセスを損傷が観測されるまで繰返します。損傷閾値は、光学素子が損傷に耐える、損傷が起こらない最大のパワー/エネルギになります。1つのミラーBB1-E02の試験結果は以下のようなヒストグラムになります。

LIDT metallic mirror
上の写真はアルミニウムをコーティングしたミラーでLIDTテストを終えたものです。このテストは、損傷を受ける前のレーザのエネルギは0.43 J/cm2 (1064 nm、10 ns pulse、 10 Hz、Ø1.000 mm)でした。
LIDT BB1-E02
Example Test Data
Fluence# of Tested LocationsLocations with DamageLocations Without Damage
1.50 J/cm210010
1.75 J/cm210010
2.00 J/cm210010
2.25 J/cm21019
3.00 J/cm21019
5.00 J/cm21091

試験結果によれば、ミラーの損傷閾値は 2.00 J/cm2 (532 nm、10 ns pulse、10 Hz、 Ø0.803 mm)でした。尚、汚れや汚染によって光学素子の損傷閾値は大幅に低減されるため、こちらの試験はクリーンな光学素子で行っています。また、特定のロットのコーティングに対してのみ試験を行った結果ではありますが、当社の損傷閾値の仕様は様々な因子を考慮して、実測した値よりも低めに設定されており、全てのコーティングロットに対して適用されています。

CWレーザと長パルスレーザ

光学素子がCWレーザによって損傷を受けるのは、通常バルク材料がレーザのエネルギを吸収することによって引き起こされる溶解、あるいはAR(反射防止)コーティングのダメージによるものです[1]。1 µsを超える長いパルスレーザについてLIDTを論じる時は、CWレーザと同様に扱うことができます。

パルス長が1 nsと1 µs の間のときは、損傷は吸収、もしくは絶縁破壊のどちらかで発生していると考えることができます(CWとパルスのLIDT両方を調べなければなりません)。吸収は光学素子の固有特性によるものか、表面の不均一性によるものかのどちらかによって起こります。従って、LIDTは製造元の仕様以上の表面の質を有する光学素子にのみ有効です。多くの光学素子は、ハイパワーCWレーザで扱うことができる一方、アクロマティック複レンズのような接合レンズやNDフィルタのような高吸収光学素子は低いCWレーザ損傷閾値になる傾向にあります。このような低い損傷閾値は接着剤や金属コーティングにおける吸収や散乱によるものです。

Linear Power Density Scaling

線形パワー密度におけるLIDTに対するパルス長とスポットサイズ。長パルス~CWでは線形パワー密度はスポットサイズにかかわらず一定です。 このグラフの出典は[1]です。

Intensity Distribution

繰返し周波数(prf)の高いパルスレーザは、光学素子に熱的損傷も引き起こします。この場合は吸収や熱拡散率のような因子が深く関係しており、残念ながらprfの高いレーザが熱的影響によって光学素子に損傷を引き起こす場合の信頼性のあるLIDTを求める方法は確立されておりません。prfの大きいビームでは、平均出力およびピークパワーの両方を等しいCW出力と比較する必要があります。また、非常に透過率の高い材料では、prfが上昇してもLIDTの減少は皆無かそれに近くなります。

ある光学素子の固有のCWレーザの損傷閾値を使う場合には、以下のことを知る必要があります。

  1. レーザの波長
  2. ビーム径(1/e2)
  3. ビームのおおよその強度プロファイル(ガウシアン型など)
  4. レーザのパワー密度(トータルパワーをビームの強度が1/e2の範囲の面積で割ったもの)

ビームのパワー密度はW/cmの単位で計算します。この条件下では、出力密度はスポットサイズとは無関係になります。つまり、スポットサイズの変化に合わせてLIDTを計算し直す必要がありません(右グラフ参照)。平均線形パワー密度は、下の計算式で算出できます。

ここでは、ビーム強度プロファイルは一定であると仮定しています。次に、ビームがホットスポット、または他の不均一な強度プロファイルの場合を考慮して、おおよその最大パワー密度を計算する必要があります。ご参考までに、ガウシアンビームのときはビームの強度が1/e2の2倍のパワー密度を有します(右下図参照)。

