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サファイアウィンドウ


  • Uncoated Windows for 150 nm - 4.5 µm
  • AR-Coated Windows for 1.65 µm - 3.0 µm or 2.0 µm - 5.0 µm
  • Ø1/2" and Ø1" Sizes Available

WG31050

Uncoated

WG30530

Uncoated

WG31050-D

Coated for 1.65 - 3 µm

WG30530-D

Coated for
1.65 - 3 µm

WG31050-E1

Coated for 2 - 5 µm

Related Items


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Flat Window Selection Guide
Wavelength RangeSubstrate Material
150 nm - 5.0 μmSapphire
180 nm - 8.0 μmCalcium Fluoride (CaF2)
185 nm - 2.1 μmUV Fused Silica
200 nm - 6.0 μmMagnesium Fluoride (MgF2)
250 nm - 1.6 µmUV Fused Silica, for 45° AOI
300 nm - 3 µmInfrasil®
350 nm - 2.0 μmN-BK7
600 nm - 16 µmZinc Selenide (ZnSe)
1.2 - 8.0 μmSilicon (Si)
2.0 - 16 μmGermanium (Ge)
3 - 5 μmBarium Fluoride (BaF2)
V-Coated Laser Windows
Zemaxファイル
下の型番横の赤いアイコン(資料)をクリックするとZemaxファイルをダウンロードいただけます。また、こちらからは当社の全てのZemaxファイルの一括ダウンロードが可能です。
Optic Cleaning Tutorial  Optical Coatings Guide

特長

  • Ø12.7 mm(Ø1/2インチ)とØ25.4 mm(Ø1インチ)の2タイプをご用意
  • コーティング無しバージョンの波長範囲:150 nm~4.5 µm
  • 両面に1.65 µm~3.0 µmまたは2.0 µm~5.0 µmのARコーティングが施されたバージョンもご提供
  • 広い温度範囲にわたって安定した性能

当社のサファイア高精度ウィンドウは、直径12.7 mm(1/2インチ)と25.4 mm(1インチ)でご用意しております。コーティング無しのタイプは、150 nm~4.5 μmの範囲での用途向け、両面にARコーティングが付いたタイプは、1.65 µm~3.0 µm(型番に-Dが付く製品)または2.0 µm~5.0 µm(型番に-E1が付く製品)の範囲での用途向けです。透過波長特性などの性能グラフは下でご覧いただけます。各ウィンドウは識別しやすいように型番が刻印されています。

コーティング無しのサファイアは表面硬度が非常に高く、透過範囲はUV域~中赤外(MIR)域におよびます。サファイアは、サファイア以外の材料により傷がつくことはほとんどありません。コーティング無しのサファイアは、化学的に不活性で、水や一般的な酸、アルカリに対して不溶性で、約1,000°Cまでの温度に耐えられます。当社のサファイアウィンドウは、結晶のc軸が光軸に対して平行になるようにカットされています。

当社では、レーザや産業機器など幅広い用途でお使いいただけるさまざまな基板の高精度ウィンドウを取り揃えています。当社のすべての高精度ウィンドウは右表からご覧いただけます。また一般的なレーザ波長用にARコーティングしたレーザーウィンドウや、p偏光の反射を除去するブリュースターウィンドウもご用意しております。

Transmission of Uncoated Sapphire
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生データはこちらをご覧ください
このグラフは、コーティング無しサファイアウィンドウの垂直入射時の透過率の測定値です。
 
AR-Coated Sapphire Transmission
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このグラフは、厚さ5 mmのARコーティング付きサファイアウィンドウの垂直入射時の全透過率の測定値です。青い領域は仕様のARコーティング範囲1.65~3.00 µmを示しています。ARコーティング中の水分子により、2.7 µm近くに吸収があります。このコーティングが選ばれたのは、有害物質を使用しておらず、また、スペクトル性能を低下させる恐れがないためです。
AR-Coated Sapphire Reflectance
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このグラフは、厚さ5 mmのARコーティング付きサファイアウィンドウの垂直入射時の反射率(1面あたり)の測定値です。青い領域の波長範囲1.65 µm~3.0 µmにおける平均反射率は、1面あたり1.0%未満です。
 
AR-Coated Sapphire Transmission
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生データはこちらをご覧ください
このグラフは、厚さ5 mmのARコーティング付きサファイアウィンドウの垂直入射時の全透過率の測定値です。青い領域は仕様のARコーティング範囲2.0 µm~5.0 µmを示しています。ARコーティング中の水分子により、2.7 µm近くに吸収があります。このコーティングが選ばれたのは、有害物質を使用しておらず、また、スペクトル性能を低下させる恐れがないためです。
AR-Coated Sapphire Reflectance
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生データはこちらをご覧ください
このグラフは、厚さ5 mmのARコーティング付きサファイアウィンドウの垂直入射時の反射率(1面あたり)の測定値です。青い領域の波長範囲2.0 µm~5.0 µmにおける平均反射率は、1面あたり1.0%未満です。
Damage Threshold Specifications
Item #Damage Threshold
WG30530-D
WG31530-D
2.00 J/cm2 (2050 nm, 62.5 Hz, 10 ns, Ø339 µm)
WG30530-E1
WG31050-E1
200 J/cm2 (2940 nm, 200 µs, 2 Hz, Ø0.102 mm)

