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可搬型コネクター端面形状測定器![]()
CC6000 Pass/Fail Limit Regions Streamline Production Line Integration 3D View Provides Intuitive Understanding of Geometry ![]() Please Wait ![]() Click to Enlarge こちらの可搬型測定器は運搬用ハンドル付きで、製造現場だけでなく、フィールド向けに設計されています。 ![]() Click to Enlarge 付属のソフトウェアのライブビューにより、リアルタイムで焦点を調整して最大コントラストを得ることができるため、正確で短時間の測定が確実に行えます。
特長
当社のVytran® Connect-Chek™測定器は、あらゆるPCまたはAPC単心コネクタ付きの曲率半径、研磨頂点からのオフセット、ファイバのアンダーカットあるいは突きだし量を自動かつ高い精度で測定します。CC6000は、非接触でのTilted-Phase-Analysis技術を使用して、高速で信頼性の高いコネクタ端面の測定を行います。このコンパクトな測定器には運搬用のハンドルが付いています。動作には標準的なUSB 2.0ポート付きのPC(付属しておりません)に接続する必要があります。CC6000に付属のソフトウェアは、測定器の制御に使用しますが、下表の要件を満たすPCにインストールが可能です。この測定器は、工場やフィールドの両方で使用できる設計で、ファイバーコネクタの長期的な性能を保証するのに重要な情報を取得します。CC6000には、Ø2.50 mm PCコネクタ用マウントCC250P、マウントCC250Pの校正用リファレンスツールRT250Pが1つずつ付属します。ほかのPCまたはAPC単心コネク用のマウントやリファレンスツールも別途ご用意しております(下記参照)。APCコネクタに適切なマウントを使用すれば、CC6000でAPC角度やキーエラーの測定を実施することも可能です。 ソフトウェアインターフェイス Tilted Phase Analysis ![]() Click to Enlarge 研磨頂点のオフセットを示した図 ![]() Click for Details 曲率半径と球面基準のファイバ高さを示した図 単心測定干渉計によりコネクタ上に円形の干渉縞パターンが生成され、表面形状を可視化できます。各縞は、隣り合う縞より1/2波長分上か下にあり、表面の高低差を示しています。各測定値の定義ならびに測定方法は下記でご覧いただけます。インターフェログラムの読み方について詳細は「インターフェログラム」タブをご覧ください。 曲率半径 球面の曲率半径は、干渉計が生成する円形の干渉縞パターンの直径ならびに間隔と相関関係があります。 球面基準のファイバ高さ コネクタが軸から若干ずれている場合、ファイバとフェルールの界面での円形の干渉縞パターンの変化が、ファイバの突き出しあるいはアンダーカットがあること示します。これらの変化はファイバ高さの変化に比例するため、CC6000ソフトウェアはこの情報を活用して独自のアルゴリズムで球面のファイバ高さを測定することができます。 研磨頂点のオフセット 従来の干渉計のようにコネクタが光路に対して垂直にある場合では、研磨頂点からのオフセットは、ファイバの中心から研磨の1番高い位置までの距離です。CC6000では、コネクタがプリセット状態のチルト位置にある場合においても、研磨頂点からのオフセットを計算することができます。ファイバの中心はフェルールの回転中心のため、コネクタを回転させてもオフセットの測定に変動はありません。コネクタが光路に対してあるチルト位置に保持されている場合、研磨頂点からのオフセットは、回転中心から研磨の1番高い位置までの距離です。 ポータブル測定器CC6000には、USB 2.0ポート付きWindows® 7、8、10にインストールして動作させる測定ソフトウェアが付属しています。このソフトウェアは、メニューやタブのナビゲーションにより直感的に操作できるような構造となっており、重要なツールが最前面に配置されています。測定はわずか1秒で実施可能で、生産ラインで効率的に使用できるよう測定値の上に合否(Pass、Fail)が表示されます。またより詳細な検査を実施する場合には、3Dビューに切り替え、Scaleモードで結果を表示させることにより、合否の指標を見ることができます。管理者レベルのユーザは、校正機能やプログラム設定を含むほぼすべてのソフトウェア機能を管理できます。オペレーターレベルのユーザは、Load Settingsボタンをクリックすることでプリセットされた設定をアップロードできます。初期設定として、データはあらゆローカルディレクトリまたはネットワーク上のExcelファイルに保存できます。またSQLデータベースにも保存されます。 保存された各コネクタの測定値は、ソフトウェア内で選択し、カスタムレポート用に出力することができます。CC6000ソフトウェアの主な機能のいくつかは下記のスクリーンショットでご覧いただけます。 ソフトウェアの機能![]() Click to Enlarge ライブビュー ライブビュータブでは、CC6000の光源によって生成されたインターフェログラムに加え、主な測定領域、ファイバ中心、研磨頂点がご覧いただけます。このタブは測定前の干渉計の焦点調整に使用します。 ![]() Click to Enlarge 3Dビュー 3Dビュータブでは、コネクターパラメータの測定を基にソフトウェアによって算出されたコネクタ端面の3Dモデルが表示されます。この3Dビューは回転やズームインが可能で、コネクタ端面画像のインタラクティブかつ直感的な操作が可能です。 ![]() Click to Enlarge 測定領域の制御 測定プロセスは上で示すような測定領域の設定など、カスタマイズが可能です。 ![]() Click to Enlarge 結果タブ、Valueモード(APCコネクタ) 数値の表示により結果が素早く読み取れます。合格の数値は緑色、不合格の数値は赤色で表示されます。 ![]() Click to Enlarge 結果タブ、Scaleモード(APCコネクタ) スケール表示では合否リミット値に対する結果が素早く視覚で判断できます。また、一連の測定値傾向を見て、不合格のコネクタが出ないよう製造プロセスを調整することも可能です。 ![]() Click to Enlarge レポート作成ウィンドウ 出力したレポートを会社情報、ロゴ、オペレーターのIDを付けてカスタマイズが可能です。出力する走査範囲は、コネクタID、オペレータID、日付など様々なフィールドを入力することにより選択が可能です。 ![]() Click to Enlarge サンプルレポート 出力したレポートには、コネクタの3D画像、主な測定パラメータ、ユーザが選択したさまざま情報が含まれます。 前面&背面パネル![]() Click to Enlarge 前面パネル ![]() Click to Enlarge 背面パネル
図1:左は適切に研磨されている場合のフェルールの横断面図です。右はこのファイバが生成するインターフェログラムです。これらの画像ではファイバ端面が緑色で記されています。干渉縞がファイバ端面においても途切れていないことを示しています。 光ファイバのインターフェログラムの読み方測定用の干渉計では、光源からの光が基準面および測定される試料の表面に分離されます。参照アーム(基準面側光路)と試料アーム(試料側光路)のビームを再度合わせることにより、干渉パターンが生成され、フィジカルコンタクトしていない状態のファイバの先端の完成度を検査することが可能です。 研磨が完全に行われた場合、ファイバはフェルール先端の高さ、曲率そして角度に一致します。不完全な箇所がない場合、ファイバの端面はフェルール表面とシームレスに合致します。こちらのインターフェログラムでは、強め合う干渉と弱め合う干渉が交互に現れます(図1)。ファイバ端の位置は、ファイバの図面で緑色に記され、インターフェログラムでは緑色の円で記されています。なお、ファイバがフェルールに対して完全な中心位置にないことにご留意ください。ファイバの中心と研磨の頂点の間には小さなズレがあります。ファイバが中心からずれていることで、より多くの縞に関わるため、インターフェログラムでの干渉がより分かりやすくご覧いただけます。 理想的な研磨から差がある場合、インターフェログラムの緑色の円内で歪みを見ることができます。ファイバ端がフェルール表面より突出している場合、インターフェログラムでは、図2のような歪みを生じます。また、ファイバ端面がアンダーカットの場合、図3のような歪みを示します(図3)。アンダーカットのファイバでは埃がたまる可能性があり、埃は光を吸収または散乱させるため、インターフェログラム内にスポット現れる場合があります(図4)。研磨の工程でファイバ端が粉砕しギザギザになった場合、インターフェログラムは非常に異常なパターンを示します(図5)。 図2:左はフェルールの横断面の図で、研磨されたファイバはフェルールから突出しています。右はこのファイバが生成するインターフェログラムです。これらの画像ではファイバ端面が緑色で記されています。ファイバ端面部の縞が歪んでいることを示しています。 図3:左はフェルールの横断面の図で、ファイバはアンダーカットの状態です。右はこのファイバが生成するインターフェログラムです。これらの画像ではファイバ端面が緑色で記されています。ファイバ端面部の縞の曲率が変化しており、歪んでいることを示してます。 図5:左はフェルールの横断面で突出し、かつ粉砕したファイバの図です。右はこのファイバが生成するインターフェログラムです。これらの画像ではファイバ端面が緑色で記されています。ギザギザの面1つ1つが影響を及ぼします。反射面が複数あるとインターフェログラムでは縞が周囲と一致しないパターンを示します。 図4:左はフェルールの横断面でアンダーカットのファイバの窪みに埃が溜まっている図です。右はこのファイバが生成するインターフェログラムです。これらの画像ではファイバ端面が緑色で記されています。埃が光を吸収あるいは散乱していることによりファイバ端面部に明暗の点が表れています。
![]() 製品構成
オプション品
*動作にはUSB 2.0ポート付きのPCが必要です(付属していません)。システム要件については「概要」タブをご覧ください。
可搬型測定器CC6000は、コネクタ端面形状を非接触で解析するコンパクトなユニットです。右に記載されている構成品すべてと共に発送いたしますので、「概要」タブに記載されているシステム要件を満たすパソコンに接続後(付属しておりません)、すぐに2.5 mm PCコネクタの測定が実施可能です。様々な種類のコネクタを測定する場合、別途固定用V溝マウントと、購入するマウントに対応する校正用のリファレンスツールの購入が必要です(下表をご覧ください)。CC6000は、すべてのコネクタの曲率半径、研磨頂点のオフセット、ファイバ高さを測定します。APCコネクタについては、CC6000によりAPCの角度とキーエラーを測定することも可能です。 CC6000は、製造またはフィールド現場において正確な測定が実施できるよう設計されています。当社の固定用V溝マウント(下記参照)では、校正や測定の際に、正確かつ再現性高くコネクタを配置できるため、高精度のオフセット測定が実施できます。システムは最大限の安定性を得られるよう最適化されているため、マウントを取り外して交換する以外に再校正の必要はありません。可動部品がなく、光学部品の露出が制限されて環境に汚染されることもないため、焦点の再調整の必要性も減少します。 ![]()
下記の固定V溝マウントを可搬型測定器CC6000に付属するØ2.5 mm PCマウントと交換することで、様々なコネクタの検査が可能となります。マウントを挿入する際、マウントに対応するリファレンスツール(別売り、下記参照)を用いた校正が必要です。校正後は、そのマウントを使用したコネクタはすべて、確度の高い測定が行えます。 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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