次に、光学素子のLIDTの仕様の最大パワー密度を比較しましょう。損傷閾値の測定波長が光学素子に使用する波長と異なっている場合には、その損傷閾値は適宜補正が必要です。おおよその目安として参考にできるのは、損傷閾値は波長に対して比例関係であるということです。短い波長で使う場合、損傷閾値は低下します(つまり、1310 nmで10 W/cmのLIDTならば、655 nmでは5 W/cmと見積もります)。

CW Wavelength Scaling

この目安は一般的な傾向ですが、LIDTと波長の関係を定量的に示すものではありません。例えば、CW用途では、損傷はコーティングや基板の吸収によってより大きく変化し、必ずしも一般的な傾向通りとはなりません。上記の傾向はLIDT値の目安として参考にしていただけますが、LIDTの仕様波長と異なる場合には当社までお問い合わせください。パワー密度が光学素子の補正済みLIDTよりも小さい場合、この光学素子は目的の用途にご使用いただけます。

当社のウェブ上の損傷閾値の仕様と我々が行った実際の実験の値の間にはある程度の差があります。これはロット間の違いによって発生する誤差を許容するためです。ご要求に応じて、当社は個別の情報やテスト結果の証明書を発行することもできます。損傷解析は、類似した光学素子を用いて行います(お客様の光学素子には損傷は与えません)。試験の費用や所要時間などの詳細は、当社までお問い合わせください。

パルスレーザ

先に述べたように、通常、パルスレーザはCWレーザとは異なるタイプの損傷を光学素子に引き起こします。パルスレーザは損傷を与えるほど光学素子を加熱しませんが、光学素子から電子をひきはがします。残念ながら、お客様のレーザに対して光学素子のLIDTの仕様を照らし合わせることは非常に困難です。パルスレーザのパルス幅に起因する光学素子の損傷には、複数の形態があります。以下の表中のハイライトされた列は当社の仕様のLIDT値が当てはまるパルス幅に対する概要です。

パルス幅が10-9 sより短いパルスについては、当社の仕様のLIDT値と比較することは困難です。この超短パルスでは、多光子アバランシェ電離などのさまざまなメカニクスが損傷機構の主流になります[2]。対照的に、パルス幅が10-7 sと10-4 sの間のパルスは絶縁破壊、または熱的影響により光学素子の損傷を引き起こすと考えられます。これは、光学素子がお客様の用途に適しているかどうかを決定するために、レーザービームに対してCWとパルス両方による損傷閾値を参照しなくてはならないということです。

Pulse Durationt < 10-9 s10-9 < t < 10-7 s10-7 < t < 10-4 st > 10-4 s
Damage MechanismAvalanche IonizationDielectric BreakdownDielectric Breakdown or ThermalThermal
Relevant Damage SpecificationN/APulsedPulsed and CWCW

お客様のパルスレーザに対してLIDTを比較する際は、以下のことを確認いただくことが重要です。

Energy Density Scaling

エネルギ密度におけるLIDTに対するパルス長&スポットサイズ。短パルスでは、エネルギ密度はスポットサイズにかかわらず一定です。このグラフの出典は[1]です。

  1. レーザの波長
  2. ビームのエネルギ密度(トータルエネルギをビームの強度が1/e2の範囲の面積で割ったもの)
  3. レーザのパルス幅
  4. パルスの繰返周波数(prf)
  5. 実際に使用するビーム径(1/e2 )
  6. ビームのおおよその強度プロファイル(ガウシアン型など)

ビームのエネルギ密度はJ/cm2の単位で計算します。右のグラフは、短パルス光源には、エネルギ密度が適した測定量であることを示しています。この条件下では、エネルギ密度はスポットサイズとは無関係になります。つまり、スポットサイズの変化に合わせてLIDTを計算し直す必要がありません。ここでは、ビーム強度プロファイルは一定であると仮定しています。ここで、ビームがホットスポット、または他の不均一な強度プロファイルの場合を考慮して、おおよその最大パワー密度を計算する必要があります。ご参考までに、ガウシアンビームのときは一般にビームの強度が1/e2のときの2倍のパワー密度を有します。

次に、光学素子のLIDTの仕様と最大エネルギ密度を比較しましょう。損傷閾値の測定波長が光学素子に使用する波長と異なっている場合には、その損傷閾値は適宜補正が必要です[3]。経験則から、損傷閾値は波長に対して以下のような平方根の関係であるということです。短い波長で使う場合、損傷閾値は低下します(例えば、1064 nmで 1 J/cm2のLIDTならば、532 nmでは0.7 J/cm2と計算されます)。