当社のサファイアウィンドウの損傷閾値データ

右の仕様は当社のコーティング付きサファイアウィンドウの測定値です。損傷閾値の仕様はウィンドウのサイズにかかわらずすべてのサファイアウィンドウで同じです。

 

レーザによる損傷閾値について

このチュートリアルでは、レーザ損傷閾値がどのように測定され、使用する用途に適切な光学素子の決定にその値をどのようにご利用いただけるかを総括しています。お客様のアプリケーションにおいて、光学素子を選択する際、光学素子のレーザによる損傷閾値(Laser Induced Damage Threshold :LIDT)を知ることが重要です。光学素子のLIDTはお客様が使用するレーザの種類に大きく依存します。連続(CW)レーザは、通常、吸収(コーティングまたは基板における)によって発生する熱によって損傷を引き起こします。一方、パルスレーザは熱的損傷が起こる前に、光学素子の格子構造から電子が引き剥がされることによって損傷を受けます。ここで示すガイドラインは、室温で新品の光学素子を前提としています(つまり、スクラッチ&ディグ仕様内、表面の汚染がないなど)。光学素子の表面に塵などの粒子が付くと、低い閾値で損傷を受ける可能性があります。そのため、光学素子の表面をきれいで埃のない状態に保つことをお勧めします。光学素子のクリーニングについては「光学素子クリーニングチュートリアル」をご参照ください。

テスト方法

当社のLIDTテストは、ISO/DIS 11254およびISO 21254に準拠しています。

初めに、低パワー/エネルギのビームを光学素子に入射します。その光学素子の10ヶ所に1回ずつ、設定した時間(CW)またはパルス数(決められたprf)、レーザを照射します。レーザを照射した後、倍率約100倍の顕微鏡を用いた検査で確認し、すべての確認できる損傷を調べます。特定のパワー/エネルギで損傷のあった場所の数を記録します。次に、そのパワー/エネルギを増やすか減らすかして、光学素子にさらに10ヶ所レーザを照射します。このプロセスを損傷が観測されるまで繰返します。損傷閾値は、光学素子が損傷に耐える、損傷が起こらない最大のパワー/エネルギになります。1つのミラーBB1-E02の試験結果は以下のようなヒストグラムになります。

LIDT metallic mirror
上の写真はアルミニウムをコーティングしたミラーでLIDTテストを終えたものです。このテストは、損傷を受ける前のレーザのエネルギは0.43 J/cm2 (1064 nm、10 ns pulse、 10 Hz、Ø1.000 mm)でした。
LIDT BB1-E02
Example Test Data
Fluence# of Tested LocationsLocations with DamageLocations Without Damage
1.50 J/cm210010
1.75 J/cm210010
2.00 J/cm210010
2.25 J/cm21019
3.00 J/cm21019
5.00 J/cm21091

試験結果によれば、ミラーの損傷閾値は 2.00 J/cm2 (532 nm、10 ns pulse、10 Hz、 Ø0.803 mm)でした。尚、汚れや汚染によって光学素子の損傷閾値は大幅に低減されるため、こちらの試験はクリーンな光学素子で行っています。また、特定のロットのコーティングに対してのみ試験を行った結果ではありますが、当社の損傷閾値の仕様は様々な因子を考慮して、実測した値よりも低めに設定されており、全てのコーティングロットに対して適用されています。

CWレーザと長パルスレーザ

光学素子がCWレーザによって損傷を受けるのは、通常バルク材料がレーザのエネルギを吸収することによって引き起こされる溶解、あるいはAR(反射防止)コーティングのダメージによるものです[1]。1 µsを超える長いパルスレーザについてLIDTを論じる時は、CWレーザと同様に扱うことができます。

パルス長が1 nsと1 µs の間のときは、損傷は吸収、もしくは絶縁破壊のどちらかで発生していると考えることができます(CWとパルスのLIDT両方を調べなければなりません)。吸収は光学素子の固有特性によるものか、表面の不均一性によるものかのどちらかによって起こります。従って、LIDTは製造元の仕様以上の表面の質を有する光学素子にのみ有効です。多くの光学素子は、ハイパワーCWレーザで扱うことができる一方、アクロマティック複レンズのような接合レンズやNDフィルタのような高吸収光学素子は低いCWレーザ損傷閾値になる傾向にあります。このような低い損傷閾値は接着剤や金属コーティングにおける吸収や散乱によるものです。

Linear Power Density Scaling

線形パワー密度におけるLIDTに対するパルス長とスポットサイズ。長パルス~CWでは線形パワー密度はスポットサイズにかかわらず一定です。 このグラフの出典は[1]です。

Intensity Distribution

繰返し周波数(prf)の高いパルスレーザは、光学素子に熱的損傷も引き起こします。この場合は吸収や熱拡散率のような因子が深く関係しており、残念ながらprfの高いレーザが熱的影響によって光学素子に損傷を引き起こす場合の信頼性のあるLIDTを求める方法は確立されておりません。prfの大きいビームでは、平均出力およびピークパワーの両方を等しいCW出力と比較する必要があります。また、非常に透過率の高い材料では、prfが上昇してもLIDTの減少は皆無かそれに近くなります。

ある光学素子の固有のCWレーザの損傷閾値を使う場合には、以下のことを知る必要があります。

  1. レーザの波長
  2. ビーム径(1/e2)
  3. ビームのおおよその強度プロファイル(ガウシアン型など)
  4. レーザのパワー密度(トータルパワーをビームの強度が1/e2の範囲の面積で割ったもの)

ビームのパワー密度はW/cmの単位で計算します。この条件下では、出力密度はスポットサイズとは無関係になります。つまり、スポットサイズの変化に合わせてLIDTを計算し直す必要がありません(右グラフ参照)。平均線形パワー密度は、下の計算式で算出できます。

ここでは、ビーム強度プロファイルは一定であると仮定しています。次に、ビームがホットスポット、または他の不均一な強度プロファイルの場合を考慮して、おおよその最大パワー密度を計算する必要があります。ご参考までに、ガウシアンビームのときはビームの強度が1/e2の2倍のパワー密度を有します(右下図参照)。

次に、光学素子のLIDTの仕様の最大パワー密度を比較しましょう。損傷閾値の測定波長が光学素子に使用する波長と異なっている場合には、その損傷閾値は適宜補正が必要です。おおよその目安として参考にできるのは、損傷閾値は波長に対して比例関係であるということです。短い波長で使う場合、損傷閾値は低下します(つまり、1310 nmで10 W/cmのLIDTならば、655 nmでは5 W/cmと見積もります)。

CW Wavelength Scaling

この目安は一般的な傾向ですが、LIDTと波長の関係を定量的に示すものではありません。例えば、CW用途では、損傷はコーティングや基板の吸収によってより大きく変化し、必ずしも一般的な傾向通りとはなりません。上記の傾向はLIDT値の目安として参考にしていただけますが、LIDTの仕様波長と異なる場合には当社までお問い合わせください。パワー密度が光学素子の補正済みLIDTよりも小さい場合、この光学素子は目的の用途にご使用いただけます。

当社のウェブ上の損傷閾値の仕様と我々が行った実際の実験の値の間にはある程度の差があります。これはロット間の違いによって発生する誤差を許容するためです。ご要求に応じて、当社は個別の情報やテスト結果の証明書を発行することもできます。損傷解析は、類似した光学素子を用いて行います(お客様の光学素子には損傷は与えません)。試験の費用や所要時間などの詳細は、当社までお問い合わせください。

パルスレーザ

先に述べたように、通常、パルスレーザはCWレーザとは異なるタイプの損傷を光学素子に引き起こします。パルスレーザは損傷を与えるほど光学素子を加熱しませんが、光学素子から電子をひきはがします。残念ながら、お客様のレーザに対して光学素子のLIDTの仕様を照らし合わせることは非常に困難です。パルスレーザのパルス幅に起因する光学素子の損傷には、複数の形態があります。以下の表中のハイライトされた列は当社の仕様のLIDT値が当てはまるパルス幅に対する概要です。

パルス幅が10-9 sより短いパルスについては、当社の仕様のLIDT値と比較することは困難です。この超短パルスでは、多光子アバランシェ電離などのさまざまなメカニクスが損傷機構の主流になります[2]。対照的に、パルス幅が10-7 sと10-4 sの間のパルスは絶縁破壊、または熱的影響により光学素子の損傷を引き起こすと考えられます。これは、光学素子がお客様の用途に適しているかどうかを決定するために、レーザービームに対してCWとパルス両方による損傷閾値を参照しなくてはならないということです。

Pulse Durationt < 10-9 s10-9 < t < 10-7 s10-7 < t < 10-4 st > 10-4 s
Damage MechanismAvalanche IonizationDielectric BreakdownDielectric Breakdown or ThermalThermal
Relevant Damage SpecificationN/APulsedPulsed and CWCW

お客様のパルスレーザに対してLIDTを比較する際は、以下のことを確認いただくことが重要です。

Energy Density Scaling

エネルギ密度におけるLIDTに対するパルス長&スポットサイズ。短パルスでは、エネルギ密度はスポットサイズにかかわらず一定です。このグラフの出典は[1]です。

  1. レーザの波長
  2. ビームのエネルギ密度(トータルエネルギをビームの強度が1/e2の範囲の面積で割ったもの)
  3. レーザのパルス幅
  4. パルスの繰返周波数(prf)
  5. 実際に使用するビーム径(1/e2 )
  6. ビームのおおよその強度プロファイル(ガウシアン型など)

ビームのエネルギ密度はJ/cm2の単位で計算します。右のグラフは、短パルス光源には、エネルギ密度が適した測定量であることを示しています。この条件下では、エネルギ密度はスポットサイズとは無関係になります。つまり、スポットサイズの変化に合わせてLIDTを計算し直す必要がありません。ここでは、ビーム強度プロファイルは一定であると仮定しています。ここで、ビームがホットスポット、または他の不均一な強度プロファイルの場合を考慮して、おおよその最大パワー密度を計算する必要があります。ご参考までに、ガウシアンビームのときは一般にビームの強度が1/e2のときの2倍のパワー密度を有します。