Pulse Wavelength Scaling

 

波長を補正したエネルギ密度を得ました。これを以下のステップで使用します。

ビーム径は損傷閾値を比較する時にも重要です。LIDTがJ/cm2の単位で表される場合、スポットサイズとは無関係になりますが、ビームサイズが大きい場合、LIDTの不一致を引き起こす原因でもある不具合が、より明らかになる傾向があります[4]。ここで示されているデータでは、LIDTの測定には<1 mmのビーム径が用いられています。ビーム径が5 mmよりも大きい場合、前述のようにビームのサイズが大きいほど不具合の影響が大きくなるため、LIDT (J/cm2)はビーム径とは無関係にはなりません。

次に、パルス幅について補正します。パルス幅が長くなるほど、より大きなエネルギに光学素子は耐えることができます。パルス幅が1~100 nsの場合の近似式は以下のようになります。

Pulse Length Scaling

お客様のレーザのパルス幅をもとに、光学素子の補正されたLIDTを計算するのにこの計算式を使います。お客様の最大エネルギ密度が、この補正したエネルギ密度よりも小さい場合、その光学素子はお客様の用途でご使用いただけます。ご注意いただきたい点は、10-9 s と10-7 sの間のパルスにのみこの計算が使えることです。パルス幅が10-7 sと10-4 sの間の場合には、CWのLIDTも調べなければなりません。

当社のウェブ上の損傷閾値の仕様と我々が行った実際の実験の値の間にはある程度の差があります。これはロット間の違いによって発生する誤差を許容するためです。ご要求に応じて、当社では個別のテスト情報やテスト結果の証明書を発行することも可能です。詳細は、当社までお問い合わせください。


[1] R. M. Wood, Optics and Laser Tech. 29, 517 (1997).
[2] Roger M. Wood, Laser-Induced Damage of Optical Materials (Institute of Physics Publishing, Philadelphia, PA, 2003).
[3] C. W. Carr et al., Phys. Rev. Lett. 91, 127402 (2003).
[4] N. Bloembergen, Appl. Opt. 12, 661 (1973).

レーザーシステムが光学素子に損傷を引き起こすかどうか判断するプロセスを説明するために、レーザによって引き起こされる損傷閾値(LIDT)の計算例をいくつかご紹介します。同様の計算を実行したい場合には、右のボタンをクリックしてください。計算ができるスプレッドシートをダウンロードいただけます。ご使用の際には光学素子のLIDTの値と、レーザーシステムの関連パラメータを緑の枠内に入力してください。スプレッドシートでCWならびにパルスの線形パワー密度、ならびにパルスのエネルギ密度を計算できます。これらの値はスケーリング則に基づいて、光学素子のLIDTの調整スケール値を計算するのに用いられます。計算式はガウシアンビームのプロファイルを想定しているため、ほかのビーム形状(均一ビームなど)には補正係数を導入する必要があります。 LIDTのスケーリング則は経験則に基づいていますので、確度は保証されません。なお、光学素子やコーティングに吸収があると、スペクトル領域によってLIDTが著しく低くなる場合があります。LIDTはパルス幅が1ナノ秒(ns)未満の超短パルスには有効ではありません。

Intensity Distribution
ガウシアンビームの最大強度は均一ビームの約2倍です。

CWレーザの例
波長1319 nm、ビーム径(1/e2)10 mm、パワー0.5 Wのガウシアンビームを生成するCWレーザーシステム想定します。このビームの平均線形パワー密度は、全パワーをビーム径で単純に割ると0.5 W/cmとなります。

CW Wavelength Scaling

しかし、ガウシアンビームの最大パワー密度は均一ビームの約2倍です(右のグラフ参照)。従って、システムのより正確な最大線形パワー密度は1 W/cmとなります。

アクロマティック複レンズAC127-030-CのCW LIDTは、1550 nmでテストされて350 W/cmとされています。CWの損傷閾値は通常レーザ光源の波長に直接スケーリングするため、LIDTの調整値は以下のように求められます。

CW Wavelength Scaling

LIDTの調整値は350 W/cm x (1319 nm / 1550 nm) = 298 W/cmと得られ、計算したレーザーシステムのパワー密度よりも大幅に高いため、この複レンズをこの用途に使用しても安全です。