次に、光学素子のLIDTの仕様と最大エネルギ密度を比較しましょう。損傷閾値の測定波長が光学素子に使用する波長と異なっている場合には、その損傷閾値は適宜補正が必要です[3]。経験則から、損傷閾値は波長に対して以下のような平方根の関係であるということです。短い波長で使う場合、損傷閾値は低下します(例えば、1064 nmで 1 J/cm2のLIDTならば、532 nmでは0.7 J/cm2と計算されます)。

Pulse Wavelength Scaling

 

波長を補正したエネルギ密度を得ました。これを以下のステップで使用します。

ビーム径は損傷閾値を比較する時にも重要です。LIDTがJ/cm2の単位で表される場合、スポットサイズとは無関係になりますが、ビームサイズが大きい場合、LIDTの不一致を引き起こす原因でもある不具合が、より明らかになる傾向があります[4]。ここで示されているデータでは、LIDTの測定には<1 mmのビーム径が用いられています。ビーム径が5 mmよりも大きい場合、前述のようにビームのサイズが大きいほど不具合の影響が大きくなるため、LIDT (J/cm2)はビーム径とは無関係にはなりません。

次に、パルス幅について補正します。パルス幅が長くなるほど、より大きなエネルギに光学素子は耐えることができます。パルス幅が1~100 nsの場合の近似式は以下のようになります。

Pulse Length Scaling

お客様のレーザのパルス幅をもとに、光学素子の補正されたLIDTを計算するのにこの計算式を使います。お客様の最大エネルギ密度が、この補正したエネルギ密度よりも小さい場合、その光学素子はお客様の用途でご使用いただけます。ご注意いただきたい点は、10-9 s と10-7 sの間のパルスにのみこの計算が使えることです。パルス幅が10-7 sと10-4 sの間の場合には、CWのLIDTも調べなければなりません。

当社のウェブ上の損傷閾値の仕様と我々が行った実際の実験の値の間にはある程度の差があります。これはロット間の違いによって発生する誤差を許容するためです。ご要求に応じて、当社では個別のテスト情報やテスト結果の証明書を発行することも可能です。詳細は、当社までお問い合わせください。


[1] R. M. Wood, Optics and Laser Tech. 29, 517 (1997).
[2] Roger M. Wood, Laser-Induced Damage of Optical Materials (Institute of Physics Publishing, Philadelphia, PA, 2003).
[3] C. W. Carr et al., Phys. Rev. Lett. 91, 127402 (2003).
[4] N. Bloembergen, Appl. Opt. 12, 661 (1973).

レーザーシステムが光学素子に損傷を引き起こすかどうか判断するプロセスを説明するために、レーザによって引き起こされる損傷閾値(LIDT)の計算例をいくつかご紹介します。同様の計算を実行したい場合には、右のボタンをクリックしてください。計算ができるスプレッドシートをダウンロードいただけます。ご使用の際には光学素子のLIDTの値と、レーザーシステムの関連パラメータを緑の枠内に入力してください。スプレッドシートでCWならびにパルスの線形パワー密度、ならびにパルスのエネルギ密度を計算できます。これらの値はスケーリング則に基づいて、光学素子のLIDTの調整スケール値を計算するのに用いられます。計算式はガウシアンビームのプロファイルを想定しているため、ほかのビーム形状(均一ビームなど)には補正係数を導入する必要があります。 LIDTのスケーリング則は経験則に基づいていますので、確度は保証されません。なお、光学素子やコーティングに吸収があると、スペクトル領域によってLIDTが著しく低くなる場合があります。LIDTはパルス幅が1ナノ秒(ns)未満の超短パルスには有効ではありません。

Intensity Distribution
ガウシアンビームの最大強度は均一ビームの約2倍です。

CWレーザの例
波長1319 nm、ビーム径(1/e2)10 mm、パワー0.5 Wのガウシアンビームを生成するCWレーザーシステム想定します。このビームの平均線形パワー密度は、全パワーをビーム径で単純に割ると0.5 W/cmとなります。

CW Wavelength Scaling

しかし、ガウシアンビームの最大パワー密度は均一ビームの約2倍です(右のグラフ参照)。従って、システムのより正確な最大線形パワー密度は1 W/cmとなります。

アクロマティック複レンズAC127-030-CのCW LIDTは、1550 nmでテストされて350 W/cmとされています。CWの損傷閾値は通常レーザ光源の波長に直接スケーリングするため、LIDTの調整値は以下のように求められます。

CW Wavelength Scaling

LIDTの調整値は350 W/cm x (1319 nm / 1550 nm) = 298 W/cmと得られ、計算したレーザーシステムのパワー密度よりも大幅に高いため、この複レンズをこの用途に使用しても安全です。

ナノ秒パルスレーザの例:パルス幅が異なる場合のスケーリング
出力が繰返し周波数10 Hz、波長355 nm、エネルギ1 J、パルス幅2 ns、ビーム径(1/e2)1.9 cmのガウシアンビームであるNd:YAGパルスレーザーシステムを想定します。各パルスの平均エネルギ密度は、パルスエネルギをビームの断面積で割って求めます。

Pulse Energy Density

上で説明したように、ガウシアンビームの最大エネルギ密度は平均エネルギ密度の約2倍です。よって、このビームの最大エネルギ密度は約0.7 J/cm2です。

このビームのエネルギ密度を、広帯域誘電体ミラーBB1-E01のLIDT 1 J/cm2、そしてNd:YAGレーザーラインミラーNB1-K08のLIDT 3.5 J/cm2と比較します。LIDTの値は両方とも、波長355 nm、パルス幅10 ns、繰返し周波数10 Hzのレーザで計測しました。従って、より短いパルス幅に対する調整を行う必要があります。 1つ前のタブで説明したようにナノ秒パルスシステムのLIDTは、パルス幅の平方根にスケーリングします:

Pulse Length Scaling

この調整係数により広帯域誘電体ミラーBB1-E01のLIDTは0.45 J/cm2に、Nd:YAGレーザーラインミラーのLIDTは1.6 J/cm2になり、これらをビームの最大エネルギ密度0.7 J/cm2と比較します。広帯域ミラーはレーザによって損傷を受ける可能性があり、より特化されたレーザーラインミラーがこのシステムには適していることが分かります。

ナノ秒パルスレーザの例:波長が異なる場合のスケーリング
波長1064 nm、繰返し周波数2.5 Hz、パルスエネルギ100 mJ、パルス幅10 ns、ビーム径(1/e2)16 mmのレーザ光を、NDフィルタで減衰させるようなパルスレーザーシステムを想定します。これらの数値からガウシアン出力における最大エネルギ密度は0.1 J/cm2になります。Ø25 mm、OD 1.0の反射型NDフィルタ NDUV10Aの損傷閾値は355 nm、10 nsのパルスにおいて0.05 J/cm2で、同様の吸収型フィルタ NE10Aの損傷閾値は532 nm、10 nsのパルスにおいて10 J/cm2です。1つ前のタブで説明したように光学素子のLIDTは、ナノ秒パルス領域では波長の平方根にスケーリングします。

Pulse Wavelength Scaling

スケーリングによりLIDTの調整値は反射型フィルタでは0.08 J/cm2、吸収型フィルタでは14 J/cm2となります。このケースでは吸収型フィルタが光学損傷を防ぐには適した選択肢となります。

マイクロ秒パルスレーザの例
パルス幅1 µs、パルスエネルギ150 µJ、繰返し周波数50 kHzで、結果的にデューティーサイクルが5%になるレーザーシステムについて考えてみます。このシステムはCWとパルスレーザの間の領域にあり、どちらのメカニズムでも光学素子に損傷を招く可能性があります。レーザーシステムの安全な動作のためにはCWとパルス両方のLIDTをレーザーシステムの特性と比較する必要があります。

この比較的長いパルス幅のレーザが、波長980 nm、ビーム径(1/e2)12.7 mmのガウシアンビームであった場合、線形パワー密度は5.9 W/cm、1パルスのエネルギ密度は1.2 x 10-4 J/cm2となります。これをポリマーゼロオーダ1/4波長板WPQ10E-980のLIDTと比較してみます。CW放射に対するLIDTは810 nmで5 W/cm、10 nsパルスのLIDTは810 nmで5 J/cm2です。前述同様、光学素子のCW LIDTはレーザ波長と線形にスケーリングするので、CWの調整値は980 nmで6 W/cmとなります。一方でパルスのLIDTはレーザ波長の平方根とパルス幅の平方根にスケーリングしますので、1 µsパルスの980 nmでの調整値は55 J/cm2です。光学素子のパルスのLIDTはパルスレーザのエネルギ密度よりはるかに大きいので、個々のパルスが波長板を損傷することはありません。しかしレーザの平均線形パワー密度が大きいため、高出力CWビームのように光学素子に熱的損傷を引き起こす可能性があります。