ナノ秒パルスレーザの例:パルス幅が異なる場合のスケーリング
出力が繰返し周波数10 Hz、波長355 nm、エネルギ1 J、パルス幅2 ns、ビーム径(1/e2)1.9 cmのガウシアンビームであるNd:YAGパルスレーザーシステムを想定します。各パルスの平均エネルギ密度は、パルスエネルギをビームの断面積で割って求めます。

Pulse Energy Density

上で説明したように、ガウシアンビームの最大エネルギ密度は平均エネルギ密度の約2倍です。よって、このビームの最大エネルギ密度は約0.7 J/cm2です。

このビームのエネルギ密度を、広帯域誘電体ミラーBB1-E01のLIDT 1 J/cm2、そしてNd:YAGレーザーラインミラーNB1-K08のLIDT 3.5 J/cm2と比較します。LIDTの値は両方とも、波長355 nm、パルス幅10 ns、繰返し周波数10 Hzのレーザで計測しました。従って、より短いパルス幅に対する調整を行う必要があります。 1つ前のタブで説明したようにナノ秒パルスシステムのLIDTは、パルス幅の平方根にスケーリングします:

Pulse Length Scaling

この調整係数により広帯域誘電体ミラーBB1-E01のLIDTは0.45 J/cm2に、Nd:YAGレーザーラインミラーのLIDTは1.6 J/cm2になり、これらをビームの最大エネルギ密度0.7 J/cm2と比較します。広帯域ミラーはレーザによって損傷を受ける可能性があり、より特化されたレーザーラインミラーがこのシステムには適していることが分かります。

ナノ秒パルスレーザの例:波長が異なる場合のスケーリング
波長1064 nm、繰返し周波数2.5 Hz、パルスエネルギ100 mJ、パルス幅10 ns、ビーム径(1/e2)16 mmのレーザ光を、NDフィルタで減衰させるようなパルスレーザーシステムを想定します。これらの数値からガウシアン出力における最大エネルギ密度は0.1 J/cm2になります。Ø25 mm、OD 1.0の反射型NDフィルタ NDUV10Aの損傷閾値は355 nm、10 nsのパルスにおいて0.05 J/cm2で、同様の吸収型フィルタ NE10Aの損傷閾値は532 nm、10 nsのパルスにおいて10 J/cm2です。1つ前のタブで説明したように光学素子のLIDTは、ナノ秒パルス領域では波長の平方根にスケーリングします。

Pulse Wavelength Scaling

スケーリングによりLIDTの調整値は反射型フィルタでは0.08 J/cm2、吸収型フィルタでは14 J/cm2となります。このケースでは吸収型フィルタが光学損傷を防ぐには適した選択肢となります。

マイクロ秒パルスレーザの例
パルス幅1 µs、パルスエネルギ150 µJ、繰返し周波数50 kHzで、結果的にデューティーサイクルが5%になるレーザーシステムについて考えてみます。このシステムはCWとパルスレーザの間の領域にあり、どちらのメカニズムでも光学素子に損傷を招く可能性があります。レーザーシステムの安全な動作のためにはCWとパルス両方のLIDTをレーザーシステムの特性と比較する必要があります。

この比較的長いパルス幅のレーザが、波長980 nm、ビーム径(1/e2)12.7 mmのガウシアンビームであった場合、線形パワー密度は5.9 W/cm、1パルスのエネルギ密度は1.2 x 10-4 J/cm2となります。これをポリマーゼロオーダ1/4波長板WPQ10E-980のLIDTと比較してみます。CW放射に対するLIDTは810 nmで5 W/cm、10 nsパルスのLIDTは810 nmで5 J/cm2です。前述同様、光学素子のCW LIDTはレーザ波長と線形にスケーリングするので、CWの調整値は980 nmで6 W/cmとなります。一方でパルスのLIDTはレーザ波長の平方根とパルス幅の平方根にスケーリングしますので、1 µsパルスの980 nmでの調整値は55 J/cm2です。光学素子のパルスのLIDTはパルスレーザのエネルギ密度よりはるかに大きいので、個々のパルスが波長板を損傷することはありません。しかしレーザの平均線形パワー密度が大きいため、高出力CWビームのように光学素子に熱的損傷を引き起こす可能性があります。