Posted Comments:
user  (posted 2018-10-22 13:19:22.16)
I can't explain the Total Transmission value of the uncoated version : Fresnel mean transmission is 92% per face at 1.55 µm and normal incidence so the total transmission shall be less than 92% x 92% = 85%. How can you achieve 87.5% for total transmission (Fresnel + internal transmission) ?
nbayconich  (posted 2018-11-14 04:18:20.0)
Thank you for contacting Thorlabs. The sapphire transmission curve does feature an artifact from the spectrophotometer used to measure the substrate which does slightly increase the transmission which we can update in the current plot. For substrates that have a higher index of refraction including Sapphire there will be a double bounce effect, meaning that the total transmission can not be accurately calculated by the first surface transmission of 92% multiplied again by 92%. The transmission can only be more accurately calculated by considering multiple passes through the substrate. It is possible to calculate the transmission of substrates that have a lower index of refraction by the above mentioned method. I will reach out to you directly with more information.
j.degallaix  (posted 2018-01-11 08:26:16.377)
Hello there, Would it possible to have the item WG31050 with a thickness of 6 mm (instead of 5mm) ? the quantity needed would be 4. I know sapphire polishing is much more difficult, but would it possible to a have surface figure (both side) slightly better, at lambda/5 for example ? Thanks in advance, Jerome
tfrisch  (posted 2018-03-20 04:56:44.0)
Hello, thank you for contacting Thorlabs. I have forwarded your request to our Tech Support team to quote this custom thickness window.
esa.raikkonen  (posted 2014-11-25 20:08:58.06)
Hi! Does the uncoated sapphire window act as an etalon to the transmitted beam, because it has parallel surfaces? Can you deliver sapphire window with a small wedge?
jlow  (posted 2014-11-25 02:16:52.0)
Response from Jeremy at Thorlabs: Thank you very much for this idea. We are going to start the process to carry this wedge window as a standard item in the near future based on your feedback. We will send you a sample once this is released.
sindler  (posted 2014-09-16 10:51:50.52)
Hello, I would be interested in sapphire windows with 6 mm thickness. Could you please quote quantity 1-5? Thank you for your support! Regards, Michal
jlow  (posted 2014-09-16 10:44:05.0)
Response from Jeremy at Thorlabs: We will contact you directly for the quote.
nmandal  (posted 2014-01-30 13:02:50.25)
We use 633nm linearly polarized laser for low temperature Kerr measurement. In presence of magnetic field of 200G UV-fused silica rotates the laser polarization. I have the same problem with N-KB7. I was wondering if Sapphire window will do the same. I don't want the window to rotate my laser polarization. Please let me know if you need more information.
besembeson  (posted 2014-02-07 04:13:53.0)
Response from Bweh E at Thorlabs: Fused silica has a high Verdet constant, same with N-BK7. What most people typically use as the substrate material for such experiments that are sensitive to polarization rotation due to high magnetic fields is SFL6, which has very low Verdet constant. We can offer a custom window and lens made from SFL6. Another option might be to provide you a window with a negative Verdet constant to match the rotation created by the fused silica. I will send you separate email requesting specifications of current window and lens you have in your setup so that I can contact our Optics Department for a similar SFL6 window and lens with significantly low Verdet constant.
smoise  (posted 2013-05-15 10:34:15.47)
Hello, I would be interested in sapphire windows with 17.6 mm +/-0.05mm OD and 10 mm +/-0.1mm thikness. Could you please quote quantity 1, 10, 50? Thank you for your support! Regards, Stefan
tcohen  (posted 2013-05-15 11:06:00.0)
Response from Tim at Thorlabs to Stefan: Thank you for your inquiry. We will contact you directly with a quote.
tcohen  (posted 2012-08-22 10:09:00.0)
Response from Tim at Thorlabs to Karsten: Thank you for contacting us! We are able to quote our sapphire windows with customized dimensions. I will email you directly to go over your requirements.
karsten.hoehn  (posted 2012-08-20 20:21:50.0)
Hi, are you able to supply your sapphire windows to customized dimensions? Cheers Karsten
user  (posted 2011-12-05 13:21:21.0)
A response from Tyler at Thorlabs: These sapphire windows are z cut. If you need any additional information, please ask.
karthick  (posted 2011-12-04 00:55:04.0)
HI, please let me know if the sapphire window is c cut or z but or random cut (with respect to crystal surface). Thanks Karthick
jjurado  (posted 2011-02-10 17:16:00.0)
Response from Javier at Thorlabs to Veinardi Suendo: Thank you very much for submitting your inquiry. Sapphire is optically transparent from 150 nm up to ~ 5 um, so an uncoated sapphire window will no present any fluorescence effects.
vsuendo  (posted 2011-02-10 12:09:07.0)
Dear Sirs, Would you mind giving us the information about the possibility of the sapphire window to generate fluorescence signal when excited at 405 nm. We would like to use this window for fluorescence measurement using laser at 405 nm, thus we do not want the signal from the window to be appeared. Please provide us the information before we decide to purchase your product. Thank you very much in advance, Yours Sincerely, Veinardi Suendo
Window Selection Guide (Table Sorted by Wavelength)
Substrate and Window TypeWavelength RangeAvailable AR CoatingsReflectance over AR Coating RangeaTransmission DataReflectance Data
Sapphire:
Flat or Wedged
150 nm - 5.0 μmUncoated-
Raw Data
-
 -D Coating, 1.65 - 3.0 µmRavg < 1.0% at 0° AOI
Raw Data

Raw Data
 -E1 Coating, 2.0 - 5.0 µmRavg < 1.50%, Rabs < 3.0% (per Surface, 2.0 - 5.0 µm);
Ravg < 1.75% (per Surface, 2.0 - 4.0 µm) at 0° AOI

Raw Data

Raw Data
Calcium Fluoride (CaF2):
Flat or Wedged
180 nm - 8.0 μm Uncoated-
Raw Data
-
-D Coating, 1.65 - 3.0 µmRavg < 1.0%; Rabs < 2.0% at 0° AOI
Raw Data

Raw Data
UV Fused Silica:
FlatWedgedV-Coated Flat, or
V-Coated Wedged
185 nm - 2.1 μmUncoated
(Flat or Wedged)
-
Raw Data
-
-UV Coating, 245 - 420 nm or 290 - 370 nm (Flat); 245 - 400 nm (Wedged)Ravg < 0.5% at 0° AOI-
Raw Data
-C3 Coating, 261 - 266 nm
(V-Coated)
Ravg < 0.5% at 0° AOI-Click to View Index Plot
Raw Data
-C6 Coating, 350 - 450 nm
(V-Coated)
Ravg < 0.5% at 0° AOI-Click to View Index Plot
Raw Data
 -A Coating, 350 - 700 nm 
(Flat or Wedged)
Ravg < 0.5% at 0° AOI-
Raw Data
 -B Coating, 650 - 1050 nm 
(Flat or Wedged)
Ravg < 0.5% at 0° AOI-
Raw Data
 -C Coating, 1050 - 1700 nm 
(Flat or Wedged)
Ravg < 0.5% at 0° AOI-
Raw Data
Magnesium Fluoride (MgF2):
Flat or Wedged
200 nm - 6.0 μmUncoated-
Raw Data
-
Barium Fluoride (BaF2):
Wedged 
(Flat BaF2 Windows
Available Below)
200 nm - 11 µmUncoated-
Raw Data
-
-E1 Coating, 2 - 5 µm Ravg < 1.25%; Rabs < 2.5%  at 0° AOI
Raw Data
Icon
Raw Data
UV Fused Silica, for 45° AOI:
Flat or Wedged
250 nm - 1.6 µmCoating for 
250 nm - 450 nm
Ravg < 1.0% at 45° AOIinfo
Raw Data
Coating for
350 nm - 1100 nm
Ravg < 2.0% at 45° AOIinfo
Raw Data
Coating for
400 nm - 700 nm
Ravg < 1.0% at 45° AOIinfo
Raw Data
Coating for
600 nm - 1700 nm
Ravg < 1.5% at 45° AOIinfo
Raw Data
Coating for
700 nm - 1100 nm
Ravg < 1.0% at 45° AOIinfo
Raw Data
Coating for
1200 nm - 1600 nm
Ravg < 1.0% at 45° AOIinfo
Raw Data
Infrasil®:
Flat
300 nm - 3 µmUncoated-
Raw Data
 -
N-BK7:
FlatWedgedV-Coated Flat, or
V-Coated Wedged
350 nm - 2.0 μmUncoated
(Flat or Wedged)
-
Raw Data
-
 -A Coating, 350 - 700 nm  
(Flat or Wedged)
Ravg < 0.5% at 0° AOI-
Raw Data
-C7 Coating, 400 - 700 nm
(V-Coated)
Ravg < 0.5% at 0° AOI-Click to View Index Plot
Raw Data
-C10 Coating, 523 - 532 nm (V-Coated)Ravg < 0.5% at 0° AOI-Click to View Index Plot
Raw Data
-C11 Coating, 610 - 860 nm (V-Coated)Ravg < 0.5% at 0° AOI-Click to View Index Plot
Raw Data
-B Coating, 650 - 1050 nm 
(Flat or Wedged)
Ravg < 0.5% at 0° AOI-
Raw Data
-C13 Coating, 700 - 1100 nm (V-Coated)Ravg < 0.5% at 0° AOI-Click to View Index Plot
Raw Data
-C14 Coating, 1047 - 1064 nm (V-Coated)Ravg < 0.5% at 0° AOI-Click to View Index Plot
Raw Data
-C15 Coating, 523 - 532 nm
& 1047 - 1064 nm
(V-Coated) 
Ravg < 0.5% at 0° AOI-Click to View Index Plot
Raw Data
-C Coating, 1050 - 1700 nm 
(Flat or Wedged)
Ravg < 0.5% at 0° AOI-
Raw Data
Zinc Selenide (ZnSe):
Flat or Wedged
600 nm - 16 µmUncoated-
Raw Data
-
-D Coating, 1.65 - 3.0 µmRavg < 1.0%; Rabs < 2.0% at 0° AOI
Raw Data

Raw Data
-E4 Coating, 2 - 13 µm
(Only Flat)
Ravg < 3.5%; Rabs < 6% at 0° AOI
Raw Data

Raw Data
-E2 Coating, 4.5 - 7.5 µm
(Only Flat)
Ravg < 1.0%; Rabs < 2.0% at 0° AOI
Raw Data

Raw Data
-E3 Coating, 7 - 12 µm
(Only Wedged)
Ravg < 1.0%; Rabs < 2.0% at 0° AOI
Raw Data
Icon
Raw Data
-G Coating, 7 - 12 µm
(Only Flat)
Ravg < 1% at 0° AOI
Raw Data

Raw Data
Silicon (Si):
Flat or Wedged
1.2 - 8.0 μmUncoated-
Raw Data
-
 -E1 Coating, 2 - 5 µm
(Only Wedged)
Ravg < 1.25%; Rabs < 2.5% at 0° AOI
Raw Data
Icon
Raw Data
-E Coating, 3 - 5 µm
(Only Flat)
Ravg < 2% at 0° AOI
Raw Data

Raw Data
Germanium (Ge):
Flat or Wedged
2.0 - 16 μmUncoated-
Raw Data
-
-C9 Coating, 1.9 - 6 µm
(Only Flat)
Ravg < 2% at 0° AOI
Raw Data