Posted Comments:
guillaume.lepert07  (posted 2014-07-25 13:12:39.193)
The magnet is very strong so the modules have to be handled VERY carefully near other magnetic objects, e.g. the optical table... I nearly broke one. a warning should be included in the package!
jlow  (posted 2014-08-07 04:02:42.0)
Response from Jeremy at Thorlabs: Thank you very much for your feedback. We will look into including this in the future.
user  (posted 2014-05-16 18:54:36.927)
Our lab purchased some waveplates of type RABQ-980. Is the engraved line on the front face indicating the fast or the slow axis of the retarder? I can't seem to find that information anywhere in the documentation or on the website.
myanakas  (posted 2014-05-19 08:58:01.0)
Response from Mike at Thorlabs: Thank you for your feedback. The engraved line on the front face is aligned at the slow axis of the wave plate. We will have our web presentation updated to have this information shortly.
Thorlabs  (posted 2010-10-25 15:48:48.0)
Response from Javier at Thorlabs to jbl: I would recommend using the AHWP05M-1660 waveplate instead of the RABH-1600. It actually consists of the same optic, just mounted in a different package. You can then mount it onto a PRM1Z8 motorized rotation stage. I will contact you directly with more details and links.
jbl  (posted 2010-10-25 14:45:54.0)
Dear Sirs, I need an achromatic waveplate like the RABH-1600, but I need it to be mounted in an automatically controllable rotation stage. This is probably a very common way of using them, so I assume you have a solution for it? /JB

FiberBench用アクロマティック1/4波長板モジュール

Item #FBR-AQ1FBR-AQ2FBR-AQ3
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More Infoinfoinfoinfo
Clear ApertureØ4 mm (Ø0.16")
AR Coating Range400 nm - 800 nm700 nm - 1200 nm1100 nm - 2000 nm
ReflectanceRavg < 0.5% Per SurfaceRavg < 0.5% Per SurfaceRavg < 0.5% Per Surface
Damage Threshold5 J/cm2 (532 nm, 10 ns, 10 Hz, Ø0.489 mm)5 J/cm2 (810 nm, 10 ns, 10 Hz, Ø0.157 mm)5 J/cm2 (1542 nm, 10 ns, 10 Hz, Ø0.189 mm)
Retardance Accuracyλ/59λ/188λ/236
Transmitted Wavefront Errorλ/8 @ 633 nmλ/8 @ 633 nmλ/8 @ 633 nm
+1 数量 資料 型番 - ユニバーサル規格 定価(税抜) 出荷予定日
FBR-AQ1 Support Documentation
FBR-AQ1Achromatic Quarter-Wave Plate Module for FiberBench, 400 - 800 nm
¥43,046
Today
FBR-AQ2 Support Documentation
FBR-AQ2Achromatic Quarter-Wave Plate Module for FiberBench, 700 - 1200 nm
¥43,046
Today
FBR-AQ3 Support Documentation
FBR-AQ3Achromatic Quarter-Wave Plate Module for FiberBench, 1100 - 2000 nm
¥43,046
Today

FiberBench用アクロマティック1/2波長板モジュール

Item #FBR-AH1FBR-AH2FBR-AH3
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More Infoinfoinfoinfo
Clear ApertureØ4 mm (Ø0.16")
AR Coating Range400 nm - 800 nm700 nm - 1200 nm1100 nm - 2000 nm
ReflectanceRavg < 0.5% Per SurfaceRavg < 0.5% Per SurfaceRavg < 0.5% Per Surface
Damage Threshold5 J/cm2 (532 nm, 10 ns, 10 Hz, Ø0.489 mm)5 J/cm2 (810 nm, 10 ns, 10 Hz, Ø0.157 mm)5 J/cm2 (1542 nm, 10 ns, 10 Hz, Ø0.189 mm)
Retardance Accuracyλ/40λ/55λ/71
Transmitted Wavefront Errorλ/8 @ 633 nmλ/8 @ 633 nmλ/8 @ 633 nm
+1 数量 資料 型番 - ユニバーサル規格 定価(税抜) 出荷予定日
FBR-AH1 Support Documentation
FBR-AH1Achromatic Half-Wave Plate Module for FiberBench, 400 - 800 nm
¥43,046
3-5 Days
FBR-AH2 Support Documentation
FBR-AH2Achromatic Half-Wave Plate Module for FiberBench, 700 - 1200 nm
¥43,046
Today
FBR-AH3 Support Documentation
FBR-AH3Achromatic Half-Wave Plate Module for FiberBench, 1100 - 2000 nm
¥43,046
Today
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