Raw Data
-G Coating, 7 - 12 µm
(Only Flat)
Ravg < 1% at 0° AOI
Raw Data

Raw Data
-E3 Coating, 7 - 12 µm
(Only Wedged)
Ravg < 1.0%; Rabs < 2.0% at 0° AOI
Raw Data
Icon
Raw Data
Barium Fluoride (BaF2):
Flat 
(Wedged BaF2 Windows Available Above)
3 - 5 μm-E Coating, 3 - 5 µmRavg < 2% at 0° AOI
Raw Data

Raw Data
  • 1面あたりの反射率。各ウィンドウは両面にコーティングが施されています。

サファイアウィンドウ、コーティング無し

Item #WG30530WG31050
Diameter 1/2" (12.7 mm)1" (25.4 mm)
Diameter Tolerance+0.0 / -0.2 mm
Thickness3.0 mm5.0 mm
Thickness Tolerance±0.3 mm
Clear Aperture≥Ø11.43 mm≥Ø22.86 mm
Parallelism≤3 arcmin
Transmitted Wavefront Errora<λ/4 Over Central Ø5 mm
≤λ/2 Over Full Clear Aperture
-
Surface Flatnessaλ Over Clear Aperture
Surface Quality60-40 Scratch-Dig
Wavelength Range150 nm - 4.5 μm (Uncoated)
SubstrateSapphireb
Transmission Data
Raw Data
  • 633 nmで測定。
  • リンクをクリックすると基板の仕様がご覧になれます。
+1 数量 資料 型番 - ユニバーサル規格 定価(税抜) 出荷予定日
WG30530 Support Documentation
WG30530Ø1/2" Sapphire Broadband Precision Window, Uncoated
¥5,767
Today
WG31050 Support Documentation
WG31050Ø1" Sapphire Broadband Precision Window, Uncoated
¥10,761
Today

サファイアウィンドウ、ARコーティング:1.65~3.0 µm

Item #WG30530-DWG31050-D
Diameter 1/2" (12.7 mm)1" (25.4 mm)
Diameter Tolerance+0.0 / -0.2 mm
Thickness3.0 mm5.0 mm
Thickness Tolerance±0.3 mm
Clear Aperture≥Ø11.43 mm≥Ø22.86 mm
Parallelism≤3 arcmin
Surface Flatnessa≤λ/2 Over Central Ø5 mm
≤λ Over Full Clear Aperture
Surface Quality60-40 Scratch-Dig
AR Coating Range1.65 - 3 µm (-D Coating)
Reflectance over AR Coating RangebRavg < 1.0% per Surface; Both Sides are Coated
Reflectance Data
Raw Data
SubstrateSapphirec
Transmission Data
Raw Data
Damage Threshold2.00 J/cm2 (2050 nm, 62.5 Hz, 10 ns, Ø339 µm)
  • 633 nmで測定。
  • 垂直入射における仕様波長範囲での平均反射率。
  • リンクをクリックすると基板の仕様がご覧になれます。
+1 数量 資料 型番 - ユニバーサル規格 定価(税抜) 出荷予定日
WG30530-D Support Documentation
WG30530-DØ1/2" Sapphire Broadband Precision Window, AR Coated: 1.65 µm - 3.0 µm
¥9,355
3-5 Days
WG31050-D Support Documentation
WG31050-DØ1" Sapphire Broadband Precision Window, AR Coated: 1.65 µm - 3.0 µm
¥14,348
Today

サファイアウィンドウ、ARコーティング:2.0~5.0 µm

Item #WG30530-E1WG31050-E1
Diameter 1/2" (12.7 mm)1" (25.4 mm)
Diameter Tolerance+0.0 / -0.2 mm
Thickness3.0 mm5.0 mm
Thickness Tolerance±0.3 mm
Clear Aperture>Ø11.43 mm>Ø22.86 mm
Parallelism<3 arcmin
Transmitted Wavefront Errora≤λ/2 Over Central Ø5 mm
≤λ Over Full Clear Aperture
≤λ/2 Over Central Ø10 mm
≤λ Over Full Clear Aperture
Surface Quality60-40 Scratch-Dig
AR Coating Range2.0 - 5.0 µm (-E1 Coating)
Reflectance over AR Coating RangebRavg < 1.50%, Rabs < 3.0% (per Surface, 2.0 - 5.0 µm)
Ravg < 1.75% (per Surface, 2.0 - 4.0 µm)
Both Sides are Coated
Transmission over AR Coating RangebTavg > 92% (2.0 - 5.0 µm)
Tavg > 94%, Tabs > 92% (2.0 - 4.0 µm)
Reflectance Data
Raw Data
SubstrateSapphirec
Transmission Data
Raw Data
Damage Threshold200 J/cm2 (2940 nm, 200 µs, 2 Hz, Ø0.102 mm)
  • 633 nmで測定。
  • 垂直入射において。
  • リンクをクリックすると基板の仕様がご覧になれます。
+1 数量 資料 型番 - ユニバーサル規格 定価(税抜) 出荷予定日
WG30530-E1 Support Documentation
WG30530-E1Ø1/2" Sapphire Broadband Precision Window, AR Coated: 2.0 µm - 5.0 µm
¥11,501
3-5 Days
WG31050-E1 Support Documentation
WG31050-E1Ø1" Sapphire Broadband Precision Window, AR Coated: 2.0 µm - 5.0 µm
¥17,303
3-5 Days
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